ESCUELA POLITÉCNICA NACIONAL FACULTAD DE INGENIERÍA ELÉCTRICA Y ELECTRÓNICA ESTUDIO E IMPLEMENTACIÓN DE UN SISTEMA OSCILADOR EN EL RANGO DE LAS MICROONDAS CON DIODO GUNN MEDIANTE RESONADOR DE LÍNEA PROYECTO PREVIO A LA OBTENCIÓN DEL TITULO DE INGENIERO EN ELECTRÓNICA Y TELECOMUNICACIONES JORGE EDUARDO SUASNAVAS TIPÁN [email protected] DIRECTOR: ING. MARIO CEVALLOS [email protected] Quito, Octubre 2009 DECLARACIÓN Yo, Jorge Eduardo Suasnavas Tipán, declaro bajo juramento que el trabajo aquí descrito es de mi autoría; que no ha sido previamente presentado para ningún grado o calificación profesional; y, que he consultado las referencias bibliográficas que se incluyen en este documento. A través de la presente declaración cedo mis derechos de propiedad intelectual correspondientes a este trabajo, a la Escuela Politécnica Nacional, según lo establecido por la Ley de Propiedad Intelectual, por su Reglamento y por la normatividad institucional vigente. __________________________ Jorge Eduardo Suasnavas Tipán CERTIFICACIÓN Certifico que el presente trabajo fue desarrollado por Jorge Eduardo Suasnavas Tipán, bajo mi supervisión. _________________________________ Ing. Mario Cevallos AGRADECIMIENTO Les agradezco a mis padres Jorge Eduardo y María Dioselina, por apoyarme durante toda mi educación; a Dios por cada día de vida para seguir adelante. A mi novia Angélica María por ser tan leal, comprometida, por las veces que me daba ánimo y fuerzas para seguir, por ayudarme y aunque a veces a la distancia estaba pendiente de mí. A mis hermanos Fernando Javier y Juan Andrés pues con ellos aprendí, crecí, compartí y gracias a nuestros padres hemos tenido una buena vida. A los amigos y amigas casi hermanos o hermanas con quienes hemos trabajado, discutido y poco a poco se ha logrado iniciar proyectos, compartir más cosas que solo las respectivas a nuestra formación profesional, gracias por todo lo vivido durante la carrera en la Escuela Politécnica Nacional; gracias Sandrita y Jhonny, gracias Jenny y Eduardo, gracias Pao y Andrés, gracias niña Patty, gracias señorita Lore, gracias Nancys, gracias amigo Niko, gracias amigo Juanito, gracias Danny musikito, gracias Christian profeshor, gracias amigo Polo, gracias David botas, gracias Row, gracias Javier hiselo, gracias David ogro, gracias amigo Brither, gracias amigo Paulin, gracias amigo Vallejo, gracias joven Wilson, gracias joven Ricardo, gracias César mono, gracias Lucky, gracias Pancho Chino, gracias don David, gracias don Omar, gracias Diego y Suso; gracias a los compañeros del futbol y todos los que no los nombre pero fueron y son parte de este proyecto. Mis más sinceros agradecimientos al Ingeniero Mario Cevallos por su tiempo, atinada dirección y colaboración para poder cumplir con este proyecto de titulación. A mi tío Braulio Vallejo y Alan Rutz pues sin ellos no hubiera encontrado los Diodos Gunn, al maestro Cristian Ruíz que construyó las cavidades reentrantes. A los jóvenes a cargo de la UME y al Ingeniero Tarquino Sánchez. pues los equipos, herramientas y demás fueron muy importantes para poder realizar este proyecto. A los Ingenieros quienes han apoyado las iniciativas y han puesto su granito de arena en los proyectos de los estudiantes. DEDICATORIA Esta tesis se la dedico a toda mi familia pues gracias a ellos lo he podido conseguir; mis padres Jorge y María, mis hermanos Fernando y Juan, mis abuelos Aída, Carmen, Tobías y Manuel, tíos, tías, primos, primas. A Angélica María. i CONTENIDO CAPÍTULO 1: CONCEPTOS BÁSICOS E INTRODUCCIÓN A LAS MICROONDAS FUENTES DE MICROONDAS CON ELEMENTOS DE ESTADO SÓLIDO. EL DIODO GUNN Y TECNOLOGÍAS PARA CONSTRUCCIÓN DE CIRCUITOS MICROONDAS. 1.1.- INTRODUCCIÓN Y FUENTES DE MICROONDAS CON ELEMENTOS DE ESTADO SÓLIDO 1 1.1.1 INTRODUCCIÓN A MICROONDAS 1 1.1.2 FUENTES DE MICROONDAS CON ELEMENTOS DE ESTADO SÓLIDO: FET, BJT, DIODOS GUNN, DIODOS IMPATT, DIODOS TÚNEL 3 1.1.2.1.- Transistor FET 3 1.1.2.2.- Transistor BJT 4 1.1.2.3.- Diodos GUNN 4 1.1.2.4.- Diodos IMPATT 4 1.1.2.5.- Diodos Túnel 5 1.2.- DIODOS GUNN 5 1.2.1.- DIODO GUNN- DIODOS DE GaAs 5 1.2.2.- EFECTO GUNN 7 1.2.3.- PRINCIPIOS DE OPERACIÓN 10 1.2.3.1.- Teoría del Modelo de Dos Valles 10 1.2.3.2.- Dominios Gunn o de Campo Elevado 17 1.2.4.- CRITERIOS PARA CLASIFICACIÓN DE MODOS DE OPERACIÓN 22 1.2.5.- MODOS DE OPERACIÓN 24 1.2.5.1.- Modo de Oscilación Gunn ( 10 / cm ≤ (no L )〈10 / cm ) 12 2 14 2 25 1.2.5.1.1. Modo de dominio de momento de tránsito (fL ≈ 107cm/s) 27 1.2.5.1.2. Modo dominio retrasado (106cm/s 〈 fL 〈 107cm/s) 28 1.2.5.1.3. Modo de dominio apagado (fL 〉 2*107 cm/s) 28 1.2.5.2.- Modo LSA (fL 〉 2 × 10 7 cm / s ) 29 1.2.5.3.- Modo de Amplificación Estable ( n0 L〈1012 / cm 2 ) 31 1.2.5.4.- Modo de Oscilación de circuito con polarización 33 ii 1.3.- TECNOLOGÍAS PARA CONSTRUCCIÓN DE CIRCUITOS MICROONDAS 33 1.3.1 GUÍA COAXIAL 35 1.3.2 CIRCUITOS MICROONDAS STRIP-LINE 37 1.3.3.- CIRCUITOS MICROONDAS MICROSTRIP-LINE 39 1.3.3.1 Discontinuidades en líneas microstrip 46 1.3.3 RESONADORES POR CAVIDADES RE-ENTRANTES 47 1.3.4 GUÍAS DE ONDA 51 1.3.4.1 Ventajas de las Guías de Onda 52 1.3.4.2 Desventajas de Guía de Onda 54 1.3.4.3 Guía rectangular 54 1.3.4.3.1 Modos TM (Az = Ez) 55 1.3.4.3.2 Modos TE (Az = Hz) 56 1.3.4.3.3 Características de propagación 58 1.3.4.3.4 Modo dominante TE10 61 1.3.4.3.5 Características Guías de Onda rectangulares normalizadas 64 CAPÍTULO 2: ALTERNATIVAS DE TECNOLOGÍAS MÁS VIABLES Y ECUACIONES. ANÁLISIS DE ECUACIONES PARA UN OSCILADOR, DISEÑO DEL MODELO, JUSTIFICACIÓN DE LA ALTERNATIVA TECNOLÓGICA ESCOGIDA. 2.1 ANÁLISIS DE UN OSCILADOR MEDIANTE ECUACIONES 66 2.1.1. ALGUNOS PARÁMETROS DE UN CIRCUITO OSCILADOR 66 2.1.2. MÉTODOS PARA EL ANÁLISIS DE UN SISTEMA GENERADOR DE SEÑALES MICROONDAS 67 2.1.2.1. El Método de lazo cerrado 68 2.1.2.2. Osciladores de resistencia negativa 70 2.1.2.2.1 Condiciones de oscilación mediante la utilización de impedancias 71 2.1.2.2.2 Condiciones de oscilación mediante la utilización de coeficientes de reflexión 73 2.2 OSCILADORES DE RESISTENCIA DIFERENCIAL NEGATIVA 76 2.2.1 DIODOS GUNN 76 2.2.2 SUSTRATO A UTILIZAR 78 2.3 DISEÑO DE MODELOS 80 2.3.1 MODELO TIPO MICROSTRIP LINE 80 iii 2.3.2 MODELO TIPO CAVIDAD RE-ENTRANTE 84 2.3.2.1 Cavidad coaxial 84 2.3.2.2 Cavidad Re-entrante Radial 91 2.3.4 RESONADOR DE CAVIDAD RECTANGULAR 92 2.3.4.1 Cavidades Resonantes 93 2.3.4.2 Factores de Calidad en una Cavidad Resonante 98 2.3.4.3 Potencia Entregada por la Cavidad al Circuito Externo 99 2.4 ANÁLISIS DE ALTERNATIVA TECNOLÓGICA MÁS VIABLE 100 2.4.1 CRITERIOS PARA ESCOGER LA ALTERNATIVA DE CONSTRUCCIÓN 100 CAPÍTULO 3: DISEÑO, CONSTRUCCIÓN Y PRUEBAS DEL SISTEMA DOCUMENTACIÓN NECESARIA, PROCEDIMIENTO A SEGUIR, CONSTRUCCIÓN DEL MODELO, PRUEBAS DEL MODELO, MODIFICACIONES Y CORRECCIONES. 3.1 DOCUMENTACIÓN NECESARIA Y PROCEDIMIENTO A SEGUIR 102 3.2 CIRCUITOS MICROONDAS 103 3.2.1 RESONADOR CON MICROSTRIP LINE 103 3.2.1.1. Materiales a Utilizar 103 3.2.1.2 Detalle de Procedimiento de Construcción 103 3.2.1.2.1 Medidas Reales de GML 1000 103 3.2.1.2.2 Ensayo 1 104 3.2.1.2.3 Ensayo 2 107 3.2.1.2.4 Ensayo 3 111 3.2.1.2.5 Ensayo 4 121 3.2.1.2.6 Ensayo5 124 3.2.1.2.7 Ensayo 6 130 3.2.1.2.8 Ensayo7 133 3.2.2 CIRCUITO DE CAVIDAD RESONANTE MEDIANTE GUÍA DE ONDA RECTANGULAR CON ACOPLAMIENTO COAXIAL DE ALIMENTACIÓN 135 3.2.2.1 Guía de onda y sus partes 136 3.2.2.2 Embolo de cortocircuito 139 3.2.2.3 Tornillo milimétrico, rodelas, bocin y masilla epóxica rally 139 3.2.2.4 Pruebas con el circuito 140 iv 3.2.3 CIRCUITO DE CAVIDAD RE-ENTRANTE 146 3.2.3.1 Circuito de Cavidad Re-entrante Coaxial 146 3.2.3.1.1 Alternativa 1 Circuito de Cavidad Re-entrante Coaxial 150 3.2.3.1.2 Alternativa 2 Circuito de Cavidad Re-entrante Coaxial 152 3.2.3.1.3 Acoplamiento de RF 153 3.2.3.1.4 Construcción de alternativa 1 y medidas 158 3.2.3.1.5 Construcción de alternativa 2 y medidas 159 3.2.3.2 Circuito de Cavidad Re-entrante Radial 161 CAPÍTULO 4: CONCLUSIONES Y RECOMENDACIONES 4.1 CONCLUSIONES 163 4.2 RECOMENDACIONES 165 4.3 EJEMPLOS DE POSIBLES APLICACIONES 168 4.3.1 EJEMPLO 1 168 4.3.2 EJEMPLO 2 168 v ÍNDICE DE TABLAS Tabla 1.1 Teoría de Bandas de Energía 11 Tabla1.2 Modos de Operación Diodos Gunn 32 Tabla 1.3 Características de comparativas de las líneas de transmisión y guías de onda 34 Tabla 1.4: Algunos sustratos y sus propiedades(3) 40 Tabla 1.5: Características de Guías de Onda Rectangulares(9) 65,93 Tabla 2.1 Características Diodos Gunn 76 Tabla 2.2: Propiedades Eléctricas 78 Tabla 2.3: Propiedades Físicas 79 Tabla 2.4: Propiedades Térmicas 79 Tabla 2.5: Dimensiones de las Placas de sustratos agrupados 81,104 Tabla 2.6: Atenuación debido a conductor y sustratos agrupados 83 Tabla 2.7: Dimensiones Cavidad Reentrante Coaxial Z0=40 Ω 87 Tabla 2.8: Dimensiones Cavidad Reentrante Coaxial Z0=50 Ω 88 Tabla 2.9: Dimensiones Cavidad Reentrante Coaxial Z0=60 Ω 88 Tabla 2.10: Dimensiones Cavidad Reentrante Coaxial Z0=70 Ω 89 Tabla 2.11: Dimensiones Cavidad Reentrante Coaxial Z0=75 Ω 90 Tabla 2.12: Resumen de Valores Obtenidos 90,147 Tabla 2.13: Dimensiones Cavidad Reentrante Radial Z0=50 Ω 91 Tabla 3.1: Dimensiones Reales de Sustrato 104 Tabla 3.2: Z0 calculados en base a la relación w/h 1 108 Tabla 3.3: Longitud de onda en función de permitividad efectiva 109 Tabla 3.4: Atenuaciones con tecnología microstrip-line 110 Tabla 3.5: Z0 calculados en base a la relación w/h 2 112 Tabla 3.6: Dimensiones de las pistas para microstrip-line w en milésimas de pulgada 112 Tabla 3.7: S medidos en los circuitos 118 Tabla 3.8: Dimensiones de acoplamientos calculados 122 Tabla 3.9: S obtenidos con acoplamiento 124 Tabla 3.10: Longitud de onda efectiva para w/h 127 Tabla 3.11: Dimensiones de los acoplamientos calculados 127 Tabla 3.12: w/h = 3; nλ / 2 con n=2 127 vi Tabla 3.13: w/h=10; mλ / 4 con m=3 127 Tabla 3.14: Valores de Frecuencia y Potencia para guía rectangular 131 Tabla 3.15 Permitividad, longitud efectiva y longitud en milésimas de pulgada 131 Tabla 3.16 Compensadores medidas en mm y el mils 131 Tabla 3.17 Corrección w/h=3 y w/h=10 131 Tabla 3.18 Valores obtenidos ensayo 6 132 Tabla 3.19 Valores medidos ensayo 7 con varias líneas 134 Tabla 3.20 Valores medidos para L-3 134 Tabla 3.21 Valores medidos para L 135 Tabla 3.22 Medidas obtenidas en guía rectangular diodo P1 141 Tabla 3.23 Medidas obtenidas en guía rectangular diodo P2 143 Tabla 3.24 Dimensiones corregidas del circuito 149 Tabla 3.25 Dimensiones elegidas 149 Tabla 3.26 Medidas obtenidas en cavidad reentrante coaxial 158 Tabla 3.27 Medidas obtenidas en cavidad reentrante coaxial con tornillos 159 Tabla 3.28 Medidas obtenidas en cavidad reentrante coaxial 2 160 Tabla 3.29 Medidas obtenidas en cavidad reentrante coaxial 2 con tornillos y émbolo mal construido 160 Tabla 3.30 Medidas obtenidas en cavidad reentrante coaxial 2 con tornillos y émbolo bien construido 161 Tabla 3.31 Medidas obtenidas en la cavidad reentrante radial 162 vii INDICE DE FIGURAS Figura 1.1: Esquema de polarización de un diodo Gunn(1) 6 Figura 1.2: Circuito para el Oscilador y Montaje comercial de un diodo Gunn(1) 6 Figura 1.3: Muestra de GaAs formando un diodo(2) 7 Figura 1.4: Representación de Zonas de Resistencia Diferencial Negativa, Velocidad de Deriva vs Campo Eléctrico(2) 8 Figura 1.5: Fluctuaciones de corriente en forma de oscilaciones(2) 9 Figura 1.6: Modelo de dos valles(2) 10 Figura 1.7: Densidad de Corriente ‘J’ vs Campo Eléctrico ‘E’ Figura 1.8: Condiciones de Equilibrio E〈 Ee (2) 15 (2) 15 Figura 1.9: Campo Aplicado mayor al campo del valle inferior y menor al campo del valle supeior (E 〈 E 〈 E ) e µ (2) 15 Figura 1.10:Campo aplicado mayor al campo del valle supeior Eµ 〈 E (2) 16 Figura 1.11: Representación de µ n movilidad negativa(2) 17 Figura 1.12: a) Densidad de Corriente ‘J’ vs Campo Eléctrico; b) Acumulación de carga negativa en el diodo; c) Variación de densidad del electrón debido a la distancia; d) Creación de campo eléctrico debido a acumulaciones de carga; e) Etapas de formación de campo eléctrico(2) 19 Figura 1.13: a) Formación del Dipolo; b) Gráfico del Dipolo; c) Campo Eléctrico dentro del dominio; d) Fluctuación de la Velocidad de deriva dentro del dominio (oscilación) (2) 20 (2) Figura 1.14: Fases de acumulación de carga espacial Figura 1.15: Modos de operación de Diodos Gunn 23 (2) 25 Figura 1.16: Representación de Dominio Gunn, Velocidad de Deriva vs Campo Eléctrico(2) 27 Figura 1.17 a: Longitud de Onda con periodo igual al tiempo de Tránsito τ 0 = τ t (2) 28 Figura 1.17 (b): Longitud de Onda con periodo mayor al tiempo de Tránsito τ 0 〉τ t (2) 28 Figura 1.17 (c): Longitud de Onda con periodo menor al tiempo de Tránsito τ 0 〈τ t (2) 29 Figura 1.17 (d): Longitud de Onda con periodo menor al tiempo de Tránsito τ 0 〈τ t ; τ 0 = 3τ d (2) 30 Figura 1.18: Modos de Operación de Amplificación(2) 32 Figura 1.19: Guía de Onda y Circuitos Integrados Planares(7) 34 Figura 1.20: Secciones de guía coaxial (4) 35 Figura 1.21: Algunos modos de Propagación sobre Guía Coaxial (4) Figura 1.22 Estructura strip-line(5) 38 Figura 1.23: Sección Transversal Circuito Microstrip(3) Figura 1.24: Distribución de Campos en Circuito Microstrip-line 36 40,80 (6) 41 viii Figura 1.25: relación Z0, ε r y w h (3) Figura 1.26: λ , ε r y w h 44,81,108,112,125 (3) 44 Figura 1.27: Steps(6) Figura 1.28: Open-ends Figura 1.29: Gaps 46 (6) 47 (6) 47 Figura 1.30: Bends(6) 47 Figura 1.31: (a) Cavidad Coaxial; (b) Cavidad Radial ; (c) Cavidad Sintonizable; (d) Cavidad Toroidal ; (e) Cavidad Mariposa (2) 48 Figura 1.32: a) Cavidad Coaxial y b) Sección Transversal de Cavidad Coaxial (3) 48,84,146 Figura 1.33: Circuito Equivalente de Cavidad Coaxial 48 Figura 1.34: Cavidad Re-entrante(3) 50,91,161 Figura 1.35: Circuito Equivalente de Cavidad Re-entrante 51 Figura 1.36: Atenuación vs Frecuencia para Guías de Onda, Coaxial y Microstrip Line (9) 53,163 Figura 1.37: Estructura Guía Rectangular(4) 54 Figura 1.38: Distribución de campos para modos TE en guías rectangulares(12) Figura 1.39: Distribución de campos para modos TM en guías rectangulares Figura 1.40: Frecuencias de corte guía de onda rectangular 58 (12) 59 (4) 60 r r Figura 1.41: Distribución del modo TE10 en una guía de onda rectangular ( E : azul , H : rojo )(4)63 Figura 1.42: Corriente superficial del modo TE10 en una guía de onda rectangular(4) 63 Figura 2.1: Circuito Equivalente de un oscilador en lazo cerrado(8) 68 Figura 2.2: Circuito equivalente de un oscilador en lazo abierto(8) Figura 2.3: Sistema de un Oscilador con el circuito equivalente de un transistor Figura 2.4: Esquema del oscilador 69 (8) 69 (8) 70 Figura 2.5: Representación de circuito oscilador(8) 71 Figura 2.6: Onda Incidente y Onda Reflejada(8) Figura 2.7: Representación simplificada del circuito oscilador 74 (8) 75 Figura 2.8: Estructura de física M11 de Diodos Gunn 76 Figura 2.9: Dimensiones Físicas del Diodo Gunn (Autocad2009) 77 Figura 2.10: Cavidad (a)y circuito equivalente cerca de resonancia(b)(10) 94 Figura 2.11: (a)circuito equivalente con transformador ideal y(b) circuito equivalente con parámetros normalizados referidos al circuito externo(10) 95 Figura 2.12: Lugar geométrico del factor de acoplamiento de la cavidad referido al circuito externo para diferentes condiciones de acoplamiento(10) Figura 2.13: Variación de la fase del coeficiente de reflexión en función del acoplamiento. Figura 3.1: esquemático de los circuitos 95 (10) 97 105 ix Figura 3.2: circuitos diseñados 105 Figura 3.3: Imagen a imprimir en lámina termo transferible. 106 Figura 3.4: Placas obtenidas 107 Figura 3.5: esquemático de los 4 circuitos a utilizar 113 Figuras 3.6: placas obtenidas (izquierda) vistas frontal dimensiones comparadas con moneda de 10 centavos de dólar y (derecha) vista posterior de la placa 114 Figura 3.7: cable con conector SMA tipo macho 114 Figura 3.8: Oscilador Gunn en guía de onda 115 Figura 3.9: Fuente para diodo Gunn 115 Figura 3.10: Aislador direccional 115 Figura 3.11: Frecuencímetro de Cavidad 116 Figura 3.12: Diodo Pin 116 Figura 3.13: Atenuador 116 Figura 3.14: Guía Ranurada 117 Figura 3.15: Equipo de Medida de VSWR 117 Figura 3.16: Oscilador de Rayos Catódicos 117 Figura 3.17: Carta de Smith para w/h=2 119 Figura 3.18: Carta de Smith para w/h=3 120 Figura 3.19: circuitos construidos y medidos con la ayuda del comando CTRL-M (9) Figura 3.20: comportamiento del capacitor en DC y RF 122 123 Figura 3.21: placa construida con los STUB y resistencias; dimensiones comparadas con una moneda de 10 centavos de dólar Figura 3.22: Relaciones de λg / 4 para Vmax y Vmin 123 (3) 124 Figura 3.23: esquemático de los circuitos del oscilador a construir 126 Figura 3.24: circuitos del oscilador en PCB 126 Figura 3.25: Circuito1 construido 128 Figura 3.26: pieza metálica (izquierda) frontal, (centro) lateral y (derecha) posterior 128 Figura 3.27: circuito 2 con un trimer y capacitores cerámicos 128 Figura 3.28: Caja con baquelita de doble lado 129 Figura 3.29: conector BNC RG59 tipo macho 129 Figura 3.30: Montaje del equipo de laboratorio a utilizarse. 130 Figura 3.31 circuito terminado y comparación de sus dimensiones con una moneda 132 Figura 3.32: Circuitos diseñados 133 Figura 3.33: circuito 3 de comprobación, guía de onda rectangular con acoplamiento coaxial de alimentación 135 Figura 3.34: circuito3 desarmado,(no incluye bocin ni rodelas), y un calibrador 136 x Figura 3.35 guía de onda, tornillo, acoplador coaxial de alimentación 136 Figura 3.36 Respuesta del inductores en DC y en RF(9) 137 Figura 3.37: embolo interno al acoplador coaxial con un resorte 137 Figura 3.38: Antena Sleeve para aplicaciones vehiculares 138 Figura 3.39: Circuito equivalente de émbolo de DC 138 Figura 3.40: Diferentes vistas del embolo 140 Figura 3.41: Circuito armado y materiales usados 140 Figura 3.42: Circuito armado vista lateral 140 Figura 3.43: Respuesta Diodo P1 142 Figura 3.44: Respuesta Diodo P2 145 Figura 3.45: Respuesta Diodo P3 146 Figura 3.46: Distribución de los Campos E y H en estructura coaxial (4) 150 Figura 3.47: Tapa superior para alimentación DC 150 Figura 3.48: Tapa inferior para acoplamiento de RF 151 Figura 3.49: cilindro hueco que contendrá las dos tapas 151 Figura 3.50: Pieza acoplada para la alimentación de DC 152 Figura 3.51: Pieza acoplada para RF 152 Figura 3.52: Ubicación de una sonda acoplada para Guía Rectangular(9) 154 (9) 154 Figura 3.53: Ubicación de una sonda acoplada para Guía Rectangular Figura 3.54: Ubicación de sonda acoplada para Guía Rectangular con variación de diámetro(9) 155 Figura 3.55: Lazo acoplado en una guía rectangular(9) Figura 3.56: Lazo acoplado en una guía rectangular 155 (9) Figura 3.57: Varios Lazos acoplado en una guía rectangular 156 (9) 156 Figura 3.58: Abertura o Ventana acoplado en una guía rectangular(9) 157 Figura 3.59: Conectores y Cables a utilizar 157 Figura 3.60: Circuito 1 construido. 158 Figura 3.61: Circuito 2 construido. 159 xi RESUMEN Este proyecto cuenta con cuatro capítulos repartidos de la siguiente forma: Capítulo 1, se inicia con conceptos básicos de introducción a las Microondas. Se continúa con fuentes de microondas con elementos de estado sólido detallando los diferentes tipos de diodos y transistores que se utilizan para microondas, de una manera informativa. Se continua con el estudio del diodo Gunn sus modos de operación se analiza el modelo de dos valles y de dominios Gunn. Finalmente se termina el capítulo estudiando las tecnologías para construcción de circuitos microondas como microstrip-line, cavidades reentrantes, cavidades resonantes de guía de onda rectangular. Capítulo 2, corresponde a estudiar las alternativas de tecnologías más viables y las ecuaciones que se desarrollan para cada modelo de circuito. Al inicio del capítulo se realiza el análisis de ecuaciones para un oscilador, detallando conceptos y modelos. Se detallan las características de los diodos Gunn a utilizar y del sustrato GML 100 procediendo a realizar el diseño del circuito mediante la tecnología microstripline, a continuación se realiza el diseño del modelo para cavidades reentrantes tanto coaxial como radial, todos estos diseños se realizan asumiendo una frecuencia de trabajo en los diodos Gunn a 10GHz. Para concluir el capítulo se analizan las alternativas tecnológicas desde el punto de vista de cómo construirlos y se escoge un orden para implementar los circuitos. Capítulo 3, Diseño, Construcción y Pruebas del sistema; en este capítulo se reúne la información necesaria que se genero en el capítulo 2, se inicia con la implementación de los circuitos en el orden definido en el capítulo anterior. Se desarrolla el procedimiento a seguir para la construcción de los diferentes circuitos, se documenta toda la información obtenida realizando las pruebas de los modelos en el Laboratorio de Microondas de la Escuela Politécnica Nacional. xii Con estos datos se realiza modificaciones: como calcular nuevamente la frecuencia de trabajo más eficiente para el diodo Gunn aumentar elementos de ajuste a los circuitos, en fin realizar correcciones a los circuitos para mejorar su desempeño. Capítulo 4, este es el último capítulo, se presenta conclusiones del trabajo desarrolladas para el trabajo con los diodos Gunn, circuitos microstrip-line, cavidades resonantes de guía de onda rectangular, cavidades reentrantes y se realizan recomendaciones para futuras aplicaciones. Para finalizar se anexa 2 ejemplos de posibles aplicaciones que principalmente fueron desarrolladas con cavidades resonantes de guía rectangular, pero que podría presentar alternativas para aplicar los circuitos diseñados, implementados y comprobados en este proyecto. xiii PRESENTACIÓN En base a un proyecto realizado por el Ing. Mario Cevallos para las XXI Jornadas de Ingeniería Eléctrica y Electrónica de Noviembre del 2007, con el tema: Oscilador Microondas con un diodo Gunn y Varactor. Se plantea este proyecto con el objetivo de estudiar algunos de los tipos de circuitos microondas con tecnologías como microstripline, strip-line, cavidades reentrantes, cavidades de guía de onda rectangular para poder implementar circuitos osciladores con las tecnologías que se escojan. El estudio de alternativas tecnológicas de construcción de circuitos microondas al momento de implementar un sistema pueden presentar varias prestaciones favorables en comparación a la tecnología inicialmente utilizada, claro esto solo lo podemos comprobar realizando un nuevo modelo y comparándolo con el original. Se implementa tres tipos de circuito: microstrip-line, cavidades reentrantes y cavidad resonante de guía de onda rectangular, para lograr esto se tuvo que estudiar las características de las tecnologías de construcción de circuitos microondas detalladas anteriormente y las características de los materiales como Diodos Gunn , Sustratos, etc. Continuando con el procedimiento para poder diseñar cada uno de los circuitos implementados en donde se puede comparar las dimensiones físicas, este es un parámetro importante en equipos que trabajan en el rango de las microondas así como la potencia generada por cada tipo de estructura que se diseño, para el caso de los componentes activos ya tienen una estructura definida pero los componentes pasivos se pueden estructurar dependiendo de los criterios de diseño del Ingeniero. Cumplido esto se realiza las pruebas de los circuitos, esto implica analizar como utilizar los equipos del Laboratorio de Microondas para poder polarizar y realizar las mediciones en los circuitos, también se tuvo que escoger conectores y cables xiv adecuados para que trabajen como un transductor entre los circuito diseñados y los equipos de medida. Una vez acoplados los circuitos se busca optimizarlos o mejorar sus características de operación, esto se logra mediante artificios que se deben aplicar tomando en cuenta la estructura física de los circuitos obtenidos. Documentando los resultados obtenidos por cada circuito y se los compara con el objetivo de encontrar conclusiones del trabajo y además poder exponer recomendaciones al final del proyecto que pueden ser útiles para otros proyectos desarrollados en base a este. Para concluir se anexan dos documentos de posibles aplicaciones que fueron desarrollados fuera del país, pueden servir de referencia para sugerir trabajos posteriores. Además las aplicaciones en la docencia y en la implementación de ciertos equipos más complejos, que en el mercado local son costosos o no se los encuentra, pueden ser tomadas en cuenta analizando los resultados, las conclusiones y recomendaciones de este proyecto. 1 CAPÍTULO 1: CONCEPTOS BÁSICOS E INTRODUCCIÓN A LAS MICROONDAS FUENTES DE MICROONDAS CON ELEMENTOS DE ESTADO SÓLIDO. EL DIODO GUNN Y TECNOLOGÍAS PARA CONSTRUCCIÓN DE CIRCUITOS MICROONDAS. 1.1.- INTRODUCCIÓN Y FUENTES DE MICROONDAS CON ELEMENTOS DE ESTADO SÓLIDO 1.1.1 INTRODUCCIÓN A MICROONDAS Definición: Las microondas para propósitos prácticos se consideran las ondas electromagnéticas cuya frecuencia (f) se encuentra entre 1 Giga Hertz (GHz), hasta los 300 Giga Hertzios (GHz); del espectro radioeléctrico. Estas frecuencias se relacionan con otros parámetros físicos; como la velocidad de la luz en el vacío (o también velocidad de propagación de ondas electromagnéticas en el espacio libre), representada con la letra c, cuyo valor aproximado es 3*108 m s , y la longitud de onda, representada con la letra griega λ (1.1). f = c λ (1.1) La longitud de onda es muy importante pues de esta se puede tener la siguiente definición de microondas: ‘las microondas son aquellas ondas electromagnéticas cuya longitud de onda esta en el rango entre 1 milímetro (300 GHz) hasta 30 centímetros (1 GHz).’ 2 Para poder estudiar las microondas se debe considerar que las longitudes de onda que se manejan en este rango del espectro radioeléctrico son comparables con las dimensiones de los dispositivos que estamos acostumbrados a utilizar, para aplicaciones de comunicaciones electrónicas. Esto ocurre por que las fases de las tensiones y de las corrientes van cambiando apreciablemente a lo largo de los dispositivos. La variación en la tensión se puede representar en (1.2): 2π v(t ) = a (t ) * cos wt − z λ Donde a(t) es la amplitud de una señal, 2π λ (1.2) z la fase de referencia (espacial) de una señal, z las dimensiones del circuito y λ la longitud de onda asociada a la frecuencia de una señal. De (1.2) se puede observar que: el cambio de fase de las componentes de una señal es inversamente proporcional a la longitud de onda; cuando z λ 〈〈1 el cambio de fase es despreciable, esto se puede dar cuando a frecuencias que son bajas ( λ grandes), el tamaño del circuito es pequeño, este es el caso más común y que normalmente se cumple; pero cuando z λ ≥ 1 el cambio de fase es un parámetro crítico, esto se da en el rango de las microondas. De lo anteriormente expuesto existe la necesidad, que para poder trabajar con señales electromagnéticas en el rango de las microondas, se debe estudiar teoría relacionada con las Leyes de Maxwell y a los Sistemas de Transmisión entre otros. 3 1.1.2 FUENTES DE MICROONDAS CON ELEMENTOS DE ESTADO SÓLIDO: FET, BJT, DIODOS GUNN, DIODOS IMPATT, DIODOS TÚNEL Las fuentes de microondas se pueden clasificar en dos grandes grupos: dispositivos de tubos de vacío y dispositivos de estado sólido. Históricamente hablando; primero se desarrollaron los tubos de vacío. Los dispositivos de estado sólido aparecieron en la década de los 60´s y desplazaron a los tubos de vacío en aplicaciones de baja potencia. Estos dispositivos de estado sólido están constituidos de semiconductores; Si, GaAs, InP, entre los más utilizados. Entre los elementos de estado sólido tenemos: diodos Gunn, diodos Impatt, diodos túnel, transistor FET, transistor BJT. 1.1.2.1.- Transistor FET El transistor de efecto de campo o por sus siglas en inglés FIELD EFECT TRANSISTOR es un dispositivo semiconductor de tres terminales o partes constitutivas que son: Drenaje, Fuente y Canal. La característica de este semiconductor es que a través de una señal eléctrica aplicada en el terminal Canal del FET se puede controlar el grado de conducción de corriente entre el Drenaje y la Fuente. Los tipos de FET utilizados como fuentes de microondas son: a.- MESFET, que es construido con GaAs, InP o SiC; se usa en la construcción de circuitos integrados de tecnología CMOS. Sus siglas son METAL SEMICONDUCTOR FET, y pueden trabajar en los 30 GHz. 4 b.- HEMT (HFET), de la misma forma se construye con una combinación de GaAs y AlGaAs. Sus siglas en inglés son: HIGH ELECTRON MOVILITY TRANSISTOR, pueden trabajar a más de 200 GHz. 1.1.2.2.- Transistor BJT Es un dispositivo de tres capas y sus siglas son BIPOLAR JUNTURE TRANSISTOR, sus partes son base, colector y emisor. A diferencia del FET para este dispositivo al variar la corriente en su terminal que se conoce como base, se controla la corriente que fluye entre el emisor y el colector. Se usan como amplificadores de voltaje y corriente, acopladores de impedancia, osciladores. Como fuentes en el rango de las microondas se puede utilizar una mejora de los BJT que se conocen como HBT, que puede trabajar con señales de muy alta frecuencia cientos de GHz. 1.1.2.3.- Diodos GUNN Se lo estudiara a profundidad en la sección 1.2 1.1.2.4.- Diodos IMPATT De las siglas en inglés IMPACT AVALANCHE TRANSIST TIME. Se construye en base a SiC y GaAs. Su principal aplicación es en sistemas de radar, amplificadores de baja potencia y alta frecuencia. Como oscilador sus características de funcionamiento son muy similares a un Diodo Gunn, pues presentan zonas de resistencia diferencial 5 negativa como combinación de los efectos de portador de carga en el tiempo de tránsito y ruptura de avalancha por impacto (impact avalanche breakdown). 1.1.2.5.- Diodos Túnel En 1958 Leo Esaki descubre el efecto túnel, por lo que este diodo también se conoce como diodo Esaki, su efecto es muy parecido al presente en zonas de resistencia diferencial negativa en dispositivos de juntura. Se utiliza como amplificador de señales débiles en receptores microondas, pues este dispositivo no introduce señales de ruido de radio frecuencia. 1.2.- DIODOS GUNN 1.2.1.- DIODO GUNN- DIODOS DE GaAs El diodo Gunn es un dispositivo semiconductor de estado sólido de dos terminales, construido utilizando GaAs como una sola sección, internamente es dopado en forma diferencial, presentando mayor presencia de portadores n+. Este dispositivo semiconductor se lo puede clasificar como un TED’S (Transferred Electron Devices), que a su vez pueden ser TEA’S (Transferred Electron Amplifiers) y TEO’S (Transferred Electron Oscillators). Una característica del Diodo GUNN es presentar zonas de resistencia diferencial negativa. Para los dispositivos que presentan este efecto; cuando se aplica un voltaje superior a un voltaje de umbral propio del dispositivo, se presenta una variación de 180° en la fase entre el VOLTAJE y la INTENSIDAD DE CORRIENTE a través de estos dispositivos; esto conlleva a una potencia generada por el diodo; en lugar de una potencia consumida por el mismo. 6 Este efecto fue descubierto en 1963 por J. B. Gunn por lo que este efecto se conoce como EFECTO GUNN. Este efecto es aprovechado para generar fluctuaciones periódicas de corriente en el rango de las microondas, lo cual es utilizado para generar oscilaciones autosostenidas, las cuales son utilizadas en los osciladores locales para los sistemas de comunicación microonda. Para lograr esto, el diodo es polarizado con una tensión continua menor pero cercana al umbral inferior de voltaje de la zona de resistencia diferencial negativa. Figura 1.1: Esquema de polarización de un diodo Gunn.(1) Con el fin de lograr estabilidad en la operación del oscilador, los osciladores comerciales basados en diodos Gunn incluyen un circuito regulador de tensión conformado por un desacoplador de continua (conformado por un condensador y una resistencia en paralelo) y una referencia de voltaje sumamente precisa, que es lograda mediante el uso de un diodo Zener. Figura 1.2: Circuito para el Oscilador y Montaje comercial de un diodo Gunn.(1) 7 1.2.2.- EFECTO GUNN En 1963, mientras estudiaba los efectos del ruido en semiconductores, J. B. Gunn observó el efecto que lleva su nombre; en muestras de GaAs tipo n uniforme que formaban un diodo, como el que se muestra en la figura 1.3 con contactos ohmicos superficiales. Figura 1.3: Muestra de GaAs formando un diodo(2) Como resultado de sus experimentos Gunn publicó varios documentos acerca de sus observaciones, a continuación una de ellas: Un poco por encima del voltaje crítico, correspondiendo a un campo eléctrico de 2000-4000 volts/cm, la corriente en cada muestra se volvió una fluctuación en función del tiempo. En las muestras de GaAs, esta fluctuación tomó la forma de una oscilación periódica sobrepuesta al pulso de corriente... La frecuencia de oscilación era principalmente determinada por la muestra, y no por el circuito externo... El periodo de oscilación habitualmente era inversamente proporcional a la longitud del espécimen y estrechamente igual al tiempo del tránsito de electrones entre los electrodos, calculando su velocidad estimada está ligeramente por encima de 107 cm/s… El pico del pulso de potencia microonda entregado por las muestras de GaAs a una carga similar era moderado. Valores tan altos como 0,5 w a 1 GHz y 0,15 w a 3 GHz, se encontraron, correspondientes a 1-2% de la potencia del pulso de entrada.1 1 GUNN, J.B. , Microwave oscillations of current in III-V semiconductors 8 Gunn observó que la velocidad de deriva de los portadores se aumenta linealmente desde cero a un valor máximo cuando el campo eléctrico es mayor al valor umbral de aproximadamente 3000 V/cm para la muestra de GaAs de tipo n. La velocidad de deriva se define como la velocidad efectiva de una partícula cargada en la dirección del campo aplicado al medio de conducción, en este caso será un electrón la partícula cargada. El termino deriva también se lo encuentra como voltaje deriva y corriente deriva, estos términos están relacionados como variaciones a causa del calentamiento interno de semiconductores, esto se percibe en amplificadores operacionales en unidades de micro voltios por grado Celsius µ V/°C y de nano amperios sobre grados Celsius nA/°C. Cuando la velocidad de deriva disminuye, se sobrepasa el valor de voltaje umbral, el diodo presenta zonas de resistencia diferencial negativa. Mostrada en la siguiente figura 1.4: Figura 1.4: Representación de Zonas de Resistencia Diferencial Negativa, Velocidad de Deriva vs Campo Eléctrico(2) La presencia de zonas de resistencia diferencial negativa en el dispositivo semiconductor da lugar a fluctuaciones de corriente en forma de oscilaciones como se muestra en la figura 1.5: 9 Figura 1.5: Fluctuaciones de corriente en forma de oscilaciones(2) La forma de onda de corriente de la figura anterior fue producida aplicando un pulso de 16v de amplitud y 10 ns de duración sobre una muestra de tipo n de GaAs de 2,5 × 10 −3 cm de longitud, generando una frecuencia de oscilación de 4,5 GHz. Por lo que podemos afirmar que la frecuencia de oscilación de un diodo Gunn viene dada por la relación (1.3): frecuencia = ν deriva Longitud (1.3) Donde Longitud es la distancia entre los terminales del semiconductor, y ν deriva es la velocidad de deriva del dipolo dentro del material (una característica de éste). En el caso de GaAs, esta velocidad es del orden de 107 cm/s. Gunn también descubrió que el campo eléctrico de umbral Eth varía con la longitud y tipo de material. Comprobó lo anterior aplicando 59 V a una muestra de tipo n de GaAs de 210 µm de longitud y área transversal de 3,5 × 10 −3 cm 2 con una resistencia de campo de 16 ohm. 10 Utilizando la ecuación (1.4) encontramos que el campo eléctrico de umbral corresponde a 2810 v/cm. Eth = VoltajeAplicado Longitud (1.4) 1.2.3.- PRINCIPIOS DE OPERACIÓN Para explicar el efecto Gunn se han generado varias explicaciones; dos teorías las cuales argumentan a que se debe la presencia de zonas de resistencia diferencial negativa en diodos de GaAs, como son los diodos Gunn, se presentan a continuación. 1.2.3.1.- Teoría del Modelo de Dos Valles Kroemer en 1964 sugirió que las observaciones de Gunn son similares al Modelo de Dos Valles de Ridley-Watkins-Hilsum, teoría RWH. De acuerdo con la teoría de bandas de energía en el GaAs de tipo n , un valle inferior de alta movilidad y poca masa efectiva, está separado por una energía de 0,36 eV de un valle superior de baja movilidad y gran masa efectiva a comparación que la del otro valle. Como se puede ver en la figura 1.6 y la tabla 1.1: Figura 1.6: Modelo de dos valles(2) 11 Tabla 1.1 Valle Masa Efectiva Me Movilidad Separación ∆E Inferior Mel = 0,068 ul = 8000 cm2/Vs 0,36 eV Superior Meu = 1,2 uu = 180 cm2/Vs 0,36 eV La masa efectiva de un electrón libre en un semiconductor es distinta a la masa de un electrón en el vacío, debido a las interacciones con los átomos del cristal. Por esta razón es importante notar que la masa de un electrón en el valle inferior mel es mucho menor que la masa del electrón en el valle superior meu y se la puede cuantificar para el GaAs mediante la siguiente expresión. meu ≅ 5 mel En la figura 1.6 el factor K indica el número de onda que es sinónimo de la constante de fase β , con lo que se puede determinar que el diagrama E-K es equivalente al diagrama ω − β de una estructura de onda en microondas. Con respecto a los valores de E y ω en mecánica cuántica se relacionan como E = hω , donde h es la constante de Planck h dividida por 2 π . Si las densidades electrónicas en los valles inferior y superior son respectivamente nl y nu , la conductividad del GaAs de tipo n es: σ = e(µl nl + µu nu ) (1.5) donde: σ = conductividad e = carga del electrón µ = movilidad del electrón en cm2/Vs n = densidad del electrón Cuando se aplica a la muestra un campo eléctrico suficientemente alto. Los electrones se aceleran y su temperatura efectiva se incrementa por sobre la temperatura del sustrato, haciendo que esta también se incremente. 12 La densidad electrónica y la movilidad son funciones del campo eléctrico, derivando (1.5) se obtiene: dσ dn dµ dµ dn = e µl l + µu u + e l nl + u nu dE dE dE dE dE (1.6) La densidad electrónica total es n=nl+nu y si se asume que las movilidades son proporcionales al incremento del campo a una potencia constante; Ep ,donde p es una constante, entonces. d (nl + nu ) dn = =0 dE dE (1.7) dnl dn =− u dE dE (1.8) dµ dE p E p µp ∝ = pE p−1 = p ∝ dE dE E E (1.9) Sustituyendo las ecuaciones (1.7) a (1.9) en (1.6) tenemos: dσ dn p = e(µ l − µ u ) l + e(µ l nl + µ u nu ) dE dE E (1.10) Derivando de la Ley de ohm J = σE , con respecto al campo E tenemos: dσ 1 dJ = 1 + dE σ σ dE E (1.11) Con lo anteriormente explicado es evidente que para que exista la resistencia diferencial negativa o expresado en base a los términos de la condición (1.11) la relación dJ dE debe ser negativa, cumpliendo que la densidad de corriente J debe disminuir con el incremento del campo E; este caso se satisface siempre que el segundo término de la derecha sea: 13 dσ − dE 〉1 σ (1.12) E Si definimos f = nu nl y sustituimos las ecuaciones (1.5) y (1.11) en (1.12), obtenemos: µl − µ u E dnl − − p 〉1 µl + µu nl dE (1.13) Cabe señalar que el exponente del campo p es una función del mecanismo de dispersión umbral y debe ser negativo de valor absoluto grande. La dispersión umbral genera demasiadas dispersiones de impurezas indeseables, puesto que cuando esto es dominante, la movilidad sube con aumentar el campo y así p es positivo. Cuando la dispersión umbral es la que predomina p es negativa, depende del umbral y temperatura del portador. Para poder satisfacer la inecuación (1.13), el primer término entre los paréntesis deber ser positivo, esto quiere decir que: µl 〉 µu . Los electrones deben comenzar en el valle de baja masa y trasladarse al valle de alta masa, esto cuando se aumenta la intensidad del campo eléctrico. El valor máximo de este término es la unidad es decir, cuando µl 〉〉 µ u el factor dnl dE en el segundo paréntesis debe ser negativo. Esta cantidad representa una taza de transferencia de electrones al valle superior con respecto al campo eléctrico, la velocidad o taza de transferencia depende de 14 las diferencias entre la densidad del electrón con su temperatura y energía, los valores dependen del valle donde estén. Con respecto a la teoría WRH, para que un semiconductor presente resistencia diferencial negativa, la estructura de bandas del semiconductor debe satisfacer tres criterios: 1. La diferencia de energía entre los asientos de los valles inferior y superior debe ser varias veces mayor que la energía térmica a temperatura ambiente (alrededor de 0,026 eV), esto significa que ∆E〉 KT . En otras palabras en ausencia de polarización la mayoría de los electrones debe estar en el valle inferior. 2. La diferencia de energía entre los valles debe ser menor que la diferencia de energía entre las bandas de conducción y valencia ∆E〉 Eg , de otra manera el semiconductor se volverá altamente conductivo antes que comience la transferencia al valle superior debido a las formaciones de pares electrón-hueco. 3. Los electrones en el valle inferior deben tener alta movilidad, masa efectiva pequeña y baja densidad de estado, mientras los electrones en el valle superior deben tener baja movilidad, mayor masa efectiva y alta densidad de estado, en otras palabras las velocidades de los electrones dE dK deben ser mucho mayores en el valle inferior que en el valle superior. No en todos los semiconductores se pueden presentar estos criterios, pero en los siguientes suelen presentarse: GaAs, InP y CdTe. La variación característica de densidad de corriente (J), en función de la intensidad del campo eléctrico se muestra en la figura 1.7: 15 Figura 1.7: Densidad de Corriente ‘J’ vs Campo Eléctrico ‘E’(2) Bajo condiciones de equilibrio las densidades electrónicas son iguales en el valle inferior y en el valle superior. Cuando el campo aplicado es menor que el correspondiente al valle inferior E〈 Ee no existe transferencia electrónica como en la figura 1.8: Figura 1.8: Condiciones de Equilibrio E〈 Ee (2) Si el campo aplicado es mayor que el campo del valle inferior pero menor que el campo del valle superior (Ee 〈 E 〈 Eµ ) los electrones empiezan a desplazarse hacia el valle superior, figura 1.9: Figura 1.9: Campo Aplicado mayor al campo del valle inferior y menor al campo del valle supeior (E 〈 E 〈 E ) e µ (2) 16 Cuando el campo aplicado es mayor que el correspondiente al valle superior Eµ 〈 E , todos los electrones se transfieren al valle superior, ver figura 1.10: Figura 1.10:Campo aplicado mayor al campo del valle supeior Eµ 〈 E (2) Un análisis matemático de la resistencia diferencial negativa, requiere un detallado estudio del transporte de portadores en campos elevados. De la teoría de campo eléctrico tenemos que la magnitud de la densidad de corriente en un semiconductor viene dado por: J = qnv (1.14) dJ dv = qn dE dE (1.15) donde: q=e=carga eléctrica n= densidad del electrón v =velocidad promedio del electrón. Derivando con respecto al campo: La condición para conductancia negativa diferencial será: dv = µ n 〈0 dE (1.16) Donde µ n corresponde a la movilidad negativa, se muestra en la figura 1.11: 17 Figura 1.11: Representación de µ n movilidad negativa(2) 1.2.3.2.- Dominios Gunn o de Campo Elevado Para la generación y amplificación de microondas mediante la formación de dominios Gunn se va a proceder con la disminución de la velocidad de deriva con un incremento en el campo eléctrico. En un diodo de GaAs de tipo n la mayoría de las portadoras son electrones. Cuando un pequeño voltaje se aplica al diodo, el campo eléctrico y la densidad de corriente de conducción es uniforme a lo largo del diodo. A causa de este bajo voltaje el GaAs es ohmico, puesto que la velocidad de deriva de los electrones es proporcional al campo eléctrico. La densidad de corriente de conducción en el diodo esta dada por: J = σE x = σV L U x = ρvxU x Donde: J = densidad de corriente de conducción σ = conductividad Ex = campo eléctrico en la dirección x L = longitud del diodo V = voltaje aplicado ρ = densidad de carga (1.17) 18 v = velocidad de deriva U = vector unitario La corriente es portadora de electrones libres que están fluyendo a través de un fondo de carga positiva estable. La carga positiva, se debe a átomos de impureza que han donado un electrón (donadores), a veces se reduce debido a átomos de impureza que han aceptado un electrón (receptores). Si la densidad de los donadores es menor que la densidad de los receptores, esto se denominado dopado. Cuando la carga espacial es cero, la densidad de la portadora es igual al dopado. Cuando el voltaje aplicado esta por encima del valor umbral, que estaba medido en aproximadamente 3000 V/cm, para el espesor del diodo de GaAs se genera un dominio Gunn cerca del cátodo, que reduce el campo eléctrico del resto del material y causa que la corriente caiga hasta cerca de dos tercios de su valor máximo. Esta situación se da porque el voltaje aplicado esta dado por: L V = − ∫ E x dx (1.18) o Para un voltaje constante V un aumento en el campo eléctrico dentro de la muestra debe ser acompañado por una disminución en el campo eléctrico en el resto del diodo. Entonces el dominio Gunn varía con el flujo del portador a través de los electrodos y desaparece cerca del contacto del ánodo. 19 Cuando el campo eléctrico incrementa, disminuye la velocidad de deriva del electrón y el GaAs exhibe la resistencia diferencial negativa. Específicamente, es supuesto que al punto A en el plano de J-E, como el mostrado en la figura 1.12 (b), allí exista un exceso (o acumulación) de carga negativa que podría ser debido a una fluctuación de ruido aleatorio o posiblemente una deformidad permanente del dopado en el diodo de GaAs del tipo n. Un campo eléctrico se crea entonces por las cargas acumuladas tal como se mostrado en la figura 1.12 (d). El campo a la izquierda del punto A es más bajo que al derecho. Figura 1.12: a) Densidad de Corriente ‘J’ vs Campo Eléctrico; b) Acumulación de carga negativa en el diodo; c) Variación de densidad del electrón debido a la distancia; d) Creación de campo eléctrico debido a acumulaciones de carga; e) Etapas de formación de campo eléctrico(2) Si la curva J-E del diodo en el punto Ea cambia de sentido en su pendiente, esta situación implica que los portadores (o corrriente) que fluyen dentro del punto A es mayor que los fluyendo fuera del punto A, de este modo se incrementa la carga espacial negativa en A. 20 Además, cuando el campo eléctrico a la izquierda del punto A es más bajo que antes, el campo eléctrico a la derecha es entonces mayor al original, produciendo una acumulación de carga espacial aún mayor. Este proceso continúa hasta los campos bajos y altos, ambos valores se alcance fuera de la región de resistencia diferencial negativa y establecidos en los puntos 1 y 2 en la figura 1.12(a), donde las corrientes en los dos y las regiones de los campos altos son iguales. Como resultado de este proceso, se genera una acumulación de carga espacial viajando. El proceso esta condicionado a que el número de electrones dentro del cristal sea bastante grande, para permitir generar la cantidad necesaria de carga espacial durante el tiempo de transito por la capa de carga espacial. Cuando las cargas positivas y negativas están separadas por una pequeña distancia, entonces un dominio del dipolo se forma como se muestra en la Figura 1.13. Figura 1.13: a) Formación del Dipolo; b) Gráfico del Dipolo; c) Campo Eléctrico dentro del dominio; d) Fluctuación de la Velocidad de deriva dentro del dominio (oscilación) (2) 21 En la figura 1.13 (c) el campo eléctrico dentro del dominio sería mayor que los campos en cualquier lado del dipolo. Debido a la resistencia diferencial negativa, la corriente en el lado del campo inferior sería mayor de que en el lado del campo superior. Los dos valores del campo tenderán hacia las condiciones de equilibrio fuera de la región de resistencia diferencial negativa. Entonces el campo del dipolo alcanza una condición estable y movimiento a través de la muestra hacia el ánodo. Cuando el dominio Gunn (Campo Elevado) desaparece en el ánodo, un nuevo campo del dipolo empieza a formarse en el cátodo y el proceso se repite. En general el Dominio Gunn (Campo Elevado) tiene las siguientes propiedades: 1. Un dominio empezará a formarse siempre que el campo eléctrico en una región de la muestra aumente sobre el valor umbral del campo eléctrico y variará con el flujo de las portadoras a través de los dispositivos. Cuando el campo eléctrico se incrementa, la velocidad de deriva del electrón disminuye y el diodo de GaAs exhibe la resistencia diferencial negativa. 2. Si se aplica un voltaje adicional a un dispositivo que contiene un dominio, el dominio se incrementa en tamaño y absorbe más voltaje, como este aumenta y la corriente se disminuirá. 3. Un dominio no desaparecerá antes de alcanzar el ánodo a menos que el voltaje decaiga apreciablemente por debajo del umbral (para un diodo uniformemente dopado y área uniforme). 4. La formación de un nuevo dominio puede prevenirse disminuyendo el voltaje ligeramente debajo del valor umbral (en un circuito no resonante). 5. Un dominio ajustará la corriente a través de un dispositivo mientras el dominio atraviesa regiones de diferente dopado y el área de sección transversal, de otro 22 modo el dominio puede desaparecer. El dopado efectivo puede tener variaciones en las regiones a lo largo de la trayectoria de deriva, por los contactos adicionales. 6. La longitud del dominio es generalmente inversamente proporcional al dopado; en consecuencia los dispositivos con el mismo resultado de multiplicar el dopado por la longitud, se comportarán de forma semejante a los de multiplicar frecuencia por la longitud, voltaje/longitud, y eficiencia. 7. Como un dominio circula por un punto en el dispositivo, el dominio puede detectarse por un contacto capacitivo, cambios repentinos de voltaje muestran la presencia de un dominio. La presencia de un dominio puede descubrirse en cualquier parte en un dispositivo por una corriente disminuida o por un cambio en la impedancia diferencial. Debe notarse que las propiedades 3 y 6 sólo son válidas cuando la longitud del dominio es mucho mayor que la duración de la difusión térmica debido a las portadoras, que para GaAs son aproximadamente 1 µ m con un dopado de 1016 por centímetro cúbico y aproximadamente 10 µ m con un dopado de 1014 por centímetro cúbico. 1.2.4.- CRITERIOS PARA CLASIFICACIÓN DE MODOS DE OPERACIÓN Los diodos de efecto Gunn son básicamente hechos de GaAs tipo n, con las concentraciones de electrones libres que van de 1014 a 1017 por centímetro cúbico a temperatura ambiente. Sus dimensiones típicas son 150 x 150 µ m en la sección transversal y 30 µ m de largo. Durante las fases tempranas de acumulación de carga espacial la proporción de tiempo de crecimiento de las capas de carga espacial se da por: 23 t Q( X , t ) = Q( X − vt ,0) exp τ d Donde: τ d = (1.19) ε ε = es la magnitud del tiempo de relajación del dieléctrico con: σ eno µ n ε = permitividad dieléctrica del semiconductor no = concentración del dopado µ n = movilidad negativa e = carga del electrón σ = conductividad La figura 1.14 clarificará la ecuación (1.19), se observa que en el cátodo X=0, para t=0 se tiene la expresión Q( X − vt ,0) representa una distancia en x y finalmente Q( X , t ) relaciona lo anterior con un valor de t diferente de cero además de un factor del tiempo de relajación del dieléctrico. Figura 1.14: Fases de acumulación de carga espacial(2) Si en la ecuación 1.19 los resultados son validos, el total de tiempo de tránsito de la capa de carga espacial, el factor máximo de crecimiento esta dado por: Factor de Crecimiento = L Q ( L, L / v ) = exp Q(0,0) vτ d Ln e µ = exp o n εv (1.20) 24 En la ecuación 1.20 se asume que el campo empieza en el cátodo a t=0, X=0, y llega al ánodo a t = L y X=L. v Para un gran crecimiento de carga espacial, este factor debe ser mayor a la unidad. Esto significa que: no L〉 εv e µn (1.21) Este es el criterio para clasificar los modos de funcionamiento para los diodos de efecto Gunn. Para el GaAs tipo n, el valor de εv es aproximadamente 1012/cm2, dónde se (e µn ) asume que µ n es 150 cm2/Vs. 1.2.5.- MODOS DE OPERACIÓN Desde que Gunn hizo el primer anunció sobre la observación de Oscilaciones en el rango de las microondas en los diodos de GaAs tipo n y de InP tipo n en 1963, se han desarrollado varios modos de funcionamiento, dependiendo de los parámetros de los materiales y las condiciones operación. La formación de una fuerte inestabilidad de carga espacial depende de que suficiente carga esté disponible en el cristal y que la muestra sea lo bastante larga para que la cantidad necesaria de carga espacial pueda formarse dentro de los límites del tiempo de tránsito de los electrones. Este requisito fija un criterio para los varios modos de funcionamiento de dispositivos de estado sólido de resistencia diferencial negativa. Se propuso cuatro modos básicos de funcionamiento de diodos, con volumen uniformemente dopados, con contactos de bajo resistencia; por parte de Copeland en 1967. Como se muestra en la figura 1.15: 25 Figura 1.15: Modos de operación de Diodos Gunn(2) Estos cuatro modos de operación son: 1. Modo de Oscilación Gunn 2. Modo de Oscilación LSA 3. El modo de amplificación estable 4. Modo de Oscilación de circuito con polarización 12 2 14 2 1.2.5.1.- Modo de Oscilación Gunn ( 10 / cm ≤ (no L )〈10 / cm ) Este modo se define en la región dónde el producto de frecuencia multiplicada por la longitud es aproximadamente 107 cm/s y el producto del dopado multiplicado por la longitud es mayor que 1012/cm2. En esta región los dispositivos son inestables debido a la formación cíclica de la capa de acumulación o el dominio Gunn. En un circuito con la impedancia relativamente baja los dispositivos operan en el modo de dominio Gunn y la frecuencia de oscilación está cercana a la frecuencia intrínseca. 26 Cuando el dispositivo está funcionando en una cavidad de relativamente alto-Q y acoplada directamente a la carga, el dominio se extingue o se retrasa (o ambos) antes de la acumulación. En este caso, la frecuencia de la oscilación se determina casi completamente por la frecuencia resonante de la cavidad y tiene un valor de varias veces la frecuencia intrínseca. La mayoría de los diodos de efecto Gunn tienen el producto del dopado x longitud (noL) mayor que 1012/cm2. Sin embargo, el modo que observó el propio Gunn tenía un producto noL mucho menor. Cuando el producto de noL es mayor que 1012/cm2 en GaAs, la perturbación de carga espacial en la muestra incrementa exponencialmente el espacio y tiempo de acuerdo con (1.20). Así un dominio Gunn se forma y desplaza del cátodo al ánodo como se describió anteriormente. La frecuencia de oscilación es dada por la relación (1.22): f = Donde ν dom vdom Leff (1.22) es la velocidad de dominio y Leff es la longitud efectiva que el dominio viaja desde el momento en que se forma hasta el que un nuevo dominio empieza a formarse. Gunn describió el comportamiento de osciladores Gunn bajo varias configuraciones del circuito. Cuando el circuito es principalmente resistivo o el voltaje a través del diodo es constante, el periodo de oscilación es el tiempo requerido para que el dominio fluya desde el cátodo al ánodo. 27 Este modo no es realmente típico de aplicaciones de microonda. Los dispositivos de conductividad negativa normalmente operan en circuitos resonantes, como cavidades resonantes microondas de alto valor Q. Como se describió previamente, el modo de oscilación Gunn se opera con el campo eléctrico mayor que el campo del umbral (E 〉 Eth). El dominio Gunn fluctúa a lo largo de la muestra hasta que alcance el ánodo o hasta que los valores del campo bajo decaigan por debajo del campo sostenido Es necesario para mantener ν s como se muestra en la figura 1.16: Figura 1.16: Representación de Dominio Gunn, Velocidad de Deriva vs Campo Eléctrico(2) La velocidad de deriva de sustentación para el GaAs es ν s=107cm/s. Puesto que la velocidad de deriva de los electrones ν varía con el campo eléctrico, hay tres posibles modos de dominio para el modo de oscilación Gunn. 1.2.5.1.1. Modo de dominio de momento de tránsito (fL ≈ 107cm/s): Cuando la velocidad de deriva del electrón ν d es igual a la velocidad sostenida ν s, el dominio de campo elevado es estable. En otras palabras, la velocidad de deriva del electrón esta da por: vd = vs = fL ≈ 10 7 cm / s (1.23) Entonces el periodo de oscilación es igual al tiempo del tránsito, eso es: τ o = τ t . 28 Esta situación se muestra en la figura 1.17(a). La eficiencia está por debajo del 10% porque la corriente sólo se acumula cuando el dominio llega al ánodo. Figura 1.17 a: Longitud de Onda con periodo igual al tiempo de Tránsito τ 0 = τ t (2) 1.2.5.1.2. Modo dominio retrasado (106cm/s 〈 fL 〈 107cm/s): Cuando el tiempo de tránsito es elegido para que el dominio se acumule mientras E 〈 Eth como se muestra en la figura 1.17 (b), un nuevo dominio no puede formarse hasta que el campo se eleve por encima del umbral nuevamente. Figura 1.17 (b): Longitud de Onda con periodo mayor al tiempo de Tránsito τ 0 〉τ t (2) En este caso, el periodo de la oscilación es mayor que el tiempo de transito, τ o 〉τ t . Esto modo de retardo se llama también modo inhibido. La eficacia de este modo es aproximadamente 20%. 1.2.5.1.3. Modo de dominio apagado (fL 〉 2*107 cm/s): Si la pendiente del campo cae por debajo del campo sostenido Es durante el medio ciclo negativo mostrado en la figura 1.17 (c), el dominio se extingue antes de que alcance el ánodo. 29 Figura 1.17 (c): Longitud de Onda con periodo menor al tiempo de Tránsito τ 0 〈τ t (2) Cuando la pendiente del campo oscila sostenidamente por encima del umbral, un nuevo dominio se agrupa y el proceso se repite. Por consiguiente la oscilación ocurre a la frecuencia del circuito resonante en lugar de a la frecuencia de tiempo de tránsito. Se ha encontrado que la frecuencia resonante del circuito es varias veces la frecuencia del tiempo de tránsito, desde que un dipolo no tiene suficiente tiempo para reajustar y absorber el voltaje de otros dipolos. Teóricamente, la eficiencia de osciladores en dominio apagado puede alcanzar el 13%. 1.2.5.2.- Modo LSA (fL 〉 2 × 10 7 cm / s ) Este modo se define en la región dónde el producto de longitud por frecuencia es sobre los 107 cm/s y el cociente de dopado dividido por la frecuencia está entre 2*104 y 2*105. Cuando la frecuencia es muy alta, los dominios no tienen el tiempo suficiente para formarse mientras el campo está por encima del umbral. Como resultado, la mayoría de los dominios se mantiene en el estado de conductancia negativa durante una gran porción del ciclo de voltaje. 30 Cualquier acumulación de electrones cerca del cátodo tiene tiempo para dispersarse mientras la señal está debajo del umbral. Así el modo LSA es el modo más simple de funcionamiento, y consiste en un semiconductor uniformemente dopado sin ninguna carga espacial interna. En este caso, el campo eléctrico interno sería uniforme y proporcional al voltaje aplicado. La corriente en los dispositivos será entonces proporcional a la velocidad de deriva en este nivel de campo. La eficacia del modo LSA puede alcanzar el 20%. El período de oscilación τ 0 no debe ser mayor que varias veces la magnitud del tiempo de relajación del dieléctrico en la región conducción negativa τ d . La oscilación mostrada en la figura 1.17 (d) es τ 0 = 3τ d . Figura 1.17 (d): Longitud de Onda con periodo menor al tiempo de Tránsito τ 0 〈τ t ; τ 0 = 3τ d (2) Como se describió antes, la velocidad de deriva sostenida es 107cm/s como se muestra en (1.23) y Figura 1.16. Para el GaAs tipo n, el producto del dopado por longitud (n0L) es aproximadamente 1012/cm2. En el límite de baja frecuencia, la velocidad de deriva esta dada por: vl = fL = 5 x10 6 cm / s (1.24) 31 La relación de n0L a fL de rendimiento: n0 = 2x105 f (1.25) En el límite de frecuencia superior se asume que la velocidad de deriva es: vu = fL = 5 x10 7 cm / s (1.26) y la proporción de n0L a fL es: n0 = 2x10 4 f (1.27) 1.2.5.3.- Modo de Amplificación Estable ( n0 L〈1012 / cm 2 ) Este modo se define en la región dónde el producto de la frecuencia por longitud es aproximadamente 107 cm/s y el producto de dopado por longitud está entre 1011 y 1012/cm2. Cuando el producto de n0L del dispositivo es menor que aproximadamente 1012/cm2, el dispositivo exhibe la amplificación a la frecuencia de tiempo de tránsito en lugar de la oscilación espontánea. Esta situación ocurre porque la conductancia negativa se utiliza sin la formación del dominio. Hay muy pocos portadores para la formación del dominio dentro del tiempo del tránsito. Por consiguiente la amplificación de señales cerca de la frecuencia del tiempo de tránsito puede lograrse. 32 Figura 1.18: Modos de Operación de Amplificación(2) Los varios modos de funcionamiento de diodos de Gunn pueden ser clasificados en base a los tiempos en que varios procesos ocurren. Estos tiempos se definen como: τ t = tiempo de tránsito de dominio τ d = tiempo de relajación del dieléctrico a campo bajo τ g = tiempo de crecimiento de dominio τ o = periodo natural de oscilación de un circuito eléctrico externo de alto Q Se resumen los modos descritos previamente en la tabla 1.2 Tabla1.2 Modo Relación de Tiempo Nivel de Dopado Naturaleza del circuito Amplificación Estable τ0 ≥τt n0 L〈1012 No resonante Dominio de Oscilación τ g ≤τt n0 L〉1012 No Gunn τ0 =τt Dominio τ g ≤τt Desconectado τ 0 〈τ t Dominio retardado τ g ≤τt τ 0 〈τ g τ 0 〉τ t voltaje constante n0 L〉1012 Resonante, impedancia finita n0 L〉1012 τ 0 〉τ t LSA resonante, Resonante, impedancia infinita n 2 x10 4 〈 0 〈 2 x105 f Multi resonante; impedancia; polarización dc alta alto 33 1.2.5.4.- Modo de Oscilación de circuito con polarización Este modo sólo ocurre cuando hay el modo de oscilación Gunn o LSA, y normalmente está en la región dónde el producto de longitud por frecuencia es demasiado pequeño para aparecer en la figura 1.15. Cuando un diodo de estado sólido esta influido al umbral, la corriente promedio de repente baja cuando empieza la oscilación Gunn. La baja en la corriente al umbral puede llevar a la oscilación en el circuito de conducción que es típicamente de 1 Khz a 100 Mhz. 1.3.- TECNOLOGÍAS PARA CONSTRUCCIÓN DE CIRCUITOS MICROONDAS Para la construcción de circuitos microondas, se han desarrollado varios tipos de tecnologías como son: Los circuitos en base a guías de onda, circuitos en guías coaxiales, circuitos de resonadores de línea; cada uno de ellos presentan características propias y convenientes dependiendo del tipo de aplicación que vayamos a realizar. Las más utilizadas anteriormente eran los circuitos de guías de onda debido a su característica de un alto valor de Q, menos perdidas que los otros. Pero actualmente debido al grado de miniaturización que se puede llegar en circuitos integrados planares, el tipo de sustratos dieléctricos usados y que actualmente se posee la tecnología para desarrollar circuitos microondas monolíticos, estos son los más frecuentes. A continuación se presenta las estructuras de Guías de Onda y circuitos integrados planares Figura 1.19. 34 Figura 1.19: Guía de Onda y Circuitos Integrados Planares(7) A continuación se exponen las características comparativas de las líneas de transmisión y las guías de onda en la tabla 1.3: Tabla 1.3 Línea de Rango de Rango de Dimensión Transmisión Frecuencia Impedanci de Sección Utilizado a (Ω) Transversa (GHz) Guía 〈 300 Factor-Q Rango de Montaje de Potencial Potencia Dispositivo por Bajo s Activos Costo de l 100-500 Rectangular Moderado Producción Alto Alto Fácil Pobre a largo 〈 50 10-100 Moderado Moderado Moderado Justo Pobre Stripline 〈 10 10-100 Moderado Bajo Bajo Justo Bueno Microstripe ≤ 100 10-100 Pequeña Bajo Bajo Fácil Bueno ≤ 150 20-150 Pequeña Moderado Bajo Fácil Justo ≤ 150 ≤ 60 ≤ 60 20-400 Moderado Moderado Bajo Fácil Justo 60-200 Pequeña Bajo Bajo Justo Bueno 40-150 Pequeña Bajo Bajo Justo Bueno Guía Coaxial Line Stripline Suspendida Finline Slotline Guía Coplanar 35 1.3.1 GUÍA COAXIAL La guía coaxial o cable coaxial es muy utilizado como cable de transmisión de señales de información dado que presenta entre sus características: bajas pérdidas, gran ancho de banda. Es muy común encontrarlo en las instalaciones de TV cable, en interconexión de equipos y equipos de medición; típicamente podemos encontrar cables coaxiales con una impedancia característica de 50 Ω y 75 Ω . La estructura de guía coaxial es el conjunto de dos conductores cilíndricos concéntricos. Como la que se muestra en la figura 1.20: Figura 1.20: Secciones de guía coaxial(4) La existencia de más de un conductor posibilita la existencia del modo TEM, y además presenta una frecuencia de corte igual cero, lo que le convierte en el modo fundamental de un cable coaxial. Para poder establecer el ancho de banda del coaxial se debería analizar los modos de orden superior, modos TE y TM, y establecer cuál de ellos presenta la frecuencia de corte más baja. Esta frecuencia sería máxima de utilización en el coaxial, estableciendo así el ancho de banda del mismo. En la figura 1.21 se muestra un diagrama que da las longitudes de onda de corte de algunos modos superiores en función de la relación b/a. 36 Figura 1.21: Algunos modos de Propagación sobre Guía Coaxial(4) Se puede observar en la figura 1.21 que en el eje horizontal el valor más bajo de b/a es 1.0, esta se debe a que cuando b/a=1 se pierde la geometría de la guía coaxial. Después de un análisis aproximado se demostra que el modo TM con frecuencia de corte más baja es el TM01, cumpliéndose aproximadamente en este caso que: λcTM ≈ 2(b − a) 01 f cTM 01 ≈ 1 2 µε (b − a ) (1.28) (1.29) Realizando un análisis similar para los modos TE resulta que es el modo TE11 el que presenta la frecuencia de corte más baja, cumpliéndose en este caso que: λcTE ≈ π (a + b) 11 f cTE11 ≈ 1 π µε (a + b) (1.30) (1.31) 37 Finalmente analizando la relación del voltaje y la corriente en una guía coaxial podemos encontrar la siguiente relación: µ V b Z 0 = = ε ln I 2π a (1.32) Un caso particular de la ecuación (1.32) es cuando el medio es el aire por tanto: µ ε = µ0 ε 0 = 120πΩ = 377Ω (1.33) Obtenemos la expresión: b Z 0 = 60 ln Ω a (1.34) Una aplicación de las líneas coaxiales son las cavidades re-entrantes las cuales serán analizadas en la sección 1.3.3. 1.3.2 CIRCUITOS MICROONDAS STRIP-LINE Esta tecnología surgió en un intento de superar los problemas que se tenían con las guías coaxiales, que pese a proporcionar un gran ancho de banda monomodo, los componentes eran muy costosos. R.M. Barret en 1.952, fue el principal precursor de los circuitos strip-line. Poco después, en los Laboratorios Federales de Comunicaciones de ITT se publicaron tres artículos sobre los circuitos microstrip-line, que eran en todo similares al de Barret, salvo la estructura elegida. La principal razón para elegir los circuitos strip-line es que el modo dominante de propagación es el TEM, por lo que no hay dispersión. 38 Mientras que en la microstrip-line se propaga en un modo quasi-TEM, por lo que hay una ligera dispersión y al tratarse de una estructura abierta aparecen pérdidas por radiación. Debido a esto inicialmente fueron muy utilizadas las líneas strip-line o circuitos triplaca. Un circuito triplaca consiste en una pista de cobre entre dos planos conductores que sirven de retorno de la señal. En la ecuación 1.35 podemos observar la relación para poder identificar la impedancia Z0 en estos circuitos. 2 4(b − t ) 8(b − t ) 8(b − t ) Z0 = . ln 1 + . + + 6.27 π .w´ π .w´ π .w´ εr 60 Donde: b=2h+t w´= w + ∆w .t t ∆w 1 = ln t π e 2 m 1 0,25π + 2(b − t ) w / t + 1,1 En la figura 1.22 la estructura del circuito strip-line. Figura 1.22 Estructura strip-line(5) (1.35) 39 Las partes del circuito triplaca son: w = ancho de la cinta conductora intermedia h = distancia de la cinta conductora hasta el plano conductor más cercano b = distancia entre los dos planos conductores t = espesor de la cinta conductora intermedia ε r = constante dieléctrica relativa del sustrato utilizado en la sección intermedia 1.3.3.- CIRCUITOS MICROONDAS MICROSTRIP-LINE En los años 60, los circuitos microstrip-line vuelven a aparecer, pero con una sección transversal muy reducida y con la utilización de sustratos dieléctricos. De este modo se reducían mucho las pérdidas, lo que favorece la fabricación de circuitos integrados de microondas. Por la que la tecnología microstrip-line es una de las tecnologías mas ampliamente utilizadas para la construcción de circuitos integrados microondas, sobre líneas de transmisión. Entre las ventajas de esta tecnología tenemos: bajo costo, tamaño reducido, fácil integración de dispositivos activos, uso de métodos fotolitográfico para la producción de los circuitos, fácil producción en masa, compatibilidad con circuitos integrados microondas monolíticos. Los circuitos integrados microondas monolíticos (MMICS) son circuitos integrados fabricados con tecnología microstrip-line pero utilizando sustratos de Ga-As o silicio pero con los dispositivos activos y circuitos pasivos integrados en el chip. Las desventajas de estos circuitos en comparación con las guías de onda rectangular y circuitos de guías coaxiales son: las altas pérdidas, inestabilidad a temperaturas elevadas, baja potencia. A continuación se muestra la sección transversal de una microstrip-line. Figura 1.23. 40 Figura 1.23: Sección Transversal Circuito Microstrip(3) Se puede observar una cinta conductora de ancho ‘w’, sobre un sustrato de espesor ‘h’ y permitividad relativa ε r sobre un plano de tierra. Se utilizan generalmente dos tipos de sustratos. Sustratos suaves que son flexibles y baratos, tienen coeficientes de expansión térmica elevados, ejemplos de estos son: RT Duroid 5870 ( ε r = 2.3 ),RT Duroid 5880 ( ε r = 2.2 ) , RT Duroid 6010.5 ( ε r = 10.5 ) Sustratos rígidos tienen mejor desempeño y coeficientes de expansión térmica reducidos, pero son costosos, entre estos sustratos tenemos: quartz ( ε r = 3.8 ), alumina ( ε r = 9.7 ), sapphire ( ε r = 11.7 ), GaAs ( ε r = 12.3 ) A continuación se presenta una tabla 1.4 de algunos sustratos y sus propiedades. Tabla 1.4: Algunos sustratos y sus propiedades(3) 41 Los parámetros más importantes en un circuito microstrip-line son; w, h y ε r . El espesor t del conductor de ancho w y la conductividad σ son secundarios. En circuitos microstrip-line se propagan modos cuasi-TEM, debido a que las líneas de transmisión parcialmente llenas no soportan un único modo de propagación. Como se observar en la Figura 1.24, en un circuito microstrip-line existe un cambio abrupto aire-dieléctrico, lo que impide que existan modos TEM, TE o TM puros. Figura 1.24: Distribución de Campos en Circuito Microstrip-line(6) Para el análisis cuasi estático, las líneas de transmisión se calculan con dos valores de capacitancia; C y Ca que son capacitancias internas y externas del sustrato. La impedancia característica, velocidad de fase, longitud de onda de la guía y constante dieléctrica efectiva, a continuación: Z0 = vp = c ε eff = 1 1 c CCa (1.36) Ca c = C ε eff (1.37) C λ0 = Ca λg (1.38) 42 λg = λ0 ε eff (1.39) Donde c es la velocidad de la luz en el vacio, λ0 es la longitud de onda en espacio libre. Relacionando los parámetros importantes en los circuitos microstrip se pueden obtener ciertas ecuaciones de interés. Que pueden simplificar el proceso de cálculo de los parámetros de un circuito de dicha tecnología. Para los valores de relacionar w h tenemos: Cuando w h ≤ 1 : ε eff = 1 − 2 12h 2 w 1 + + 0 . 04 1 − w h ε r + 1 ε r − 1 2 + 2 Z 0 = 60(ε eff ) −1 2 8h 0.25w ln + h w (1.40) (1.41) Cuando w h〉1 ε eff = εr +1 εr −1 2 + 12h 1 + 2 w 120π (ε eff ) −1 Z0 = − 1 2 (1.42) 2 (w h ) + 1.393 + 0.667 ln(1.444 + w h ) (1.43) Para complementar este grupo de fórmulas, cuando conocemos Z0 y ε r y necesitamos hallar los valores de w h y ε eff ; podemos utilizar. 43 Para líneas angostas, es el caso Z 0 〉 44 − 2ε r ohm. w exp H ´ 1 = − h 8 4 exp H ´ H ´= (1.44) Z 0 2(ε r + 1) 1 ε r − 1 π 1 4 ln + ln + 119.9 2 ε r + 1 2 ε r π ε eff = εr +1 2 1 ε r − 1 π 1 4 ln + ln 1 − 2 H ´ ε + 1 r 2 ε r π (1.45) (1.46) Para líneas anchas, es el caso de Z 0 〈 44 − 2ε r ε −1 w 2 0.517 ln(dε − 1) + 0.293 − = {(dε − 1) − ln(2dε − 1)} + r h π πε r ε r dε = ε eff = 59.95π 2 Z0 ε r εr +1 εr −1 2 h 1 + 10 2 w + (1.47) (1.48) −0.555 (1.49) Si utilizamos directamente Z0 tenemos: ε eff = εr 0.96 + ε r (0.109 − 0.004ε r )(log[10 + Z 0 ] − 1) (1.50) Podemos utilizar dos figuras q nos ayudan a averiguar valores de Z0 y ε eff si conocemos w h . 44 La siguiente figura 1.25 relaciona Z0, ε r y w h : Figura 1.25: relación Z0, ε r y w h (3) Relación de la longitud de onda del circuito microstrip, ε r y w h : Figura 1.26: λ , ε r y w h (3) 45 Debido a las características de los circuitos microstrip-line, tenemos presentes pérdidas en el conductor, pérdidas dieléctricas y pérdidas de radiación. Además pueden existir perdidas de tipo magnéticas pero estas son críticas en ferritas. La constante de propagación en una línea de transmisión con pérdidas es: γ = α+jβ (1.51) Donde α es atenuación en Nepers [Neper] por unidad de longitud, que en este caso sería la suma de las constantes de atenuación que se presentan de cada efecto. En la práctica, uno puede preferir expresar α en los decibelios [dB] por unidad de longitud, que se puede relacionar de la siguiente ecuación 1.52: α (dB m ) = (20 log10 e )α ( Neper m ) ≈ 8.686α ( Neper m ) (1.52) Una ecuación aplicable para cuantificar la atenuación producida por el conductor es la ecuación 1.53: αc = 8.686 Rs (dB m) Z 0W (1.53) Donde Zo es la impedancia característica de la línea microstrip con anchura W, y Rs representa la resistencia del conductor en ohmios por unidad de superficie, para la línea y el plano de tierra. Para el caso de un conductor: Rs = wµ 0 2σ (1.54) 46 Donde σ es la conductividad, µ0 es la permeabilidad del espacio libre, y ω es la frecuencia angular. La atenuación debido a las pérdidas dieléctricas en una microstrip-line es: ε eff − 1 ε r tan δ [dB / m] ε r − 1 ε eff λg α d = 8.68π (1.55) Donde tan δ es la tangente de las pérdidas del substrato dieléctrico. Como un circuito microstrip-line es una estructura semiabierta puede perder potencia por radiación en cualquier discontinuidad que tenga y además la discontinuidad que causa mayor radiación es un circuito abierto. Los circuitos microstrip-line deben ser blindados con cajas metálicas para protegerlo de la atenuación debido a la radiación. 1.3.3.1 Discontinuidades en líneas microstrip En los circuitos de microondas con líneas microstrip aparecen discontinuidades encontradas cuando utilizamos alguna disposición de filtros prácticos. Estos pueden ser: steps, open-ends, bends y gaps. Las siguientes figuras ilustran estas estructuras típicas y sus circuitos equivalentes. Figura 1.27: Steps(6) 47 Figura 1.28: Open-ends(6) Figura 1.29: Gaps(6) Figura 1.30: Bends(6) 1.3.3 RESONADORES POR CAVIDADES REENTRANTES A frecuencias por debajo del rango de las microondas, la cavidad resonante puede representarse por un circuito resonante, tipo tanque. Cuando la frecuencia de operación se aumenta a varias centenas de MHz, la inductancia y la capacitancia se pueden reducir a un mínimo para mantener la resonancia a la frecuencia de operación. 48 Por consiguiente las cavidades re-entrantes se diseñan para el uso en los klystrons y tríodos microonda. Una cavidad reentrante es aquella en que los límites metálicos se extienden en el interior de la cavidad. Se muestran varios tipos de cavidades del re-entrantes en la Figura 1.31. Figura 1.31: (a) Cavidad Coaxial; (b) Cavidad Radial ; (c) Cavidad Sintonizable; (d) Cavidad Toroidal ; (e) Cavidad Mariposa. (2) Una de las cavidades reentrantes normalmente usadas es la cavidad coaxial mostrada en la Figura 1.32. Cavidad Coaxial y su equivalente. Figura 1.32: a) Cavidad Coaxial y b) Sección Transversal de Cavidad Coaxial(3) Esta sección de la figura 1.32b tiene el equivalente eléctrico siguiente: Figura 1.33: Circuito Equivalente de Cavidad Coaxial 49 Está claro en la Figura 1.32 que no sólo tenemos que la inductancia se disminuyo considerablemente sino las pérdidas de resistencia también están notablemente reducidas, un recubrimiento-enmallado previene las pérdidas de radiación. Es difícil calcular la frecuencia de resonancia de una cavidad coaxial. Sin embargo una aproximación puede hacerse, usando la teoría de líneas de transmisión. La impedancia característica de una línea coaxial esta dada por: Z0 = 1 2π µ b ln Ω ε a (1.56) La cavidad coaxial es similar a una línea coaxial puesta en cortocircuito en los dos extremos y unido al centro como un condensador. La impedancia de entrada para cada cortocircuito en la línea coaxial se da por: Z in = jZ 0 tan β l (1.57) Donde l es la longitud del cable coaxial. Sustituyendo (1.36) en (1.37) el resultado es: Z in = j µ b ln tan βl ε a 1 2π (1.58) La inductancia de la cavidad esta dada por: L= 2 X in ω = µ b ln tan β l πω ε a 1 (1.59) y la capacitancia de la abertura de la cavidad es: cg = επa 2 d (1.60) 50 En resonancia la reactancia inductiva de los dos cortocircuitos de las líneas coaxiales en serie es igual en magnitud a la reactancia capacitiva de la abertura. Por tanto: ωL = 1 ωc g Asi: tan β l = dv b ωa ln a (1.61) (1.62) 2 Donde v = 1 µε es la fase de la velocidad en cualquier medio. La solución a esta ecuación da la frecuencia de resonancia de una cavidad coaxial. Ya que (1.62) contiene la función tangente, tiene un número infinito de soluciones con grandes valores de frecuencia. Por consiguiente este tipo de cavidad reentrante puede sostener un número infinito de frecuencias resonantes o modos de oscilación. Puede demostrarse que en una cavidad de línea coaxial la energía magnética almacenada está distribuida en un mayor espacio que la energía eléctrica. El equilibrio de la energía eléctrica almacenada aparece en la abertura, a causa de la resonancia las energías magnética y eléctrica almacenadas son iguales. La cavidad reentrante radial mostrada en la Figura 1.34 es otro resonador reentrante normalmente utilizado. Figura 1.34: Cavidad Re-entrante(3) 51 El equivalente circuital de la figura 1.34 es la siguiente: Figura 1.35: Circuito Equivalente de Cavidad Re-entrante La inductancia y capacitancia2 de una cavidad reentrante radial es expresada como: L= µl b ln 2π a πa 2 0.765 c = ε0 − 4a ln l 2 + (b − a) 2 d (1.63) (1.64) La frecuencia de resonancia esta dada por: fr = 1 πa 2 0.765 µl b 2π ln * ε 0 − 4a ln 2π a l 2 + (b − a) 2 d (1.65) Donde c = 3x108 m/s, esta es la velocidad de la luz en el vacío. 1.3.4 GUÍAS DE ONDA El reducido tamaño de la longitud de onda en microondas ofrece distintas ventajas en muchas aplicaciones. Por ejemplo, pueden obtenerse directividades excelentes usando antenas relativamente pequeñas y transmisores de bajo-poder. Estos rasgos son ideales para el uso en aplicaciones de comunicaciones militares y civiles. 2 FUJISAWA K., General Treatment of Klystron Resonant Cavities. IRE Transaction MIT-6, 344-358, Oct. 1958 52 Las antenas pequeñas y otros componentes pequeños son posibles debido a las aplicaciones en frecuencias de microondas. Ésta es una consideración importante en la planificación del equipo a bordo donde los mayores problemas son el espacio y el peso. Las frecuencias en el orden de las microondas presentan problemas especiales en la transmisión, generación, y diseño del circuito que no se encuentran a más bajas frecuencias. Las guías de onda son medios de transmisión formados por un solo conductor hueco, por el interior del cual se propaga la energía electromagnética, estas guías presentan unas características muy buenas para trabajar en frecuencias de microondas. 1.3.4.1 Ventajas de las Guías de Onda Guías de Onda tienen varias ventajas frente a las líneas de transmisión formada por dos alambres y líneas coaxiales. El área superficial grande en las guías de ondas reducen en gran medida las pérdidas (I2R). Las líneas de transmisión de dos-alambres tienen las pérdidas grandes por el cobre, porque ellos tienen un área superficial relativamente pequeña. El área superficial del conductor exterior de un cable coaxial es grande, pero el área superficial del conductor interno es relativamente pequeña. A las frecuencias del microonda, el área del flujo de corriente del conductor interno se restringe a una capa muy pequeña a la superficie del conductor por una acción llamada el efecto piel (SKIN), el efecto piel tiende a aumentar la resistencia eficaz del conductor. 53 Aunque el traslado de energía en el cable coaxial se causa por el movimiento del campo electromagnético, la magnitud del campo está limitada por el tamaño del área del flujo de corriente del conductor interno. El tamaño pequeño del conductor del centro incluso se reduce más allá por el efecto piel y la transmisión de energía por el cable coaxial se vuelve menos eficaz que por guías de onda. Presenta mejores características de atenuación en comparación con la tecnología Microstrip Line como se muestra en la figura 1.36: Figura 1.36: Atenuación vs Frecuencia para Guías de Onda, Coaxial y Microstrip Line(9) La nomenclatura de la figura es: rectangular waveguide WR, double ridge rectangular waveguide WRD, coaxial coax. 54 1.3.4.3 Desventajas de Guía de Onda El tamaño físico es la limitación principal de las guía de onda a bajas frecuencias. El ancho de una guía de Onda debe estar aproximadamente a una media longitud de onda de la frecuencia de la onda ser transportado, esto hace el uso de Guías de onda impráctica a las frecuencias debajo de 1 GHz. Las guías de onda son difíciles instalar debido a su rigidez, forma de cañería hueca. También, las guías de onda se recubren a menudo las superficies interiores con plata u oro para reducir las pérdidas de efecto superficiales. Estos requisitos aumentan los costos y disminuyen la viabilidad de sistemas de guía de onda a frecuencias de microondas. 1.3.4.3 Guía rectangular Los tipos de guía ondas más usados son la guía onda rectangular y la circular. En esta sección es de interés el estudio de las guías de onda rectangulares. La guía de onda rectangular consiste en un tubo hueco conductor de sección rectangular y dimensiones internas a y b como se muestra en la figura 1.37. Figura 1.37: Estructura Guía Rectangular(4) Tanto para modos TE como TM la ecuación de onda para la componente axial es: 55 ∇ t2 Az + k c2 Az = 0 (1.66) Donde Az representa Hz y Ez respectivamente. En coordenadas rectangulares la ecuación anterior se escribe: ∂ 2 Az ∂ 2 Az + + k c2 Az = 0 2 2 ∂x ∂y (1.67) Resolviendo ecuaciones diferenciales se tendría que Az sería: Az = ( A1 cos k x x + B1 senk x x )(C1 cos k y y + D1 senk y y ) (1.68) Imponiendo las condiciones de contorno de la guía rectangular resultarán dos conjuntos de soluciones: 1.3.4.3.1 Modos TM (Az = Ez) Condiciones de contorno: Ez = 0 en x = 0, y = 0, x = a y y = b resultando: x = 0 ⇒ A1 = 0 y = 0 ⇒ C1 = 0 x = a ⇒ B1 senk x a = 0 ⇒ k x a = mπ m=1,2,3,… y = b ⇒ D1 senk y b = 0 ⇒ k y b = nπ n=1,2,3,… Se descartan los valores m = 0 y n = 0, pues supondrían Ez = 0. De forma que debería cumplirse que: mπ nπ ;ky = a b (1.69) mπ nπ k = + a b (1.70) kx = 2 2 c E z = Asenk x xsenk y y 2 (1.71) 56 Con lo que: Ex = − Ey = − jβ Ak x cos k x xsenk y y k c2 (1.72) jβ Ak y senk x x cos k y y k c2 Hx = − Hy = (1.73) Ey (1.74) Z TM Ex Z TM (1.75) Donde: Z TM γ k = =η 1− c jωε k 2 (1.76) 1.3.4.3.2 Modos TE (Az = Hz) En este caso se tiene Hz ≠ 0. r ∂H z jωµ jωµ ∂H z Et = − 2 ∇ t × H z zˆ = − 2 xˆ − yˆ ∂x kc k c ∂y (1.77) Condiciones de contorno: Ey = 0 en x = 0 y x = a y Ex = 0 en y = 0 y y = b, por lo que haciendo uso de 1.77 supone las siguientes condiciones de contorno: ∂H z ∂x x =0, a ∂H z ∂y y = 0 ,b =0 =0 Aplicándolas a la expresión general 1.68 se tendría que: x = 0; ∂H z = 0 ⇒ B1 = 0 ∂x y = 0; ∂H z = 0 ⇒ D1 = 0 ∂y 57 x = a; ∂Hz = 0 ⇒ senk x a = 0 ⇒ k x a = mπ ∂x m=0,1,2,3,… y = b; ∂H z = 0 ⇒ senk y b = 0 ⇒ k y b = nπ ∂y n=0,1,2,3,… Si m = 0 y n = 0 simultáneamente Hz sería constante y no tendría componentes transversales, por lo que el modo TE00 no supone flujo de potencia. Este modo no tiene sentido físico pero sí necesita ser considerado para garantizar la complitud de la serie de Fourier. De forma que debería cumplirse que: kx = mπ nπ ;ky = a b mπ nπ k = + a b 2 (1.69) 2 2 c (1.70) H z = B cos k x x cos k y y (1.78) Con lo que: Hx = jβ Bk x senk x x cos k y y k c2 (1.79) Hy = jβ Bk y cos k x xsenk y y k c2 (1.80) E x = H y Z TE (1.81) Ey = − H x Z TE (1.82) Donde: Z TE = jωµ γ = n k 1− c k 2 (1.83) 58 1.3.4.3.3 Características de propagación Si bien las expresiones de los campos son distintas para cada modo, las características de propagación son iguales para modos del mismo orden. Se observa en primer lugar que existe una doble infinidad de modos posibles de cada tipo correspondiendo a todas las combinaciones posibles de enteros m y n. Se puede notar que m y n corresponden al número de mínimos o de conjuntos de líneas de las ondas estacionarias transversales. Los modos se designan de acuerdo con este par de subíndices y así se hablaría de modos TEmn y modos TMmn. Los modos transversales eléctricos TE pueden existir con m o n iguales a cero pero no ambos a la vez. A continuación se puede observar en la figura algunos ejemplos de modo TEmn. 1. vista de la sección transversal, 2. vista de la sección longitudinal, 3. vista superficial. TE11 TE21 Figura 1.38: Distribución de campos para modos TE en guías rectangulares(12) 59 Por el contrario en los modos TM no puede ser cero ninguno de los dos subíndices para que haya solución distinta de la trivial. Se presenta a continuación un a figura con alguno ejemplos de modos Tmn. 1. vista de la sección transversal, 2. vista de la sección longitudinal, 3. vista superficial. TM11 TM21 TM22 Figura 1.39: Distribución de campos para modos TM en guías rectangulares(12) Dentro de este conjunto de soluciones se encuentran aquellos que teniendo diferentes expresiones de los campos electromagnéticos, presentan la misma frecuencia de corte; a estos modos se les conoce como degenerados. 60 Para ambos tipos de modos se ha obtenido: mπ nπ k = + a b 2 2 2 c (1.70) Con lo cual la longitud de onda de corte sería: λc = mn 2π = k cmn 2ab (1.84) (mb )2 + (na )2 Y la frecuencia de corte sería. f cmn = kc 2π µε = 1 2 µε 2 m n + a b 2 (1.85) La longitud de onda de corte depende solamente del orden del modo y de las dimensiones de la guía. La frecuencia de corte depende además del dieléctrico que rellena la guía. Se observa que a medida que aumenta el orden de los modos crece la frecuencia de corte. En la figura 1.40 se muestra un diagrama indicando la frecuencia de corte de los primeros modos referidos a la frecuencia de corte del fundamental TE10, para una guía rectangular de dimensiones b/a. Figura 1.40: Frecuencias de corte guía de onda rectangular(4) 61 Normalmente interesa que la energía electromagnética se propague en la configuración de un solo modo, para minimizar el efecto de distorsión y mejorar el acoplamiento entre la excitación y la recepción. Se sabe que sólo pueden propagarse aquellos modos cuya frecuencia de corte sea inferior a la frecuencia de trabajo, e interesa además que haya un cierto margen de frecuencias para el cual sólo se propague un modo. De lo expuesto y del diagrama de la figura 1.40 resulta evidente que interesa trabajar con el modo TE10 en una guía de dimensiones a = 2b, pues se tendría un margen teórico de frecuencias entre fc10 y 2fc10, dentro del cual solo se propagará dicho modo. Este modo es pues el más importante en la guía rectangular. Si se tomase un valor b/a < 0,5 también se tendría el mismo margen de frecuencias pero tendría el inconveniente que la sección de la guía sería menor y a la misma potencia transmitida requerirá campos más intensos. 1.3.4.3.4 Modo dominante TE10 Este modo es el de frecuencia de corte más baja de todos los modos posibles en guía rectangular. Su configuración de campos es la más sencilla posible y es el más importante desde el punto de vista de ingeniería de microondas. Este modo presenta, entre otras, las siguientes características: 1. Para una guía normalizada a = 2b, la atenuación debida a los conductores es baja. 2. La frecuencia de corte del modo superior más próximo a TE10 es el doble de su propia frecuencia de corte. 3. Su frecuencia de corte, fc = c/(2a) es independiente de una de las dimensiones (altura de la guía). Esto puede ser importante para aplicaciones que requieren guías de altura reducida. 62 4. La polarización del campo eléctrico es fija en toda la guía. Polarización vertical entre la cara superior e inferior. 5. La excitación de este modo en la guía es muy sencilla. Expresando los campos a partir de las fórmulas generales se tiene que: H z = B cos k x x cos(ωt − β z ) β (1.86) senk x xsen(ωt − βz ) (1.87) f E y = ηBsenk x xsen(ωt − βz ) fc (1.88) H x = −B kc Ex = H y = 0 (1.89) Siendo kx = π /a. O expresado de otra forma: E y = E0 senk x xsen(ωt − β z ) (1.90) E0 senk x xsen(ωt − βz ) Z TE (1.91) E0 cos k x x cos(ωt − β z ) η (1.92) Hx = − f H z = c f La distribución de campos en un cierto instante se representa en la figura 1.41. 63 r r Figura 1.41: Distribución del modo TE10 en una guía de onda rectangular ( E : azul , H : rojo )(4) Obsérvese que no hay variación según ‘y’; y que solo existe una componente de r r E y que las líneas de H forman circuitos cerrados. La distribución de corriente en las paredes de la guía se puede obtener a partir de r r la relación J = nˆ × H y se representa en la figura 1.42. Figura 1.42: Corriente superficial del modo TE10 en una guía de onda rectangular(4) 64 Para complementar el análisis la potencia transmitida viene dada por: PT = Eo2 ab(Wattios ) 4 Z TE (1.93) La máxima potencia que puede transmitir la guía, supuesto dieléctrico aire, es: 2 PTmáx = 6,63.10 −4 Eomáx ab λ (Wattios ) λg (1.94) Donde E0máx es el campo de ruptura (30,000 V/m) para el aire. 1.3.4.3.5 Características Guías de Onda rectangulares normalizadas: La guía de onda rectangular es una de las líneas de transmisión más ampliamente utilizadas, debido a que esta guía es adecuada para propagar señales de frecuencias elevadas, con longitudes de onda en el orden de milímetros es decir microondas y potencias de transmisión elevadas. En la tabla 1.5 se presentan característica de dimensiones y frecuencias de trabajo y corte que son necesarias para este proyecto. Se puede observar en la tabla las características de guías rectangulares donde WR significa Rectangular Waveguide designado por la EIA (Electronic Industry Association). Se puede observar las características de varias guías de onda rectangulares en la tabla1.5. 65 Tabla 1.5: Características de Guías de Onda Rectangulares(9) 66 CAPÍTULO 2: ALTERNATIVAS DE TECNOLOGÍAS MÁS VIABLES Y ECUACIONES. ANÁLISIS DE ECUACIONES PARA UN OSCILADOR, DISEÑO DEL MODELO, JUSTIFICACIÓN DE LA ALTERNATIVA TECNOLÓGICA ESCOGIDA. 2.1 ANÁLISIS DE UN OSCILADOR MEDIANTE ECUACIONES En los circuitos generadores de señal para aplicaciones de microondas, son muy utilizados los elementos de estado sólido, en nuestro caso el elemento de estado sólido de interés es el Diodo Gunn. Generalmente, para poder diseñar un oscilador con elementos de estado sólido primero debemos describir ciertos parámetros característicos que tienen que ver directamente al momento de realizar su diseño. 2.1.1. ALGUNOS PARÁMETROS DE UN CIRCUITO OSCILADOR A continuación se detallan algunos de los parámetros tomados en cuenta para el diseño de generadores de señal en el rango de las microondas: 1. Frecuencia de oscilación (f0) y su rango de variación ( ∆ f) bajo la acción de un control externo. 2. Potencia de salida (Pout) y eficiencia 3. Ruido: modificaciones aleatorias de la señal de Salida del oscilador, generalmente no deseadas. Este ruido se puede presentar principalmente como: Ruido AM, Ruido FM y Ruido de Fase. 67 4. «Pushing»: Cambio en la frecuencia de oscilación, causado por variaciones del punto de funcionamiento de los semiconductores. Este cambio de frecuencia no es siempre un efecto parásito y de hecho es utilizado en múltiples aplicaciones, como en la fabricación de Osciladores Controlados por Voltaje (VCO). 5. «Pulling»: Cambios en la frecuencia de oscilación debidos a variaciones de la fase de la impedancia de carga del circuito. De este parámetro tenemos la «Figura de Pulling», que es la variación de la frecuencia de oscilación cuando la fase de la carga varía 360º. 6. Estabilidad Térmica: Con este término se cuantifican las fluctuaciones en la frecuencia de oscilación y en la potencia de salida debidas a variaciones de la temperatura. 7. Señales de salida no deseadas (Spurious Outputs): Son señales que aparecen en el espectro de salida del oscilador a frecuencias diferentes de la frecuencia fundamental de la portadora. Se clasifican en: Armónicas, No armónicas y Paramétricas. 8. Deriva «Post-Tuning»: El término designa y cuantifica las variaciones de la frecuencia del oscilador cuando se trabaja en condiciones estacionarias. En general, esta deriva en frecuencia se debe al calentamiento gradual de los elementos semiconductores. 2.1.2. MÉTODOS PARA EL ANÁLISIS DE UN SISTEMA GENERADOR DE SEÑALES MICROONDAS Existen algunas formas de realizar el análisis de un sistema generador de señales, tomaremos en cuenta: el método de lazo cerrado y los osciladores de resistencia negativa. 68 2.1.2.1. El Método de lazo cerrado El método de lazo cerrado, es uno de los más utilizados en el diseño de circuitos osciladores de microondas dado que, a altas frecuencias el comportamiento de los dispositivos activos es más crítico. El método de lazo cerrado se basa en la consideración del sistema a estudiar como un circuito formado por un amplificador más una realimentación positiva. (figura 2.1) Figura 2.1: Circuito Equivalente de un oscilador en lazo cerrado(8) VIN y VOUT representan respectivamente las tensiones de entrada y salida del amplificador unilateral. Las funciones de transferencia usuales A(s) y R(s) se definen como: A(s ) = VOUT VIN (2.1) R (s ) = VR VOUT (2.2) Con lo que tenemos la siguiente función de transferencia del sistema: G (s ) = A(s ) 1 − A(s )R(s ) (2.3) En esta función tenemos: la función de transferencia en lazo cerrado A(s)R(s), y el factor de realimentación F(s)=1 - A(s)R(s). 69 La frecuencia de oscilación para el sistema vendrá dada por el criterio de Barkhausen: A(s )R(s ) = 1 (2.4) A( jw) R( jw) = 1 (2.5) arg[ A( jw)] + arg[R( jw)] = 0 (2.6) Si se considera de manera gráfica, a partir de la figura 2.2 se tiene que la condición de oscilación viene impuesta por la igualdad de las tensiones de entrada (al amplificador) y de salida (del bloque de realimentación) en modulo y fase: VIN ( jw0 ) = VR ( jw0 ) = Voscilación ( jw0 ) (2.7) Figura 2.2: Circuito equivalente de un oscilador en lazo abierto(8) Sustituyendo la etapa de Amplificación por un transistor o por su circuito equivalente, se obtiene el circuito final a estudiar que se representa en la figura 2.3. Figura 2.3: Sistema de un Oscilador con el circuito equivalente de un transistor(8) El método de lazo cerrado se basa en abrir el lazo para descomponer el oscilador en los dos elementos básicos que lo componen: bloque de ganancia y bloque de 70 filtro o realimentación, de modo que cada puerta presente la misma impedancia que se vería en operación normal (lazo cerrado). 2.1.2.2. Osciladores de resistencia negativa De una manera general y simplificada, se puede considerar que un circuito oscilador está compuesto por dos sub-circuitos (fig. 2.4): Figura 2.4: Esquema del oscilador(8) Uno totalmente pasivo y otro en el cual se encuentra el dispositivo activo que proporciona la energía necesaria para mantener la oscilación que en el estado estacionario debe ser uniforme en amplitud, frecuencia y fase. De esta manera Kurokawa2 propuso que el oscilador, en su estado estacionario, debería cumplir: Z d ( f ,Vdc , I dc , T ,...) + Z c ( f , geometría,...) = 0 (2.8) Donde Zd y Zc designan las impedancias vistas hacia el dispositivo y hacia la carga desde el plano AA’ de la figura 2.4, respectivamente. A partir de esta concepción de los circuitos osciladores se han desarrollado distintas versiones que expresan las condiciones que han de cumplirse para que los diferentes circuitos puedan funcionar como generadores de señal según el tipo 2 K.KUROKAWA; ‘Some Basic Characteristic of Broadband Negative Resistance Oscillators Circuits’; The Bell System Technical Journal, July 1969. 71 de parámetros que se estudien (impedancias, coeficientes de reflexión, admitancias, parámetros S, etc.). Estas condiciones cuando son aplicadas directamente en su versión más simple son utilizadas para conseguir circuitos operativos de una manera rápida y poco precisa, o bien, para realizar comprobaciones y ligeras modificaciones sobre circuitos ya previamente diseñados. Otras versiones más sofisticadas permiten determinar los elementos que se emplearán para originar las inestabilidades necesarias que produzcan la oscilación buscada. 2.1.2.2.1 Condiciones de oscilación mediante la utilización de impedancias: Se considera que el circuito oscilador total puede descomponerse en dos partes tal y como indica la figura 2.5 Figura 2.5: Representación de circuito oscilador(8) Se derivan las condiciones de oscilación a la frecuencia fundamental en términos de las impedancias presentadas por el dispositivo (Zd) y el resto del circuito (Zc) en el plano BB’. En dicha figura se ha incluido una fuente v(t) que representa el efecto del ruido, transitorios de la polarización, etc., y en general, cualquier otra fuente que pueda representar la aparición de una señal variable en el tiempo que de origen a la aparición de la oscilación. 72 Según los postulados de Kurokawa, y siguiendo la notación utilizada en el circuito de la figura 2.5, hay dos ecuaciones que describen el funcionamiento del oscilador. La primera se refiere a la corriente que circula: i (t ) = Re[l ] = A(t ) cos(wt + φ (t )) (2.9) Con: I (t ) = A(t ) exp[ j (wt + φ (t ))] (2.10) Donde I(t), A(t) y φ (t) se suponen de variación lenta con respecto al tiempo comparadas con i(t). La segunda ecuación se refiere a la relación de voltajes que existe entre los puntos BB’: vd (t , A) + Re[Z c (w)I (t )] = v(t ) (2.11) En la representación circuital de la figura 2.5 se supone que la impedancia del dispositivo, Zd (A), es una función dependiente de la amplitud y que en la impedancia de la carga, Zc ( ω ), se engloban las dependencias con la frecuencia. Partiendo de estas expresiones se llega a dos ecuaciones que relacionan las partes reales e imaginarias de las impedancias y que constituyen las ecuaciones que determinan las condiciones generales de oscilación: [Rc (w) + Rd ( A)]X ´c (w) − [X c (w) + X d ( A)]R´c (w) + [Z´c (w)]2 1 dA = 1 [X ´c (w)vc (t ) + R´c (w)vs (t )] A dt A (2.12) Donde: t vc (t ) = 2 v(t ) cos(wt + φ )dt T0 t −∫T0 (2.13) 73 vs (t ) = t 2 v(t )sen(wt + φ )dt T0 t −∫T0 (2.14) Para osciladores libres en su estado estacionario las ecuaciones anteriores se simplifican teniendo en cuenta que v(t)=0, dA/dt=0 y d φ /dt=0 y adquieren la forma: Rc (w) + Rd ( A) + j[X c (w) + X d ( A)] = 0 (2.15) Ecuación que permite determinar la amplitud A0 y la frecuencia ω 0 del oscilador en estado estacionario. De esta ecuación, y teniendo en cuenta que Rc( ω ) es siempre mayor que 0, se deduce que, para que pueda existir oscilación es necesario que el dispositivo presente una impedancia real negativa en el plano BB’ de la figura 2.5 2.1.2.2.2 Condiciones de oscilación mediante la utilización de coeficientes de reflexión El tratamiento anterior utiliza voltajes, corrientes e impedancias, magnitudes que, generalmente, no pueden ser directamente medidas a las frecuencias de microondas. Por este motivo muchos diseñadores prefieren trabajar con valores de coeficientes de reflexión que son fácilmente extraíbles de los aparatos de medida y más manejables para los diseños cuando se utiliza el diagrama de Smith. Para una mejor comprensión del coeficiente de reflexión puede considerarse la figura 2.6. 74 Figura 2.6: Onda Incidente y Onda Reflejada(8) En ella se define una onda sinusoidal a, normalizada en el espacio y en el tiempo, que incide sobre una impedancia genérica de valor Z, dada por la expresión: a= 1 (V (Z ) + I (Z )) 2 (2.16) De manera similar puede denominarse b a la onda reflejada, definida como: b= 1 (V (Z ) − I (Z )) 2 (2.17) Donde V es la tensión entre extremos de Z e I la intensidad que circula por ella, cuando se caracteriza el sistema de dicha figura a partir de ondas de corriente y tensión. El coeficiente de reflexión (Ã) se define de este modo como el cociente de b/a, que a partir de las dos expresiones anteriores adquiere la forma: Γ= Z − Z0 Z +Z 0 (2.18) Z0, impedancia característica de la línea de transmisión. Teniendo en cuenta la linealidad que existe entre a, b, V e I se puede representar la onda incidente con una dependencia del tiempo de la forma: 75 a(t ) = A(t ) cos[wt + φ (t )] (2.19) Con lo que la onda reflejada, adquiere la forma: dφ 1 dA b(t ) = Re Ae j (wt +φ )Γ w + −j dt A dt (2.20) y aplicando las definiciones anteriores a un circuito oscilador completo como el de la figura 2.7. Figura 2.7: Representación simplificada del circuito oscilador(8) A partir de un extenso desarrollo matemático para el oscilador libre funcionando de forma estacionaria, se llega a la relación: Γc = 1 Γd (2.21) Donde Γ d y Γ c son los coeficientes de reflexión que se observan en el plano BB’ desde el dispositivo activo y desde el resto del circuito, respectivamente. Dado que 0 < Γ c <1, se concluye que para que sea posible la construcción de un circuito oscilador el coeficiente de reflexión de la parte del circuito donde se encuentra el dispositivo ( Γ d) debe ser mayor que la unidad, lo que ocurre en presencia de resistencia diferencial negativa. 76 2.2 OSCILADORES DE RESISTENCIA DIFERENCIAL NEGATIVA La parte principal de un Oscilador de Resistencia Diferencial Negativa es un semiconductor que presenta este efecto, para este proyecto se utiliza: un Diodo Gunn el mismo que se pudo conseguir en la página www.shfmicro.com a través de su representante Alan Rutz. En la misma página se conseguió un sustrato con frecuencia de operación a 10GHz, el mismo será utilizado para la implementación del circuito con una de las alternativas tecnológicas. Otros elementos utilizados y materiales se los consiguió en el mercado local, entre ellos están: resistencias smd(chip), capacitores cerámicos, conectores, cables, etc. 2.2.1 DIODOS GUNN Diodos Gunn de AsGa MA49508 Especificiones a temperatura ambiente (t=25°C) Tabla 2.1 Frecuencia Max/Min 9.0/12.0 GHz Min. CW Potencia Max corriente de Voltaje de Operación de salida operación Nominal 10.0 mW 80 mA 8.0 Figura 2.8: Estructura de física M11 de Diodos Gunn 77 Notas: - Esta potencia se entrega a la frecuencia dentro de la banda de frecuencia especificada - El usuario debe realizar la aplicación a la frecuencia dentro del rango indicado - La potencia fue medida acoplada a una carga crítica dentro del rango de frecuencia especificado para la aplicación. El ancho de banda típico es del 5%. La potencia de salida minima indicada esta garantizada dentro de una carga crítica acoplada dentro del rango de frecuencia especificado para la aplicación. Diodos de mayor potencia están disponibles bajo petición especial. - Estos diodos están diseñados para operar en un rango de temperatura entre -30°C hasta 70°C. Sin embargo, para operación a temperaturas mayores, por favor contactarse con el fabricante - La corriente umbral minima es aproximadamente 1.3 veces la máxima corriente de operación - Todos los diodos se queman por estar como mínimo trabajando 8 horas a una temperatura de 70° ± 5° C en el empaque y con polarización para Onda Continua - La frecuencia de corte durante 0,5 ( µs ) es típicamente menor que 10 MHz en una cavidad de guía de onda - El máximo ciclo completo es del 1%. El máximo ancho del pulso es 1 ( µs ) Figura 2.9: Dimensiones Físicas del Diodo Gunn (Autocad2009) 78 2.2.2 SUSTRATO A UTILIZAR GML 1000 Lámina de Alta Frecuencia, (Propiedades típicas de 0.020 ±0.002 pulgadas Espesor) Tabla 2.2: Propiedades Eléctricas Propiedades Eléctricas Frecuencia -55°C 25°C Constante Dieléctrica 2.5 GHz 3.05 ± 0.05 3.05 ± 0.05 3.05 ± 0.05 Por IPC 650 2.5.5.5 10 GHz 3.05 ± 0.05 3.05 ± 0.05 3.05 ± 0.05 Factor de Disipación 2.5 GHz 0.002 0.003 0.005 Por IPC 650 2.5.5.5 10 GHz 0.003 0.005 0.006 Pérdidas dB/pulgada 1.0 GHz 0.039 (Parámetro S21 de una 5.0 GHz 0.162 línea de transmisión de 10.0 GHz 0.362 Resistividad Superficial C-96/35/90 Megaohm 6*107 Resistividad Volumétrica C-96/35/90 Megaohm-cm 8*109 Resistencia de 20ciclos Megaohm 1*107 Aislamiento a Humedad -2°C/90% RH µ g/cm2 0.39 80°C 50 ohm y 10 pulgadas) a 65°C/95% RH Conductividad del -- extracto solvente Descripción: La nueva GML 1000, lámina recubierta de cobre fue específicamente diseñada para Antenas Microondas de Alta Frecuencia y el Mercado de Comunicaciones Inalámbricas. La constante dieléctrica (Dk) es baja y estable cuando es usada sobre temperatura y humedad dentro del rango de operación. El bajo nivel de perdidas hace que GML 1000 sea una opción competitiva comparada con PTFE y otras láminas de microondas reconocidas en el mercado. 79 Características y Beneficios: Dk estable -55°C to 125°C Dk estable en ambientes húmedos y secos. Fabricación y ensamblaje en estándares de operación PWB. Excelentes propiedades mecánicas y eléctricas. Tabla: 2.3: Propiedades Físicas Firmeza de la Condición A película de cobre Luego de 20 Ancho Lb/pulgada 4.5 sec Ancho Lb/pulgada 4.5 @500°F Firmeza de Longitud Condición A flexibilidad Transversal Condición A Módulo flexible Longitud Condición 32000 PSI 29000 A MPSI Transversal Condición A Absorción PSI de D-24/23 2.0 MPSI 1.8 % 0.11 Humedad Tabla: 2.4: Propiedades Térmicas Temperatura de transición del Condición A °C 140 Tensión Térmica @500°F segundos 40+ Expansión eje Z RT → Tg Condición A ppm/°C 60 Expansión eje Z Tg → 260°C Condición A ppm/°C 450 Expansión eje X/Y Condición A ppm/°C 40/40 Conductividad Térmica @120°C W/m/K 0.177 Estabilidad DImencional E-4/105+E- pulgada/pulgada -0.00220 Longitud 2/150 pulgada/pulgada -0.00192 vidrio E-4/105+ETransversal 2/150 80 Las propiedades de las láminas a 020 milésimas de pulgada de espesor con respecto a la cantidad de cobre por onza en el recubrimiento es 1 onza de cobre (35 µm ‘t’). Las características de espesor y recubrimiento del cobre pueden variar. 2.3 DISEÑO DE MODELOS 2.3.1 MODELO TIPO MICROSTRIP LINE Para el diseño del oscilador se asumirán algunos valores de impedancia característica de la microstrip line con el objeto de conseguir dimensiones físicamente realizables y valores de Q apropiados. La estructura del circuito microstripe line se puede observar en la figura del capítulo1; figura 1.23: Sección Transversal Circuito Microstrip(3). Para este diseño vamos a tomar un valor w h〉1 para esto ubicaremos un valor en la figura 1.25 que relaciona los valores de Z0, ε r y w h . Los valores de la permitividad relativa depende de cada material como referencia tenemos valores de: RT Duroid 6010.5 ( ε r = 10.5 ), quartz ( ε r = 3.8 ), en nuestro caso se utilizará el GML 1000 ( ε r = 3 ). 81 De la figura se encuentra un valor de w/h=2,25 aproximadamente para trabajar con un impedancia cercana a 50 Ω . Por tanto las dimensiones de serán las de la siguiente tabla 2.5: Tabla 2.5 En mm. 1 PLACA 2 PLACAS 3 PLACAS 4 PLACAS h 0,508 1,016 1,524 2,032 w 1,143 2,286 3,429 4,572 La siguiente figura 1.25 relaciona Z0, ε r y w h , en esta figura se debe interpolar el valor del GML 1000 ( ε r = 3 ) entre las curvas que representan las diferentes permitividades relativas de los materiales: 82 Cuando w h〉1 Asumo w 9 = 2,25 = h 4 ε eff = Z0 = ε r +1 ε r −1 2 + 2 12h 1 + w 120π (ε eff ) −1 − 1 2 = 2,397 2 (w h ) + 1.393 + 0.667 ln(1.444 + w h ) = 53,931Ω Ca 3 *1010 cm / s vp = c = = 1,938 *1010 cm / s C 2,397 λg = λ0 3cm = = 1,938cm ε eff 1,548 A continuación se analizará también los valores de atenuación que se presentan en el circuito microstrip line, se tiene la ecuación 1.52 que representa las atenuaciones que mas adelante se analizarán que se deben al conductor 1.53 y debido al dieléctrico 1.55. α (dB m ) = (20 log10 e )α ( Neper m ) ≈ 8.686α ( Neper m ) Una ecuación aplicable para cuantificar la atenuación producida por el conductor es la ecuación 1.53: αc = 8.686 Rs (dB m) Z 0W Donde: Zo es la impedancia característica de la línea microstrip ( Z 0 = 53,931Ω ) w anchura de la línea microstrip, Rs representa la resistencia del conductor en ohmios por unidad de superficie, para la línea y el plano de tierra. Para el caso de un conductor: 83 ωµ 0 2σ Rs = Donde: ω es la frecuencia angular ( 2π *10GHz ) µ0 permeabilidad en el vacio ( 4π *10 −7 H ) m S σ es la conductividad del cobre (5,88*107 m ) Tabla 2.6 1 PLACA 2 PLACAS 3 PLACAS 4 PLACAS w 1,143 mm 2,286 mm 3,429 mm 4,572 mm Rs 25,91-3 Ω 25,91-3 Ω 25,91-3 Ω 25,91-3 Ω αc 3,65 (dB m ) (dB m ) 1,83 1,22 (dB m ) 0,91 (dB m ) La atenuación debido a las pérdidas dieléctricas en una microstrip-line 1.55 es: ε eff − 1 ε r tan δ ε − 1 r ε eff λg α d = 8.68π Donde: ε eff = 2,397 es la permitividad efectiva relativa del sustrato. ε r = 3 es la permitividad relativa del sustrato. λg = 1,938cm longitud eléctrica de la onda electromagnética a 10GHz. tan δ = 0,0023 es la tangente de pérdidas del sustrato a 10 GHz. dB 2,397 − 1 3 0,0023 = 2,83 m 3 − 1 2,397 0,01938 α d = 8.68π Donde tan δ es la tangente de las pérdidas del substrato dieléctrico. 84 En caso de que al momento de realizar la parte práctica del proyecto se tiene que rediseñar o variar los parámetros se justificará debidamente en el siguiente capítulo. 2.3.2 MODELO TIPO CAVIDAD RE-ENTRANTE 2.3.2.1 Cavidad coaxial Este circuito consta de dos estructuras que equivalen a 2 inductancias que están formadas de una estructura metálica sólida y que juntas una a la otra separadas por una distancia ‘d’ generan una capacitancia que lo convierten en un circuito tanque. La figura 1.32 muestra: a) Cavidad Coaxial , b) Sección Transversal de Cavidad Coaxial y mediante la ecuación 1.56 se puede hallar la impedancia Z0. Z0 = 1 2π µ b ln Ω ε a Aplicando los coeficientes de esta ecuación a un caso de particular donde el medio es el aire, y tomando en cuenta los valores ya encontrados para el resonador coaxial tendremos: f = 10GHz c=v= 1 µ 0ε 0 = 3 *108 m s L= 2 X in ω = µ b ln tan βl πω ε a 1 85 cg = επa 2 d También se puede obtener resultados muy aproximados a través de la siguiente ecuación 1.61: ωL = 1 ωc g A través de la ecuación 1.61 encontraremos una relación reemplazando los valores de L y cg. 1.59 y 1.60 en 1.61 ω Donde: ω = 2πf , β = ω c , µ b d ln tan β l = πω ε a ωεπa 2 1 µ0 = 120π ε0 b 2πf d 120 ln tan l= a c 2πfε 0πa 2 (2.22) Reemplazamos los valores numéricos que ya conocemos en la ecuación anterior: b 2π 10 *109 120 ln tan l= a 3 *1010 d 10 −11 2 2π *10 *10 πa 36π (2.23) 9 Los valores encontrados para ‘a’, ‘b’, ‘l’ y ‘d’ serán en centímetros. La expresión mas simplificada será. 2 b 2π d ln tan l= 2 3 a 3 πa tan 2π l= 3 3d b 2πa ln a 2 (2.24) (2.25) 86 3d 2π βl = l = arctan b 3 2 2πa ln a 3 3 d * l = arctan b 2π 2 2πa ln a (2.26) (2.27) De los valores antes mencionados se puede encontrar expresiones simplificadas para hallar la inductacia L y la capacitancia cg. Por las dimensiones del diodo Gunn podemos asumir el valor de ‘d’ es 0,25 cm, las unidades de ‘a’ son en centímetros y la frecuencia en Hertz. L= a2 cg = [F ] 9 * 1011 (2.28) 60 b ln tan βl [H ] πf a (2.29) Para encontrar las dimensiones de la cavidad reentrante coaxial vamos a tener que cumplir con: l〈 λ 2 → l 〈1,5cm Se asumirá: Z0= 40 Ω , 50 Ω , 60 Ω , 70 Ω y 75 Ω . Con Z0= 40 Ω Z0 = 1 2π 40 = 60 ln 60 b b µ b ln Ω ≈ ln Ω ≈ 60 ln Ω a ε a εr a b a 87 ln b 2 = a 3 b = 1,95 a Definimos algunos valores de ‘a’ en centímetros y con el dato de d=0,25 cm se genera valores de β l , ‘b’, L y cg; de tal forma que β l sea menor a 90°. Tabla 2.7 d en cm a en cm 0,25 0,1 0,25 0,2 0,25 0,3 0,25 0,4 0,25 0,5 0,25 0,6 0,25 0,7 0,25 0,8 0,25 0,9 0,25 1 β l radianes β l 1,515 1,351 1,105 0,841 0,621 0,461 0,350 0,272 0,217 0,177 grados 86,803 77,407 63,315 48,218 35,612 26,446 20,074 15,631 12,465 10,152 l en cm b en cm L en Henrios Cg en Faradios 0,723 0,194 2,279E-08 1,111E-14 0,645 0,389 5,699E-09 4,444E-14 0,527 0,584 2,533E-09 1E-13 0,401 0,779 1,424E-09 1,777E-13 0,296 0,973 9,119E-10 2,777E-13 0,220 1,168 6,333E-10 4E-13 0,167 1,363 4,652E-10 5,444E-13 0,130 1,558 3,562E-10 7,111E-13 0,103 1,752 2,814E-10 9E-13 0,084 1,947 2,279E-10 1,111E-12 De los datos obtenidos tenemos, escogemos un valor aceptable (subrayado), con estos datos obtenemos ‘a’, ‘b’ y ‘l’ en centímetros. Con Z0= 50 Ω Z0 = 1 2π 50 = 60 ln ln 60 b b µ b ln Ω ≈ ln Ω ≈ 60 ln Ω a ε a εr a b a b 5 = a 6 b = 2,03 a Definimos algunos valores de a en centímetros y con el dato de d=0,25 cm se genera valores de β l , ‘b’, L y cg; de tal forma que β l sea menor a 90°. 88 Tabla 2.8 d en cm a en cm 0,25 0,1 0,25 0,2 0,25 0,3 0,25 0,4 0,25 0,5 0,25 0,6 0,25 0,7 0,25 0,8 0,25 0,9 0,25 1 β l radianes β l 1,501 1,298 1,009 0,730 0,520 0,378 0,284 0,220 0,175 0,142 grados 86,006 74,397 57,858 41,837 29,811 21,697 16,295 12,615 10,028 8,151 l en cm b en cm L en Henrios Cg en Faradios 0,716 0,23 2,279E-08 1,111E-14 0,619 0,46 5,699E-09 4,444E-14 0,482 0,69 2,533E-09 1E-13 0,348 0,92 1,424E-09 1,777E-13 0,248 1,15 9,119E-10 2,777E-13 0,180 1,38 6,332E-10 4E-13 0,135 1,61 4,652E-10 5,444E-13 0,105 1,84 3,562E-10 7,111E-13 0,083 2,07 2,814E-10 9E-13 0,067 2,3 2,279E-10 1,111E-12 De los datos obtenidos tenemos, escogemos un valor aceptable (subrayado), con estos datos obtenemos ‘a’, ‘b’ y ‘l’ en centímetros. Con Z0= 60 Ω Z0 = 1 2π 60 = 60 ln ln 60 b b µ b ln Ω ≈ ln Ω ≈ 60 ln Ω a ε a εr a b a b 1 = a 1 b = 2,72 a Definimos algunos valores de a en centímetros y con el dato de d=0,25 cm se genera valores de β l , ‘b’, L y cg; de tal forma que β l sea menor a 90°. Tabla 2.9 d en cm a en cm 0,25 0,1 0,25 0,2 0,25 0,3 0,25 0,4 0,25 0,5 0,25 0,6 0,25 0,7 0,25 0,8 0,25 0,9 0,25 1 βl radianes βl 1,487 1,247 0,924 0,640 0,445 0,320 0,238 0,184 0,146 0,118 grados 85,210 71,473 52,984 36,724 25,522 18,344 13,690 10,564 8,383 6,806 l en cm b en cm L en Henrios Cg en Faradios 0,710 0,271 2,279E-08 1,111E-14 0,595 0,543 5,699E-09 4,444E-14 0,441 0,815 2,533E-09 1E-13 0,306 1,087 1,424E-09 1,777E-13 0,212 1,359 9,118E-10 2,777E-13 0,152 1,630 6,332E-10 4E-13 0,114 1,902 4,652E-10 5,444E-13 0,088 2,174 3,562E-10 7,111E-13 0,069 2,446 2,814E-10 9E-13 0,0567 2,718 2,279E-10 1,111E-12 89 De los datos obtenidos tenemos, escogemos un valor aceptable (subrayado), con estos datos obtenemos ‘a’, ‘b’ y ‘l’ en centímetros. Con Z0= 70 Ω Z0 = 1 2π 70 = 60 ln ln 60 b b µ b ln Ω ≈ ln Ω ≈ 60 ln Ω a ε a εr a b a b 7 = a 6 b = 3,21 a Definimos algunos valores de a en centímetros y con el dato de d=0,25 cm se genera valores de β l , ‘b’, L y cg; de tal forma que β l sea menor a 90°. Tabla 2.10 d en cm a en cm 0,25 0,1 0,25 0,2 0,25 0,3 0,25 0,4 0,25 0,5 0,25 0,6 0,25 0,7 0,25 0,8 0,25 0,9 0,25 1 β l radianes β l 1,473 1,198 0,849 0,568 0,388 0,276 0,205 0,158 0,125 0,101 grados 84,417 68,647 48,665 32,598 22,258 15,866 11,794 9,083 7,199 5,842 l en cm b en cm L en Henrios Cg en Faradios 0,703 0,321 2,279E-08 1,111E-14 0,572 0,642 5,699E-09 4,444E-14 0,405 0,963 2,533E-09 1E-13 0,271 1,284 1,424E-09 1,777E-13 0,185 1,605 9,119E-10 2,777E-13 0,132 1,926 6,332E-10 4E-13 0,098 2,247 4,652E-10 5,444E-13 0,075 2,568 3,562E-10 7,111E-13 0,059 2,890 2,814E-10 9E-13 0,048 3,211 2,279E-10 1,111E-12 De los datos obtenidos tenemos, escogemos un valor aceptable (subrayado), con estos datos obtenemos ‘a’, ‘b’ y ‘l’ en centímetros. Con Z0= 75 Ω Z0 = 1 2π 75 = 60 ln b b 60 µ b ln Ω ≈ ln Ω ≈ 60 ln Ω a ε a εr a b a 90 ln b 5 = a 4 b = 3,49 a Definimos algunos valores de a en centímetros y con el dato de d=0,25 cm se genera valores de β l , ‘b’, L y cg; de tal forma que β l sea menor a 90°. Tabla 2.11 d en cm a en cm 0,25 0,1 0,25 0,2 0,25 0,3 0,25 0,4 0,25 0,5 0,25 0,6 0,25 0,7 0,25 0,8 0,25 0,9 0,25 1 β l radianes β l 1,466 1,174 0,815 0,538 0,364 0,259 0,192 0,148 0,117 0,095 grados 84,021 67,272 46,696 30,829 20,905 14,855 11,027 8,486 6,723 5,454 l en cm b en cm L en Henrios Cg en Faradios 0,700 0,349 2,279E-08 1,111E-14 0,560 0,698 5,699E-09 4,444E-14 0,389 1,047 2,533E-09 1E-13 0,256 1,396 1,424E-09 1,777E-13 0,174 1,745 9,118E-10 2,777E-13 0,123 2,094 6,332E-10 4E-13 0,091 2,443 4,652E-10 5,444E-13 0,070 2,792 3,562E-10 7,111E-13 0,056 3,141 2,814E-10 9E-13 0,0454 3,490 2,279E-10 1,111E-12 De los datos obtenidos tenemos, escogemos un valor aceptable (subrayado), con estos datos obtenemos ‘a’, ‘b’ y ‘l’ en centímetros. Resumen de los valores obtenidos en centímetros. Tabla 2.12 En cm. Z0 = 40 Z0 = 50 Z0 = 60 Z0 = 70 Z0 = 75 a 0,6 0,5 0,5 0,4 0,4 b 1,168 1,15 1,359 1,284 1,396 d 0,25 0,25 0,25 0,25 0,25 l 0,22 0,248 0,212 0,271 0,256 L 0,633 nH 0,911 nH 0,911 nH 1,424 nH 1,424 nH cg 0,4 pF 0,277 pF 0,277 pF 0,177 pF 0,177 pF Estos valores fueron escogidos debido a los conectores que se usaran para la etapa de RF, estos tienen un diámetro de 3,6 mm. o 5,4 mm. 91 2.3.2.2 Cavidad Re-entrante Radial Esta Cavidad es la mitad de la Cavidad Coaxial, en este caso sería solo una estructura metálica como un inductor y la distancia ’d’ para este circuito será entre la estructura formada por la pared de la cavidad y la estructura metálica ya nombrada. Para este circuito se utiliza una hoja de cálculo de EXCEL para hallar los valores que se tienen en la ecuación 1.65. Por la figura 1.34: Cavidad Re-entrante(3) se puede tener de referencias que la dimensiones de ‘b’ deben ser mayores que ‘a’; además las dimensiones de ‘l’ deben ser mayores que ‘d’. 1 fr = 2π πa 2 0.765 µl b ln * ε 0 − 4a ln 2π a l 2 + (b − a) 2 d Asumo Z0=50 Ω Tabla 2.13 asumo l a b ln b/a d para mm b-a (d*3) FREC 0,015 0,03045 0,70803579 0,00225 0,0155 0,0075 5583772769 0,015 0,03045 0,70803579 0,0024 0,0155 0,008 6115043341 0,015 0,03045 0,70803579 0,00255 0,0155 0,0085 6825967966 0,015 0,03045 0,70803579 0,0027 0,0155 0,009 7848716162 0,015 0,03045 0,70803579 0,00285 0,0155 0,0095 9510301312 0,015 0,03045 0,70803579 0,003 0,0155 0,01 12983624598 0,015 0,03045 0,70803579 0,00315 0,0155 0,0105 34086477946 0,015 0,03045 0,70803579 0,0033 0,0155 0,011 #¡NUM! 92 La longitud de ‘l’ debe ser mayor que ‘d’ y de la misma forma la longitud de ‘b’ debe ser mayor que ‘a’: Asumo que fr=10GHz L= µl b ln 2π a L = 4,061nH πa 2 0.765 c = ε0 − 4a ln l 2 + (b − a) 2 d c = 0,1061 pF 2.3.4 RESONADOR DE CAVIDAD RECTANGULAR Para el resonador de Cavidad Rectangular se usará una Guía de Onda Rectangular, como se estudio en el primer capítulo existen algunos tipos de guías normalizadas en la tabla 1.15. En la tabla 1.15 se puede observar las dimensiones físicas de las guías de onda además de las frecuencias de operación de cada una de las guías indicadas. El prefijo utilizado en la primera columna es WR que indica que corresponde a un guía de onda rectangular. Buscando en la tabla la guía de onda más apropiada a para el proyecto será aquella que su rango de operación sea la banda X es decir entre 8 y 12 GHz aproximadamente. 93 La guía de onda que se ajusta a lo requerido es la WR-90, como se muestra en la tabla con la flecha, la frecuencia de operación de esta guía de onda rectangular es de 8.2 a 12.4 GHz. 2.3.4.1 Cavidades Resonantes3 Las cavidades resonantes constituyen uno de los más importantes componentes pasivos de uno o dos puertos, pues ellas son parte integrante de todos los tipos de osciladores y de la mayoría de amplificadores para microondas. Una característica sobresaliente en una cavidad resonante es su alto factor de calidad cargado, QL, el mismo que se define en términos de energía y frecuencia, cantidades que son invariables bajo cualquier circuito equivalente. El factor QL puede ser establecido a partir del factor de calidad descargado QU, el cual da una medida de las pérdidas intrínsecas de la cavidad y del factor de 3 CEVALLOS M.; Oscilador de Microondas con Diodo Gunn y Varactor; XXI JIEE Anales Noviembre 2007. 94 calidad extremo, QE, que da una medida del acoplamiento entre la cavidad y el circuito externo. La representación circuital en términos de los componentes R, L, C, debe tomarse conceptualmente ya que no es posible determinarlos en forma experimental, pero en lo concerniente a su comportamiento la cavidad puede ser evaluada experimentalmente. Una primera aproximación al circuito equivalente de la cavidad corresponde a un circuito resonante paralelo con elementos concentrados inherentes a la cavidad como se muestra en la figura 2.10 Figura 2.10: Cavidad (a)y circuito equivalente cerca de resonancia(b).(10) Para su operación la cavidad está conectada al circuito externo mediante alguna forma de acoplamiento: punta de prueba, lazo de acoplamiento o iris los mismos que prácticamente coinciden con el plano de referencia. Puesto que el acoplamiento cavidad circuito externo puede darse de varias formas es conveniente asumir una forma generalizada mediante un transformador ideal con relación de espiras n:1 con el cual es posible obtener un circuito equivalente más completo que incluye tanto los componentes de la cavidad como el efecto de acoplamiento y el circuito externo como se indica en la figura 2.11 95 Figura 2.11: (a)circuito equivalente con transformador ideal y(b) circuito equivalente con parámetros normalizados referidos al circuito externo.(10) Para la cual se establecen las siguientes relaciones referidas al circuito externo: Re q = n 2 Ro (2.30) Leq = n 2 L (2.31) Ceq = Co / n 2 (2.32) En los cuales el factor n2 corresponde al factor de acoplamiento de la cavidad al circuito externo, en la figura 2.12. Figura 2.12: Lugar geométrico del factor de acoplamiento de la cavidad referido al circuito externo para diferentes condiciones de acoplamiento.(10) Las últimas relaciones conviene utilizarlas en valores normalizados con referencia a la impedancia característica del circuito externo, siendo respectivamente: 96 r = Re q / Zo = n 2 Re q / Zo (2.33) L = Leq / Zo = n 2 Leq / Zo (2.34) C = CeqZo = ZoCeq / n 2 (2.35) La admitancia normalizada considerando el circuito de la figura 2.12 es: y = 1 / r + j ( wC − 1 / wL ) = g + jb (2.36) La condición resonante cuando b=0 nos da: wo 2 = 1 / L C (2.37) La suceptancia normalizada en términos de la frecuencia de resonancia es: b = C / L (w / wo − wo / w) (2.38) En la vecindad de resonancia la cantidad entre paréntesis es aproximadamente: w / wo − wo / w = 2dw / wo (2.39) dw = w − wo (2.40) Donde: Por tanto: b = C / L 2dw / wo (2.41) z = 1 /( g + j C / L 2dw / wo) (2.42) 97 Las ecuaciones 2.40 y 2.41 indican que en la vecindad de resonancia la suceptancia de la cavidad es una función lineal de la frecuencia. En la figura 2.12 se presentan los gráficos de la variación del coeficiente de reflexión en un diagrama de Smith para condiciones diferentes del valor de r, que es lo mismo que considerar condiciones distintas de acoplamiento de la cavidad al circuito externo, o sea diferentes valores de ‘n’ en el transformador ideal. Relacionando con el análisis de circuitos de a.c. estás condiciones corresponden a: r 〈 1 sub-acoplamiento; r=1 acoplamiento crítico y r 〉 1 sobre-acoplamiento. El extremo izquierdo sobre el diámetro del diagrama de Smith representa la condición de ρ =-1 que corresponde a impedancia cero, que se cumple en el circuito equivalente en w=0 y w= ∞ . El crecimiento de crecencia se muestra por flechas que giran en sentido horario y los puntos de resonancia por los cortes de los círculos con el diámetro. En cuanto a la variación de la fase del coeficiente de reflexión para las tres condiciones de acoplamiento se muestra en la figura 2.13, donde: para las condiciones de sobre-acoplamiento y sub-acoplamiento existe una variación continua de fase, mientras que para acoplamiento crítico es discontinua. Figura 2.13: Variación de la fase del coeficiente de reflexión en función del acoplamiento.(10) 98 2.3.4.2 Factores de Calidad en una Cavidad Resonante2 Para análisis de cavidades resonantes se definen tres factores de calidad: Factor de calidad descargado: QU = EnergíaAlmacenadaEnLaCavidad EnergíaPérdidaEnLasParedesPorRadian En términos de los parámetros de los circuitos equivalentes corresponden a: QU = C / L .r = Ceq / Leq . Re q = Co / Lo .Ro (2.43) Factor de calidad externo: QE = EnergíaAlmacenadaEnLaCavidad EnergíaDisipadaEnElCircuitoExternoPorRadian ( QE = C / L = Zo / n 2 ) Ceq / Leq (2.44) Factor de calidad cargado: QL = EnergíaAlmacenadaEnLaCavidad EnergíaDisipadaEnLaCavidadYCircuitoExternoPorRadian QL = C / L (r / 1 + r ) (2.45) Y sus correspondientes equivalencias: r= QU 1 Q 1 1 ; = + ; QL = U QL QL QU QE (1 + r ) (2.46) 99 2.3.4.3 Potencia Entregada por la Cavidad al Circuito Externo2 Si asumimos que de alguna manera dentro de una cavidad resonante se dispone de una potencia de microondas Pcav, la potencia que la cavidad puede entregar al circuito externo, PL es: PL = Pcav(1 − ρ ) 2 (2.47) Donde: Pcav = potencia disponible en la cavidad. PL= potencia disipada en el circuito externo ρ = coeficiente de reflexión debido al acoplamiento entre la cavidad y circuito externo. Introduciendo la expresión para el coeficiente de reflexión, en resonancia (dw=0). Q PL res = Pcav 4.r L QU 2 (2.48) Esta última ecuación nos indica que la potencia entregada por la cavidad al circuito externo es máxima cuando r=1, esto es, en acoplamiento crítico, esta condición presenta dos inconvenientes: QL es la mitad de QU con lo cual los aproximaciones realizadas ya no son muy válidas, además la respuesta de fase. Asumiendo un caso conservador de r=0,5 QL es el 67% de QU, y la transmisión de potencia es cercana al 90% de la generada en la cavidad. 100 2.4 ANÁLISIS DE ALTERNATIVA TECNOLÓGICA MÁS VIABLE 2.4.1 CRITERIOS PARA ESCOGER LA ALTERNATIVA DE CONSTRUCCIÓN Una vez realizados los diseños de las diferentes alternativas tecnológicas, definiremos un orden de prioridad para las tecnologías de construcción. Entre estas tecnologías están MICROSTRIP LINE, CAVIDAD RECTANGULAR, CAVIDAD REENTRANTE RADIAL y CAVIDAD REENTRANTE COAXIAL. En primer lugar estará la tecnología MICROSTRIP LINE, debido a que esta tecnología presenta facilidades de manejo de los circuitos, esto mediante un diseño que lo realizaremos en el programa PROTEL DXP. Además contamos con los materiales necesarios para poder cumplir con la construcción de estos circuitos. Cabe señalar que las características de estos circuitos son muy apropiadas para la construcción de circuitos microondas por su dimensión y costo; aunque las pérdidas en estos circuitos son muy apreciable. En segundo lugar estará la tecnología RESONADOR DE CAVIDAD RECTANGULAR, para este circuito contamos con la información necesaria para poder implementarlo, además podemos tomar como referencia directa el trabajo del Ingeniero Mario Cevallos de las Jornadas de Ingeniería Eléctrica y Electrónica del 2007. Además estos circuitos presentar muy favorables características de Q. La CAVIDAD REENTRANTE COAXIAL sería la tecnología de construcción que presenta mayores inconvenientes al momento de implementar el circuito. La ventaja principal de este tipo de circuitos es que tienen un alto factor de calidad, superior al presente en los otros circuitos con las alternativas tecnológicas ya expuestas. La construcción del circuito microonda es complicado por lo que se necesitara de un metalmecánico de precisión y los materiales se los puede conseguir el lugares especializados. 101 La tecnología de CAVIDAD REENTRANTE RADIAL ocupa el cuarto lugar en la lista de factibilidad para la construcción de circuitos microondas, el diseño del circuito es único, el inconveniente principal en este tipo de circuito es el acoplamiento de los elementos activos. Finalmente para el propósito de esta tesis se realizaran los circuitos microondas en el orden en el que se detallan según la prioridad expuesta anteriormente. 102 CAPÍTULO 3: DISEÑO, CONSTRUCCIÓN Y PRUEBAS DEL SISTEMA DOCUMENTACIÓN NECESARIA, PROCEDIMIENTO A SEGUIR, CONSTRUCCIÓN DEL MODELO, PRUEBAS DEL MODELO, MODIFICACIONES Y CORRECCIONES. 3.1 DOCUMENTACIÓN NECESARIA Y PROCEDIMIENTO A SEGUIR Toda la documentación necesaria como son ecuaciones, teoría y resultados obtenidos; se encuentra en los capítulos 1 y 2. En el caso que se presenten modificaciones en los valores de las ecuaciones se adjunta en este capítulo cuadros, tablas y diagramas. Esto para respaldar las modificaciones realizadas. Se inicia con la tecnología microstrip line con todas las pruebas modificaciones y correcciones, seguidamente continuaremos con la tecnología de guía de onda rectangular con acoplamiento coaxial y finalmente las tecnologías de cavidades re-entrantes. Para la construcción de estos circuitos tenemos que realizar correcciones en el modelo escogido por efecto de variaciones en la impedancia, longitud de onda, características de las líneas, dimensiones, construcción en base a otros circuitos ya desarrollados etc. 103 3.2 CIRCUITOS MICROONDAS 3.2.1 RESONADOR CON MICROSTRIP LINE 3.2.1.1. Materiales a Utilizar Para esta tecnología vamos a utilizar: - Láminas GML 1000 - Diodos Gunn 10mw MA49000 NEC - Láminas termo transferibles - capacitores cerámicos - capacitores en chip - percloruro férrico - resistencias en chip - masilla epóxica rally - pega borden extra (brujita) - resorte de esfero - bocin de automovil - pasta de suelda - suelda - guía de onda rectangular con acoplamiento coaxial y tornillo micrométrico 3.2.1.2 Detalle de Procedimiento de Construcción 3.2.1.2.1 Medidas Reales de GML 1000 Con el objetivo de tener certeza al momento de dimensionar longitud y ancho de los circuitos que se diseñaran, se tomara medidas de las placas GML 1000. Para realizar esto se utilizará los valores entregados por el constructor que son: GML 1000 h=20 mils de pulgada (0,508 mm) 104 Peso de metalización por pie cuadrado igual a 1 onza, esto quiere decir que el espesor del cobre es t = 35 µm 1. Para realizar la medición se uso un tornillo micrométrico con el que se obtuvo las siguientes medidas de las placas: Tabla 3.1 PLACAS Medida 1 Medida 2 Medida 3 Media a usar Sin cobre 0,495 mm 0,485 mm 0,482 mm 0,487 mm 2 con cobre 0,545 mm 0,535 mm 0,543 mm 0,541 mm 1 con cobre 0,525 mm 0,515 mm 0,523 mm 0,521 mm Solo cobre 0,055 mm 0,005 mm 0,052 mm 0,052 mm En el software PROTEL DXP las medidas usadas están en milésimas de pulgada (mils), por eso a continuación varias medidas pueden estar en mm o en mils. En el capítulo 2 se plantea la posibilidad de aumentar el espesor del dieléctrico uniendo placas de GML100. En caso de cambiar la idea se planteará la correspondiente justificación. 3.2.1.2.2 Ensayo 1: Se tomarán los valores de la tabla 2.5 para realizar un diseño preliminar y poder apreciar las dimensiones de las líneas diseñadas en el capítulo 2. Se utilizo el programa PROTEL DXP para el diseño y se presenta a continuación la tabla y los diseños realizados en el software. Tabla 2.5 1 PLACA mm 2 PLACAS mm 3 PLACAS mm 4 PLACAS mm h 0,508 1,016 1,524 2,032 w 1,143 2,286 3,429 4,572 1 INGENIERIA DE MICROONDAS TECNICAS EXPERIMENTALES, Miranda, Sebastian J.L., Sierra M. 105 En la figura 3.1se observa el diseño en esquemático de los circuitos a utilizar. Este esquema consta de varios elementos como son conectores representados por MS1 al MS4, SMA1 al SMA4 y resistencias. Estos elementos son propios del software. Figura 3.1: esquemático de los circuitos. En la figura 3.2 se puede observar el PCB o las placas diseñadas. Los circuitos que se requiere deben tener la siguiente estructura: un conector SMA el que se debe conectar a un extremo de la línea con un cable que tenga el conector ya detallado, la línea de la microstrip tiene sus dimensiones propias, una resistencia de 47 ohm en chip y un agujero el cual permitirá conectar un extremo de la resistencia al plano de tierra que es la parte inferior de la placa microstrip. Figura 3.2: circuitos diseñados. 106 Las figuras 3.3 y 3.4 muestran las líneas ya diseñadas listas para la impresión y el resultado final de cómo se obtuvieron la placas. El objetivo de estas placas es apreciar si las dimensiones del diseño se pueden conseguir y además comprobar si la variación del espesor es necesaria o no. La placa final servirá como transductor entre el circuito oscilador que esta emulado por la resistencia de 47 ohm y el cable con conector SMA, que se usará para poder medir la potencia entregada por el circuito oscilador, conectando el cable SMA a un adaptador de guía de onda a SMA. Figura 3.3: Imagen a imprimir en lámina termo transferible. Para obtener los circuitos de la figura 3.4 se debe imprimir los circuitos de la figura 3.3 en papel termo transferible, luego se plancha estos gráficos en las láminas de GML 1000, luego de que se hayan pegado las figuras en el cobre del sustrato se procede a exponer las placas a una reacción química con percloruro férrico y ácido nítrico. Una vez que todo el cobre que no esta recubierto con tinta se elimina del GML 1000, se procede finalmente a soldar las resistencias chip y el resultado será el observado en la figura 3.4. 107 Figura 3.4: Placas obtenidas. Con las muestras obtenidas se pudo observar que no es necesario utilizar varias placas para poder aumentar en espesor del sustrato, por esto se decide trabajar todos los circuitos directamente sobre una sola placa. 3.2.1.2.3 Ensayo 2: Iniciaremos diseñando líneas de transmisión a las relaciones de w/h = 1, 2, 3, 4 Para estudiar las características de estas líneas con respecto a la impedancia, longitud eléctrica utilizaremos la figura 1.25 para hallar rápidamente las impedancias relacionadas mediante dos ejes el horizontal con la relación w/h y el eje vertical que representa la impedancia de la microstrip: 108 Las curvas que cruzan los ejes corresponden a la permitividad del sustrato en nuestro caso este valor es 3. Como no se observa el valor exacto de la permitividad relativa del GML 1000, se debe interpolar el valor entre las curvas que si existen. Las impedancias características según w/h son: Tabla 3.2 w/h Z0 ε eff 1 90 Ω aproximadamente 2,277 2 50 Ω aproximadamente 2,377 3 40 Ω aproximadamente 2,447 4 33 Ω aproximadamente 2,5 109 Las permitividad relativa del GML 1000 es 3; las permitividades efectivas para las características de impedancia se las pueden calcular con la ecuación 1.42: ε eff = εr +1 εr −1 2 12h 1 + 2 w + − 1 2 (1.42) Se puede encontrar la longitud de onda eléctrica utilizando la longitud de onda física y la permitividad efectiva indicada en la tabla anterior. La ecuación que relaciona estos parámetros ya la estudiamos en el capitulo uno y es la ecuación 1.39. λ0 ε eff λg = (1.39) Tabla 3.3 w/h λ0 ε eff λg 1 30 mm 2,277 19,879 mm 2 30 mm 2,377 19,454 mm 3 30 mm 2,447 19,177 mm 4 30 mm 2,5 18,973 mm Es importante conocer las perdidas y atenuaciones para cada una de las líneas que hemos diseñado; utilizaremos las ecuaciones, 1.52, 1.53, 1.54: α (dB m ) = (20 log10 e )α ( Neper m ) ≈ 8.686α ( Neper m ) (1.52) αc = 8.686 Rs (dB m) Z 0W Rs = ωµ 0 2σ (1.53) (1.54) 110 Tabla 3.4 w/h Rs 1 25,91 2 25,91 3 25,91 4 25,91 Z0 W α c (dB m ) α d (dB / m) -3 Ω 90 Ω 0,487 mm 5,134 2,654 -3 Ω 57 Ω 0,974 mm 4,053 2,802 -3 Ω 43 Ω 1,461 mm 3,582 2,901 -3 Ω 35 Ω 1,948 mm 3,301 2,975 La atenuación debido a las pérdidas dieléctricas en una microstrip-line estada dada por la ecuación 1.55: ε eff − 1 ε r tan δ ε r − 1 ε eff λg α d = 8.68π (1.55) Por el momento utilizaremos las cuatro ecuaciones anteriores con los valores presentados en la tabla asumiendo una longitud eléctrica relacionada con la longitud de onda en el vacío. Se utilizo dentro del software de diseño de placas de circuitos electrónicos, conectores SMA, resistencias, sockets como se muestra en la figura 3.1. En este ensayo se usara las mismas estructuras de las figuras 3.1, 3.2. Con la aclaración que se realizarán sobre una sola lámina de sustrato y además se utiliza los valores de corrección de las dimensiones del GML 1000, mostrados en la tabla 3.1. Cada circuito estará compuesto, por un conector SMA, una resistencia y socket; en total serán cuatro circuitos. Una vez que se tiene el circuito esquemático total se pasa a un circuito PCB es decir al diseño final como lo muestra la figura 3.2. 111 La dimensión de cada línea tiene que ser menor a la mitad de la longitud de onda a una frecuencia de 10 Ghz, aproximadamente esta medida será menos de 15 milímetros. Como resultado preliminar se puede apreciar que las dimensiones de las placas tienen un tamaño apropiado para la aplicación que se desea realizar. En esta sección no se utilizó ningún equipo puesto que se quería comprobar la facilidad de obtener líneas de transmisión en las dimensiones de 20 a 80 milésimas de pulgada es decir: w/h igual a 1, 2, 3, 4. Las placas obtenidas son similares a las placas de la figura 3.4. 3.2.1.2.4 Ensayo 3: Las dimensiones w/h=2; 2,3; 2,8 y 3 de los circuitos se tienen que medir con los equipos de laboratorio, debido a que en esta rango se pudo observar que la impedancia estará entre los 40 y 50 ohmios. Se identificaran las impedancias y la permitividad efectiva para estas nuevas dimensiones usando la figura 1.25. 112 Siguiendo el procedimiento anterior para los cuatro circuitos que tiene la placa a medir se presentan los siguientes valores. Tabla 3.5 w/h Impedancia ε eff 2 50 Ω aproximadamente 2,377 2,3 47 Ω aproximadamente 2,401 2,8 42 Ω aproximadamente 2,434 3 40 Ω aproximadamente 2,447 Las dimensiones de las pistas en mils (milésimas de pulgada) requeridas serán: Tabla 3.6 DIMENCIONES DE LAS PISTAS PARA MICROSTRIP w EN MILS w/h=1 w/h=2 w/h=2,3 w/h=2,8 w/h=3 19,1732283 38,346457 44,0984252 53,6850394 57,519685 38,346 44,098 53,685 57,52 113 Figura 3.5: esquemático de los 4 circuitos a utilizar. El Diagrama de la placa con los cuatro circuitos es similar al de la figura 3.2, en la figura 3.5 se observa que se tiene la misma estructura de los circuitos iniciales, cabe señalar que ya se explico a que se debe esta disposición de los elementos en el ensayo 1. Una vez fabricada una placa que contenga los cuatro circuitos con las dimensiones de la tabla, se colocaran resistencias de 47 ohmios tipo chip en cada circuito, conectando la pista micro strip con el plano de tierra como se muestra en las figuras 3.6, el objetivo de esta placa será medir el valor de SWR para cada línea de relación w/h, para con los valores obtenidos compensar la línea que presente la mejor característica de patrón de onda estacionaria. 114 Figuras 3.6: placas obtenidas (izquierda) vistas frontal dimensiones comparadas con moneda de 10 centavos de dólar y (derecha) vista posterior de la placa. El cable a utilizar es un cable coaxial, que tiene su malla y el conductor central flexible (multi-hilos) con un conector SMA tipo macho figura 3.7. Figura 3.7: cable con conector SMA tipo macho. El equipo a utilizar es propiedad del Laboratorio de Microondas de la Facultad de Ingeniera Eléctrica y Electrónica de la Escuela Politécnica Nacional. Entre los equipos del laboratorio tenemos: Oscilador Gunn de guía de onda en banda X y con un resonador de cavidad para una lectura fina de valores de frecuencia de la banda anteriormente nombrada. 115 Figura 3.8: Oscilador Gunn en guía de onda. Fuente de corriente directa (DC) para polarizar el circuito del Gunn que también dispone de un generador de onda cuadrada de 1 KHz para modular a la frecuencia del oscilador Gunn. Figura 3.9: Fuente para diodo Gunn. Aislador direccional de guía de onda para evitar una onda reflejada que pueda afectar al oscilador. Figura 3.10: Aislador direccional. Frecuencímetro de Cavidad para poder identificar la frecuencia de oscilación del Gunn. 116 Figura 3.11: Frecuencímetro de Cavidad. Mezclador de señales para modular la frecuencia de oscilación con una modulante, esto através de un diodo PIN. Figura 3.12: Diodo Pin. Atenuador sobre guía de onda que nos permite tener control sobre la cantidad de señal que llegara al circuito. Figura 3.13: Atenuador. 117 Guía onda ranurada para poder medir onda estacionaria en un equipo que mide VSWR. Figura 3.14: Guía Ranurada. Cables de conexión. Equipo para medir VSWR. Figura 3.15: Equipo de Medida de VSWR. Acoplador de guía de onda con un conector SMA tipo hembra para poder interconectar con la placa. Osciloscopio de Rayos Catódicos con una banda entre 0 a 15 MHz, utilizado para propósitos generales de laboratorio. Figura 3.16: Oscilador de Rayos Catódicos. 118 El objetivo de las pruebas es poder implementar un transductor entre el cable de conector SMA y el circuito con la resistencia de 47 ohm, para esto se debe: identificar el valor de S para los circuitos, poder ubicar los máximos y mínimos para hallar la longitud de onda; hallar la ubicación de los valores de S entre un máximo un mínimo, analizar la compensación necesaria en la carta de SMITH para posteriormente implementar los compensadores en las placas que tengan mejores características. Vale señalar que con los equipos de laboratorio se puede también tener la frecuencia de resonancia de las placas que se esta utilizando. Para poder hacer esto se utiliza la fuente de voltaje del diodo GUNN que también cuenta con un generador de señales. Se conecta el generador de señal a un mezclador que esta armado, en lugar de conectar el equipo de medida del SWR se conecta un osciloscopio. Para el circuito con relación w/h=3 se obtuvo la frecuencia de resonancia en 9,975 GHz. Se procede a realizar mediciones de S para luego poder representar cada resultado en una carta de SMITH, de cada una de las placas se obtuvo los siguientes resultados. Tabla 3.7 S w/h=2 min IZQ DER 1,93 94,5 79,3 99,3 w/h=2,3 2,8 95,5 79,3 99,3 w/h=2,8 2,6 97 79,3 99,3 1,85 93,2 79,3 99,3 w/h=3 Con los valores de la tabla se puede observar que los valores mas bajos de S son los de w/h=2 y w/h=3, se precede a realizar los cálculos siguientes en la carta de Smith. 119 Una ecuación que será muy útil para poder encontrar el valor de la impedancia dentro de la Carta de Smith. d1 λg = DER − min λg (3.1) Se realizará el análisis para w/h=2 en la figura 3.17, se dibuja la circunferencia de radio S, y se encuentra el valor de la impedancia Z utilizando la relación. d1 λg = 99.3 − 94.5 = 0,12 40 El diagrama se presenta a continuación. Figura 3.17: Carta de Smith para w/h=2. Se obtiene que la impedancia es Z=(0.84+0,6j), para compensar esta impedancia se debe colocar un STUB con un valor de -0,6j. 120 Puede ser más conveniente compensar con dos STUB de -0,3j en cada extremo de la línea acoplada, todo el conjunto será muy similar a una cruz, los valores precisos se presentarán más adelante. De la misma forma se realizará el análisis para w/h=3 en la figura 3.18, se dibuja la circunferencia de radio S, y se encuentra el valor de la impedancia Z utilizando la relación. d1 λg = 99.3 − 93.2 = 0,1525 40 Figura 3.18: Carta de Smith para w/h=3. 121 Se obtiene que la impedancia es Z=(0,7+0,44j), para compensar esta impedancia se debe colocar un STUB con un valor de -0,44j. Por las dimensiones puede ser mas conveniente utilizar 2 STUB para compensar la línea microstrip con un valor de -0,22j. De los cálculos y valores que se recogieron en el ensayo se concluyo lo siguiente. - La longitud de onda dentro de la guía de onda es mayor a la longitud de onda en la microstrip-line. - Las dimensiones que se ajustan mejor a la aplicación son w/h= 2 y 3. - Se realizara en el ensayo placas con 2 STUBS o acopladores en cada placa, en lugar de utilizar un solo STUB debido a las dimensiones. - La geometría de la línea acoplada será muy similar a una cruz, y en cada extremo de los STUB se deberán ubicar capacitores cerámicos conectados a tierra para que se cumpla el efecto capacitivo de los STUB. 3.2.1.2.5 Ensayo 4: Se diseña las placas con los STUB que se calculan en el ensayo 3. El efecto de los STUB paralelos es mejorar la característica de S en el circuito que se usará como transductor entre el cable de conector SMA y el Oscilador a diseñar. Como se detallo al final del ensayo 3 la naturaleza de los STUB es capacitiva debido al signo menos en el valor numérico a compensar. El esquemático será similar al de la figura 3.5, concluido esto se procede a realizar el archivo PCB o del diagrama final. Este diagrama PCB es donde se debe realizar las modificaciones a la línea microstrip-line, para este ensayo la figura obtenida será muy similar a un cruz. 122 Figura 3.19: circuitos construidos y medidos con la ayuda del comando CTRL-M. Se observa en la figura 3.19 el diseño final del circuito, los dos circuitos que tienen un enmallado de color rojo serán los que se construyan. Estos circuitos están diseñados con los compensadores que tienen las siguientes medidas, los valores de los compensadores son los de la tabla 3.8: Tabla 3.8 DIMENCIONES DE ACOPLAMIENTOS CALCULADOS w acopl 0 acopl 0,25 acopl 0 mm acopl0,25mm acopl mils acopl mils,2 2 0,046 0,296 1,193 7,678 46,976 302,284 3 0,034 0,284 0,869 7,261 34,227 285,896 En la tabla 3.8 se presentan valores en milímetros, y en milésimas de pulgadas Los valores que se utilizan son los acoplamientos a 0,25 de la carta de SMITH, debido a que se trabajará en una estructura simétrica con dos STUB, uno a cada lado. 123 Los capacitores son de un valor de 47 pF y las resistencias en las placas son de 47 ohms. De ser el caso si no encontramos capacitores del valor recomendado se puede utilizar algún capacitor de un valor un poco menor. Los capacitores se utilizan en los extremos de los STUB y el plano de tierra; esto representará un corto circuito en RF para que funcionen los acopladores, figura 3.20. Figura 3.20: comportamiento del capacitor en DC y RF(9) De la misma forma la resistencia va conectada al extremo opuesto de los STUB, como en la figura 3.21. El objetivo de la resistencia de 47 ohm es emular la carga que tendrá el circuito del oscilador que se diseñará, los STUB son para mejorar la característica de VSWR. Figura 3.21: placa construida con los STUB y resistencias; dimensiones comparadas con una moneda Una vez concluido el montaje del circuito, se conecta el cable de conector SMA, como el de la figura 3.7, al lado opuesto a la resistencia. Realizado esto procedemos a repetir el procedimiento del ensayo dos obteniendo los siguientes resultados de la tabla 3.9: 124 Tabla 3.9 w/h S 2 1,7 3 1,45 De lo experimentado en el laboratorio y luego de analizar los resultados, se concluye que: - El circuito diseñado en w/h=3 presenta mejores características del diseñado en w/h=2. - Esto ocurrió debido al procedimiento de construcción en especial el proceso de soldadura. - Se realizará el circuito para el oscilador en base a las relaciones de λ / 4 ; usando las dimensiones de w/h=3. Figura 3.22: Relaciones de λg / 4 para Vmax y Vmin.(3) La figura 3.22 representa la relación de λg / 4 , como se observa en el gráfico a λg / 4 se tiene un Vmin y a 2λg / 4 se tiene un Vmax. Para este caso λg ≈ λeff . 3.2.1.2.6 Ensayo5: Para este ensayo se utilizará las dimensiones de w/h=3 para la parte de respuesta en RF (radio frecuencia) además acoplada con 2 STUB de las dimensiones descritas en el anterior ensayo y con una longitud de onda sobre el GML1000 de nλ / 2 , donde n puede ser 1,2,3,4… 125 Cabe señalar que para la parte de DC (polarización), se utilizará una línea acoplada a unos 20 ohmios encontrada en la figura 1.25: Aproximadamente esto se encuentra en una relación w/h=10, con este dato se analiza el valor de longitud del circuito que será múltiplo impar de λ / 4 1,3,5,7, etc. En el diseño realizado se debe también conectar a tierra el plano sobrante del circuito con una separación apropiada y también se conectará a la parte inferior de la placa mediante OROPEL de un espesor de 1 milésimo de pulgada. 126 Figura 3.23: esquemático de los circuitos del oscilador a construir. Figura 3.24: circuitos del oscilador en PCB. En la figura 3.23 se observa los elementos que conformarán los circuitos a diseñar, básicamente son los mismos elementos de los ensayos anteriores. 127 La figura 3.24 muestra que aunque los elementos son los mismos, la distribución de las líneas microstrip-line es diferente debido a los acopladores que forman una cruz con la línea de w/h=3 y la línea de alimentación en la mas gruesa que aparece como base. El OROPEL, que es utilizado para rectificación de partes mecánicas, se usa recortando láminas de 5cm por 4mm, las cuales se usarán para soldar recubriendo los dos planos de las placas para tener un plano de tierra a los dos lados. Los valores de las dimensiones se presentan en la tabla 3.10 a la tabla 3.13: Tabla 3.10 w/h permitividad onda efectiva 30 mm 3 2,447 19,177 10 2,674 18,345 Tabla 3.11 DIMENCIONES DE ACOPLAMIENTOS CALCULADOS w/h acopl 0 3 Acopl 0,25 0,034 acopl 0 mm 0,284 acopl0,25mm 0,869 acopl mils 7,261 34,227 acopl mils,2 285,896 Tabla 3.12 w/h = 3; nλ / 2 con n=2 w/h λ3 en mm λ en mils 3 19,177 755 Tabla 3.13 w/h=10; mλ / 4 con m=3 w/h 3λ10 / 4 en mm λ en mils 10 13,758 541,7 Completo el circuito se llego a una estructura de 5cm por 5cm como el mostrado en la figura 3.25. 128 Figura 3.25: Circuito1 construido. Para efecto de conectar el diodo GUNN sobre el sustrato se construyó una pieza metálica con un tornillo para ajustar al GUNN. Figura 3.26: pieza metálica (izquierda) frontal, (centro) lateral y (derecha) posterior. Al realizar las mediciones no se obtuvo resultados favorables por lo que se uso capacitores cerámicos y en chip; además de un trimer para eventuales ajustes de acoplamiento y sintonia. Esto se puede observar en la figura 3.27, la flecha marcada sobre la figura muestra como se acopla el trimer en el circuito obtenido. Figura 3.27: circuito 2 con un trimer y capacitores cerámicos. 129 Se construyó una caja con baquelita de doble lado para poder aislar al circuito de interferencias, además de que se espera que la energía se concentre dentro de la caja, por lo que se soldó directamente la placa dentro de la caja construida. . Figura 3.28: Caja con baquelita de doble lado. Construida la caja se perfora dos agujeros para atravesar los cables de DC y otro para RF; el cable de conector SMA se usa para RF y un cable con conector BNC tipo macho rg59 para DC. Figura 3.29: conector BNC RG59 tipo macho. Al circuito construido en la placa se suelda 4 capacitores; 2 para los STUB, uno para DC y otro para RF como se puede observar en la figura 3.28 de la izquierda. Los capacitores de los STUB se los justifico en el ensayo anterior, para DC se coloca un capacitor en los puntos de alimentación entre el positivo y tierra; para RF es necesario un capacitor en un extremo conectado a la línea con los STUB y el otro extremo al conductor externo del cable con conector SMA aislado en un punto intermedio que sobra en la placa en el lugar del conector SMA. 130 Para conectar el diodo sin problemas se realizó perforaciones en el circuito y en el plano de tierra de tal forma que una pieza metálica que ajuste mediante un tornillo la placa con el diodo como se muestra en la figura 3.28. Conectado esto se suelda la placa a la caja y también una tapa de baquelita que cubre todo el circuito. Se conectan los cables de alimentación de DC a la fuente Gunn y el cable de RF se conecta mediante el acoplador de SMA a guía de onda. Utilizando el equipo de laboratorio se prueba el circuito sin obtener los resultados esperados y con el problema que los diodos utilizados no están trabajando, por lo que se usará un circuito de “guía de onda con acoplamiento coaxial de alimentación”, para comprobar el estado de los diodos e identificar una frecuencia de trabajo apropiada o más óptima con una respuesta apreciable en potencia. El montaje del equipo de laboratorio a utilizarse se muestra en la figura 3.30. Figura 3.30: Montaje del equipo de laboratorio a utilizarse. 3.2.1.2.7 Ensayo 6: Con los resultados obtenidos en la sección 3.2.2 se obtuvo datos importantes que son utilizados para la construcción de una nueva placa. La frecuencia del diseño anteriormente era de 10 GHz. Con los resultados obtenidos con los diodos GUNN y la guía de onda se realizó la siguiente tabla 3.14. 131 Tabla 3.14 frecuencia P mod mW P sin mod mW 8,683 1,78 3,3 8,657 1,5 3,2 8,687 1,9 4,2 8,676 Promedio 8,676 GHz Con este dato se encuentra una nueva longitud de onda de 34,58 milímetros, además de las longitudes de onda para w/h 3 y 10. Estos valores se muestran en la tabla 3.15. Tabla 3.15 w/h ε eff Longitud efectiva mm Longitud efectiva mils 3 2,447 22,104 870,27 10 2,674 21,145 832,52 Los STUB diseñados también cambiaron en sus valores sus nuevas medidas se presentan en la tabla 3.16. Tabla 3.16 w/h Compensadores En mm En mils 3 0,284 5,446 247,16 Siguiendo el procedimiento del ENSAYO 5 se hallan las longitudes de las líneas de w/h 3 y 10, los valores de las longitudes presentadas en la tabla 3.17 se justifican en el ensayo anterior. Tabla 3.17 w/h Longitud en mm Longitud en mils 3 21,145 832,52 10 15,859 624,39 Con los datos obtenidos se realizan los circuitos siguiendo el procedimiento de los anteriores ensayos. 132 Una vez terminado el circuito se conectan los cables y en lugar de utilizar capacitores de chip se utilizan capacitores cerámicos de 33pF. El circuito terminado se lo puede observar en la figura 3.31. Figura 3.31 circuito terminado y comparación de sus dimensiones con una moneda Se realizó las medidas necesarias sin cambiar de posición el trimer obteniéndose resultados con los diodos P1 y P2; también se realizo pruebas variando la posición del trimer. Se tiene cuatro posiciones diferentes con el trimer, evaluando los resultados más elevados se presentan en la tabla 3.18, conjuntamente con los valores iniciales. Se puede apreciar en los valores que si existe una variación de la potencia generada por el diodo, por lo que podemos concluir que se pudo obtener una oscilación pero con una potencia muy baja. La respuesta del diodo P2 es mejor que el diodo P1. Las posiciones del trimer serán: superior, derecha, izquierda e inferior. Se puede observar que las mayores variaciones se presentan en la mitad de la circunferencia del trimer. Tabla 3.18 P1 P2 Sin mover trimer 6 µW 9 µW Moviendo trimer 5 µW 12 µW 133 3.2.1.2.8 Ensayo7: Con el objetivo de optimizar las dimensiones del circuito microstrip-line, se realizara una nueva placa como la de la figura 3.31. Las dimensiones de las líneas son L (distancia encontrada como ¾ de la longitud de onda), L-1 milímetro, L+1 milímetro y L+2 milímetros. Para la construcción del circuito se siguió el procedimiento realizado en los ensayos anteriores, para la conexión de cada línea L se utilizo unas pequeñas tiras de OROPEL tratando de que las dimensiones fueran lo mas exactas posibles para unir la línea acoplada a la línea de alimentación. En la figura 3.32 mas detalladamente se observa del lado izquierdo (flecha azul) el circuito que se ha estado utilizando para los ensayos anteriores. En el centro de la figura se observa un circuito cuya polarización tiene una dimensión de λ / 4 , (flecha roja) este circuito no se a implementado. A la derecha se observa el circuito que se implementa en este ensayo (flecha amarilla), las dimensiones están en orden de izquierda a derecha L-1, L, L+1, L+2. Figura 3.32: Circuitos diseñados. 134 Los resultados obtenidos se realizaron solo con el diodo P2 y fueron los siguientes: Tabla 3.19 Diodo P2 L-1 mm L mm L+1 mm L+2 mm 32 µW 82 µW 6 µW 21 µW Se pudo obtener valores interesantes en las dimensiones L-1 y L; al final de realizar las pruebas con todas las líneas L, se repitió las medidas pero no se obtuvo los mismos resultados previos. Los valores obtenidos para la distancia L que es el valor mas elevado en una prueba posterior fueron 26 µW . Finalmente se realizo una prueba con dos circuitos armados, el primero con una distancia de L-3 y otro circuito con una distancia L, en los cuales se tuvo presente utilizar la menor cantidad de soldaduras y realizar las pruebas con dos diodos P2 y P3 con resultados bastante favorables a comparación de los resultados iniciales. Vale la pena aclarar que L es la distancia de acoplamiento de DC. Tabla 3.20: Valores medidos para L-3 Diodo Potencia Frecuencia P2 520 µ W 9,864 GHz P2 210 µ W 9,981 GHz P3 320 µ W 9,865 GHz P3 380 µ W 9,989 GHz Estos valores fueron medidos variando la ubicación de la tapa de los circuitos, por lo que se puede observar que la posición de la placa varía la operación del circuito, además que las dimensiones se puede observar que trabaja entre los 9,864 GHz y 9,989 GHz. 135 Tabla 3.21: Valores medidos para L Diodo Potencia Frecuencia P2 120 µ W 9,412 GHz P2 130 µ W 9,426 GHz P3 120 µ W 9,388 GHz P3 110 µ W 9,404 GHz Se producen resultados bastante aceptables pero no tan buenos como los de la tabla 3.21 se puede justificar esto debido a las dimensiones de las paredes del circuito construido. Resulta apreciable que para L las frecuencias de operación están entre 9,388GHz y 9,426GHz. Lo cual nos da como conclusión que estos circuitos requieren de una gran precisión, el efecto de realizar sueldas sucesivas sobre el circuito y la estructura final del circuito vario las características físicas, lo cuál puede ser una causa de no poder obtener los resultados iniciales. 3.2.2 CIRCUITO DE CAVIDAD RESONANTE MEDIANTE GUÍA DE ONDA RECTANGULAR CON ACOPLAMIENTO COAXIAL DE ALIMENTACIÓN Se realizan pruebas con el circuito de la siguiente figura 3.33: Figura 3.33: circuito 3 de comprobación, guía de onda rectangular con acoplamiento coaxial de alimentación. 136 Para poder tener este circuito se tuvo que acoplar: - guía de onda rectangular con tornillos de sintonía y acoplamiento coaxial de alimentación - embolo para simular un corto circuito - tronillo milimétrico, rodelas, masilla epóxica rally, bocin - Figura 3.34: circuito3 desarmado,(no incluye bocin ni rodelas), y un calibrador. 3.2.2.1 Guía de onda y sus partes: Esta parte del circuito consta de una guía de onda, tres tronillos de sintonización y el acoplador coaxial que consta de un conector rg59 hembra, un resorte y un embolo. Figura 3.35 guía de onda, tornillo, acoplador coaxial de alimentación. 137 Aunque en la foto no se observa el resorte, este cumple una función muy importante en el circuito, para DC el resorte es un circuito cerrado y en RF este funciona como un circuito abierto debido a que es una inductancia. Figura 3.36 Respuesta del inductores en DC y en RF(9) La ubicación del resorte es entre el extremo interno del conector bnc y el extremo superior del embolo, este embolo se lo puede observar en la figura 3.37 incluido el resorte que no se observa en la figura anterior. Figura 3.37: embolo interno al acoplador coaxial con un resorte. Como se puede observar en la figura 3.37 el émbolo tiene una estructura modificada la cual va a formar parte de la sección interna del acoplador coaxial, esta estructura esta formada por tres secciones de un cuarto de longitud de onda, la primera y tercera sección más gruesa que la segunda sección. El objetivo de la estructura es cumplir con un aislamiento total en DC por lo que se debe barnizar a este émbolo en las tres secciones, exceptuando la parte inferior de la sección pues esta parte se debe poner en contacto con el ánodo del diodo Gunn y una pequeña extensión del émbolo donde se acopla un resorte que hace las veces de un inductor, con las características ya explicadas anteriormente. Si esta estructura fuese planar sería muy semejante a un filtro pasa bajos, pero el objetivo del émbolo no es trabajar en esta aplicación. 138 La estructura también resulta muy similar a un tipo de antena utilizada para aplicaciones móviles, específicamente aplicaciones vehiculares, conocida como ‘antena sleeve’, esta antena se presenta en la figura 3.38. Figura 3.38: Antena Sleeve para aplicaciones vehiculares. La diferencia con esta estructura es que la antena es una estructura similar a un coaxial o, como su nombre lo indica, una manga y además existe un segmento extra de un cuarto de longitud de onda. Puede ser de interés para la aplicación del émbolo que este tipo de estructura de un cuarto de longitud de onda tiene su equivalente de circuitos resonantes o circuito tanque. En el caso del acoplamiento de RF para el émbolo se espera que esta estructura trabaje como un corto circuito efectivo con el siguiente circuito equivalente de la figura 3.39 con las condiciones ZL 〉〉 Zo2 〉〉 Zo1. ZL Zo1 Zo2 Zo1 Zin λ/4 λ/4 λ/4 Figura 3.39: Circuito equivalente de émbolo de DC 139 La ecuación al utilizar la teoría de las líneas de transmisión, da como resultado que la impedancia de entrada es aproximadamente cero. 4 Z o1 Z in = ≈0 2 Zo2 Z L (3.2) Analizando la ecuación 3.2 y asignando numéricamente ZL=100Zo2=10000Zo1 que resulta de cumplir con la condición ZL 〉〉 Zo2 〉〉 Zo1, se puede obtener lo siguiente. Z in = Z L10 −8 ≈ 0 (3.3) 3.2.2.2 Embolo de cortocircuito: El embolo esta construido en bronce y con unas aletas de bronce platinado como se muestra en la figura 3.39, esta construido de tal forma que entra sin dificultad en el centro de la guía de onda. Este embolo tiene un orificio en la parte frontal como se observa en la figura 3.23 de la izquierda, esto sirve para colocar el eje del tornillo milimétrico unido al embolo. Figura 3.40: Diferentes vistas del embolo. 3.2.2.3 Tornillo milimétrico, rodelas, bocin y masilla epóxica rally: Todos los elementos deben estar acoplados de tal manera que se puedan unir a la guía de onda y el embolo. 140 Primero al bocin se le debe dar la forma de una placa que cubra la guía de onda, que tenga un orificio por el que pueda pasar el eje del tornillo milimétrico. Segundo se debe colocar dos rodelas en el tornillo milimétrico pegadas con masilla epóxica rally de tal forma que quede como en la figura 3.32. Finalmente se coloca el eje del tornillo al embolo usando pega borden extra (brujita) y se suelda toda la estructura a la guía de onda. Figura 3.41: Circuito armado y materiales usados. Figura 3.42: Circuito armado vista lateral. 3.2.2.4 Pruebas con el circuito: Se utiliza la misma estructura de los equipos de laboratorio usados para realizar las medidas del circuito microstrip-line y se añaden una guía de onda como extensión para conectar el circuito de guía de onda rectangular con acoplador coaxial. 141 El primer diodos GUNN utilizado no funcionó, se concluye que este diodo esta quemado. El segundo y tercer diodo funcionan por lo que se realizaran medidas con estos dos diodos. Los valores obtenidos en este procedimiento por el segundo diodo GUNN se presentan a continuación en la tabla 3.22. Tabla 3.22 Voltaje v Corriente mA Tornillo 22.38 Frecuencia Pot. Mod. Pot. Sin Mod. GHz mW mW 8,328 0,9 8,329 0,5 0,75 8,326 0,57 0,67 8,542 1,05 2 6.8 150 10 120 10 140 10,2 125 10,2 125 20,865 8,657 1,5 3,2 10,2 125 18 8,826 1,1 2,05 10,2 125 17 8,971 0,7 1,38 10,2 125 16 9,128 0,45 0,6 10,2 125 15 9,279 0,217 0,245 10,2 125 14,5 9,349 0,28 0,345 10,2 125 14 9,419 0,11 0,16 10,2 125 13,5 9,478 0,18 0,24 10,2 125 13 9,533 0,06 0,085 10,2 125 12,5 - - - *10,2 140 14,5 9,562 0,02 0,05 *10,2 125 14,5 9,552 0,03 0,07 *10,2 125 19 8,913 0,83 1,77 *10,2 125 20 8,683 1,78 3,3 23.88 142 Los valores en la tabla se los obtuvo en un periodo de dos horas de prueba trabajando con el mismo diodo, los valores en blanco en la tabla son datos que no se los anoto al momento de la prueba. Los valores que tienen – representan el punto en que ya se pierde totalmente las oscilaciones. Los valores que tienen * solas medidas que se tomaron a la hora y cuarenta minutos de estar trabajando. Se puede observar que la frecuencia de trabajo con mayor eficiencia de potencia está entre 8,657 GHz y 8,683 GHz. Respuesta Diodo P1 3,5 3 mW 2,5 2 Potencia con Modulación 1,5 Potencia sin Modulación 1 0,5 0 8 8,5 9 9,5 10 GHz Figura 3.43: Respuesta Diodo P1. Este dato es muy importante debido a que con este valor de frecuencia se puede realizar un re-diseño de la frecuencia de operación de la tecnología microstrip-line. Se pudo obtener lecturas de potencia y una señal en el osciloscopio hasta los 12,5 mm este será el punto hasta el cual puede variar el tornillo milimétrico para que este diodo este trabajando. Hay que tener en cuenta que estas medidas realizadas son REFERENCIALES, es decir el embolo interno del acoplador direccional y el estado de los tornillos de 143 ajuste están calibrados para poder observar en el osciloscopio como varia la señal cuadrada de la fuente del diodo gunn. El procedimiento es el mismo, pero esta vez se realizaran las medidas cada 0,5 milímetros del tornillo acoplado a la guía de onda rectangular. Para el tercer diodo se realizaron las medidas durante dos horas con los resultados de la siguiente tabla 3.23. Tabla 3.23 Voltaje v Corriente mA Tornillo Frecuencia Pot. Mod. Pot. Sin Mod. GHz mW mW 10,1 125 25 8,140 0,6 0,95 10,1 125 24,5 8,140 0,6 0,99 10,1 125 24 8,140 0,6 0,99 10,1 125 23,5 8,176 0,79 1,3 10,1 125 23 8,233 0,3 0,58 10,1 125 22,5 8,278 0,4 0,8 10,1 125 22 8,329 0,7 1,3 10,1 125 21,5 8,381 0,6 1,15 10,1 125 21 8,435 0,8 1,5 10,1 125 20,5 8,505 0,7 1,4 10,1 125 20 8,566 0,5 1,1 10,1 125 19,5 8,616 1,2 2,6 10,1 125 19 8,678 1,9 4,2 10,1 125 18,5 8,764 1,2 2,8 10,1 125 18 8,833 0,9 2,35 10,1 125 17,5 8,915 0,8 2,3 10,1 125 17 8,996 0,75 1,5 10,1 125 16,5 9,084 0,6 0,9 10,1 125 16 9,171 0,4 0,45 10,1 125 15,5 9,261 0,41 0,46 144 10,1 125 15 9,360 0,65 0,85 10,1 125 14,5 9,458 0,78 1,2 10,1 125 14 9,569 0,92 1,4 10,1 125 13,5 9,674 1 2 10,1 125 13 9,789 0,7 1,38 10,1 125 12,5 9,914 3,5 6,9 10,1 125 12 10,029 0,6 1,19 10,1 125 11,5 - 1 1,9 10,1 125 11 10,289 0,62 1,35 ´10,1 125 10,5 10,428 0,35 0,65 ´10,1 125 10 10,557 0,6 1,05 ´10,1 125 9,5 10,650 0,45 0,7 ´10,1 125 9 10,820 0,6 0,83 ´10,1 125 8,5 10,884 0,55 0,8 ´10,1 125 8 10,945 0,8 1,4 ´10,1 125 7,5 10,998 0,57 0,96 ´10,1 125 7 11,036 0,49 0,85 ´10,1 125 6,5 11,114 0,8 1,7 ´10,1 125 6 11,151 0,75 1,45 ´10,1 125 5,5 11,190 0,45 0,89 ´10,1 125 5 11,213 0,41 0,78 ´10,1 125 4,5 11,226 0,41 0,8 ´10,1 125 4 11,238 0,45 0,85 ´10,1 125 3,5 11,249 0,49 0,9 ´10,1 125 3 11,254 0,49 0,92 ´10,1 125 2,5 11,228 0,35 0,68 ´10,1 125 2,03 11,430 0,8 1,52 En los resultados obtenidos se puede observar que se presentan valores de potencia elevados en los 8,678 GHz (casi similares que en el otro diodo GUNN), y en 9,914 GHz. 145 mW Respuesta Diodo P2 8 7 6 5 4 3 2 1 0 Potencia con Modulación Potencia sin Modulación 8 9 10 11 12 GHz Figura 3.44: Respuesta Diodo P2. En este valor de 9,914 GHz se aprecia un valor de potencia muy superior al obtenido en el segundo diodo GUNN. Se presento el caso en el cuál no se pudo observar en el osciloscopio ninguna onda, a un valor de 11,5 mm en el tornillo acoplado a la guía de onda rectangular. El acoplamiento del tornillo tiene un juego entre las dos rodelas ubicadas en el tornillo, para valores menores a 11 el juego presente en las rodelas se disminuyo al lado de la rodela externa, estos valores se los identifica anteponiendo “ ´ “. Finalmente en tornillo milimétrico solo avanzo hasta la medida de 2,03 mm; este sería el extremo que se puede llegar con el embolo dentro de la guía de onda, el otro extremo será 25 mm, y en el tornillo existe un juego de aproximadamente 10 mm entre las rodelas. Se presenta además la figura de un tercer diodo que se utilizará mas adelante. Observando todas las figuras de la respuesta de los diodos se puede llegar a la conclusión q la respuesta de todos los diodos presenta respuestas de potencia muy interesante por debajo de los 10 GHz. Existe cierta zona en la que todos los diodos tienen una respuesta de potencia entre los 8 y 9 GHz. 146 mW Respuesta Diodo P3 7 6 5 4 3 2 1 Figura 3.45: Respuesta Diodo P3. 3.2.3 CIRCUITO DE CAVIDAD RE-ENTRANTE: Existen dos tipos de circuitos de Cavidades Re-entrantes, la cavidad re-entrante coaxial y la cavidad re-entrante radial. 3.2.3.1 Circuito de Cavidad Re-entrante Coaxial: La figura 1.32 muestra como es la estructura de la cavidad reentrante coaxial. Las dimensiones obtenidas se encuentran en centímetros, las mismas se obtuvieron relacionando las dimensiones con la impedancia característica que se desea tener, los valores numéricos se presentan en la tabla 2.12. 147 En cm. Z0 = 40 Z0 = 50 Z0 = 60 Z0 = 70 Z0 = 75 a 0,6 0,5 0,5 0,4 0,4 b 1,168 1,15 1,359 1,284 1,396 d 0,25 0,25 0,25 0,25 0,25 l 0,22 0,248 0,212 0,271 0,256 L 0,633 nH 0,911 nH 0,911 nH 1,424 nH 1,424 nH cg 0,4 pF 0,277 pF 0,277 pF 0,177 pF 0,177 pF Con esta tabla se puede tener una idea de las dimensiones que la cavidad reentrante coaxial, y se puede ajustar las medidas, según la característica de impedancia que se requiera. Los valores su pueden obtener mediante el uso de una hoja de calculo en EXCEL, ingresando cada una de las ecuaciones que se desarrollaron en el capitulo2. Se debe tomar en cuenta que la frecuencia utilizada para obtener los valores en la tabla 2.12 es de 10GHz. Con las pruebas realizadas en la sección 3.2.3.3 y mediante la tabulación de las frecuencias de oscilación obtenidas en la tabla 3.14, se observo que el desempeño de los diodos utilizados hasta el momento tiene una característica muy aceptable a la frecuencia de 8,676 GHz. Debido a lo anterior se realizó un re-calculo de las dimensiones a utilizar y se pude ajustar a una valor intermedio de impedancia, dependiendo de lo requerido. Para realizar esto se utilizó la ecuación 2.22. b 2πf d 120 ln tan l= a c 2πfε 0πa 2 (2.22) 148 Donde: c = 3*1010 cm/s, f = 8,676*109 Hz, ε 0 = 10 −11 36π Reemplazando los valores en la ecuación 2.22 obtenemos: b 120 ln tan a 8676 *109 1000 l= 3 *1010 2π * d 8676 10 −11 2 2π * *109 πa 1000 36π (3.4) Simplificando la ecuación 3.4 se obtiene: b 120 ln tan a 8676 *109 1000 l= 3 *1010 2π * d 8676 10 −11 2 2π * *109 πa 1000 36π (3.5) Los valores de a, b, l son en centímetro y como resultado de simplificar lo anterior obtenemos: 723 b 723π d ln tan l= 2 1250 a 1250 πa (3.6) 1250d 723π βl = l = arctan 1250 723πa 2 ln b a (3.7) 1250d 1250 * l = arctan 723πa 2 ln b 723π a (3.8) Variando los valores de a, b y d se puede obtener el valor de l, se realizara una nueva tabla. Estos valores son apropiados para realizar los acoplamientos que necesitamos en el circuito, los mismos que se detallarán mas adelante. 149 Con los valores de la tabla 2.12 podemos asumir el valor más apropiado de la impedancia como Z=50 ohm. Tabla 3.24 d en cm a en cm 0,25 0,1 0,25 0,2 0,25 0,3 0,25 0,4 0,25 0,5 0,25 0,6 0,25 0,7 0,25 0,8 0,25 0,9 0,25 1 β l radianes β l grados 1,510 1,333 1,071 0,801 0,583 0,430 0,325 0,252 0,201 0,163 86,533 76,381 61,404 45,899 33,441 24,637 18,621 14,465 11,521 9,375 l en cm b en cm L en Henrios Cg en Faradios 0,831 0,23 3,028E-08 1,111E-14 0,733 0,46 7,571E-09 4,444E-14 0,589 0,69 3,365E-09 1E-13 0,441 0,92 1,892E-09 1,777E-13 0,321 1,15 1,211E-09 2,777E-13 0,236 1,38 8,413E-10 4E-13 0,178 1,61 6,181E-10 5,444E-13 0,138 1,84 4,732E-10 7,111E-13 0,111 2,07 3,739E-10 9E-13 0,090 2,3 3,028E-10 1,111E-12 Los valores subrayados en la tabla 3.24, son los escogidos. Pero se puede observar que el valor de ‘l’ es inferior a medio centímetro. Para poder tener una media apreciable en las dimensiones de la cavidad coaxial se puede aumentar la dimensión de ‘l’ utilizando la relación de λg / 4 para un Vmáx que resulta en aumentar 2λg / 4 a la dimensión que necesitamos, en esta caso particular λg = λ0 que corresponde a la longitud de onda en el vacío a una frecuencia de 8,676 GHz. 2λ0 3 *1010 = = 1,728cm 4 2 * 8,676 *109 l' = l + 2λ0 = 2,05cm 4 (3.9) (3.10) Las dimensiones finales del circuito serán las mostradas en la tabla 3.25. Tabla 3.25 d en cm a en cm l en cm b en cm 0,25 0,5 2,05 1,15 Es de suma importancia conocer como se distribuyen los campos Eléctrico ‘E’ y Magnético ‘H’, debido a que el acoplamiento para RF se debe ubicar en el punto 150 donde exista el máximo campo H. Se puede observar en la figura 3.46 la distribución de los campos E y H para una estructura coaxial. Figura 3.46: Distribución de los Campos E y H en estructura coaxial(4) Se pueden tener dos alternativas de cómo realizar la construcción de la Cavidad Reentrante Coaxial. A continuación se presentan las estructuras en AUTOCAD para tener una idea de cómo son las partes del circuito para cada alternativa. 3.2.3.1.1 Alternativa 1 Circuito de Cavidad Re-entrante Coaxial: Esta alternativa de construcción consta de dos tapas, una de ellas esta diseñada para poder alimentar al circuito con DC a la que se llamara Tapa superior. Para la alimentación de DC se utiliza el mismo tipo de circuito de alimentación utilizado en la guía rectangular. Figura 3.47: Tapa superior para alimentación DC 151 Para la tapa inferior se deberá realizar un agujero para el acoplamiento de RF como se muestra en la figura 3.48: Figura 3.48: Tapa inferior para acoplamiento de RF Las dos tapas deben estar ubicadas dentro de un cilindro hueco, el mismo donde el diámetro interior sea la medida de ‘2b’. La altura del cilindro hueco se puede construir un poco mayor debido a que debe existir un cierto margen para que las tapas se puedan acoplar al cilindro. La altura será h: h = 2l + d = 4,35cm (3.8) Figura 3.49: cilindro hueco que contendrá las dos tapas. 152 3.2.3.1.2 Alternativa 2 Circuito de Cavidad Re-entrante Coaxial: Este circuito se puede construir sobre dos piezas metálicas, la complejidad de construcción de estas piezas es mucho mayor que las de la primera alternativa. Para la alimentación de DC se utiliza el mismo tipo de circuito de alimentación utilizado en la guía rectangular. La primera pieza deberá estar formada por la parte de alimentación de DC. Con el objetivo de poder acoplar las dos piezas se debe hacer una rosca en una pieza y en otra se debe hacer un tornillo. Figura 3.50: Pieza acoplada para la alimentación de DC. Para la pieza faltante se deberá realizar un agujero para el acoplamiento de RF como en la otra alternativa. Figura 3.51: Pieza acoplada para RF 153 Estas dos piezas se unen como ya se explico en anteriores párrafos, como una tuerca y un tornillo. A continuación se expondrán los detalles del acoplamiento de RF. 3.2.3.1.3 Acoplamiento de RF: Para poder realizar el acoplamiento de RF se revisará un poco de la teoría de cómo excitar una guía de onda y como extraer energía de la misma. Cabe aclarar que nuestro circuito no es una guía de onda en una cavidad Reentrante coaxial pero se puede emplear alguno de los métodos que se detallan a continuación. Métodos para excitar y extraer energía de guías de onda Un guía de onda, opera diferentemente de una línea de la transmisión ordinaria, por tanto, deben usarse dispositivos especiales para colocar (excitar) la energía en un extremo y sacarlo (extraer) del otro extremo. Los tres dispositivos que excitan o sacan energía de la guía de onda son: SONDAS, LAZOS y ABERTURAS o VENTANAS. Cuando una sonda pequeña se inserta en una guía de onda provee la energía microonda, actuando como una antena de un cuarto de longitud de onda. El lugar más eficaz para localizar la sonda está en el centro de la pared "a", paralelo a la pared "b", y un cuarto de longitud de onda del extremo puesto en cortocircuito de la guía de onda, como es mostrado en figura 3.52, y figura 3.53. 154 Figura 3.52: Ubicación de una sonda acoplada para Guía Rectangular(9) Figura 3.53: Ubicación de una sonda acoplada para Guía Rectangular(9) Este es el punto en que el campo E es máximo en el modo dominante, por tanto, la energía transferida (acoplada) está al máximo en este lugar. En muchas aplicaciones un grado menor de energía transferida, llamado acoplamiento flojo, es deseable. La cantidad de energía transferida puede reducirse disminuyendo la longitud de la sonda, y moviéndoselo del centro del campo de E, o rodeándolo; otra forma de hacer variar el grado de acoplamiento, es fabricando una sonda retráctil para que la longitud pueda cambiarse fácilmente. El tamaño y forma de la sonda determinan su frecuencia, ancho de banda, y capacidad del acoplamiento de potencia, si el diámetro de una sonda aumenta, se incrementa el ancho de banda. Una sonda similar con la forma de una perilla de puerta es capaz de manejar mucha mayor energía y un ancho de banda más grande que una sonda convencional. 155 La capacidad de un mayor acoplamiento de potencia se relaciona directamente al área de la superficie del LAZO aumentada. Dos ejemplos de extensión de ancho de banda se ilustran con sondas en la figura 3.54. Figura 3.54: Ubicación de sonda acoplada para Guía Rectangular con variación de diámetro(9) Extraer energía de una guía de onda simplemente es una inversión del proceso inyección que emplea el mismo tipo de sonda. Otra manera de inyectar energía en una guía de onda está inyectando un campo H en la guía. Esto puede lograrse insertando un LAZO pequeño que lleva una corriente alta a la guía de onda, como mostrado en figura 3.55. Figura 3.55: Lazo acoplado en una guía rectangular(9) Una estructura de LAZO cubre las líneas de campo magnéticas dentro de una guía de onda, como se muestra en figura 3.56. 156 Figura 3.56: Lazo acoplado en una guía rectangular(9) Si la frecuencia de la corriente en el LAZO está dentro del ancho de banda de la guía de onda, se transferirá la energía a la guía de onda. Para el acoplamiento más eficaz de la guía de onda, el LAZO se inserta en uno de varios puntos dónde el campo magnético será de máximo o de gran energía. Se muestran cuatro de esos puntos en figura 3.57. Figura 3.57: Varios Lazos acoplado en una guía rectangular(9) Cuando el acoplamiento menos eficaz se desea, usted puede rodar o mover el LAZO hasta que cubra un número más pequeño de líneas de H. Cuando el diámetro del LAZO se aumenta, su capacidad del acoplamiento de potencia también aumenta, el ancho de banda puede incrementarse, aumentando el tamaño del alambre del LAZO. Cuando el LAZO se introduce en una guía de onda en que un campo H está presente, una corriente es inducido en el LAZO, cuando esta condición existe, se remueve la energía de la guía de onda. 157 A veces se usan ABERTURAS O VENTANAS cuando se desea un acoplamiento flojo (ineficaz), como se muestra en figura 3.58. Figura 3.58: Abertura o Ventana acoplado en una guía rectangular(9) Para este circuito será útil usar el LAZO para poder extraer algo de energía de campo H para poder realizar una medición de potencia con el instrumento de medida. Los conectores y cables a utilizar para la medición se pueden observar en la figura 3.59. Figura 3.59: Conectores y Cables a utilizar En la figura 3.59 se observa un conector SMA que sirve para conectar a un acoplador de guía de onda a SMA y del otro extremo se observa un conector con un lazo construido para acoplar al circuito de la Cavidad Reentrante Coaxial. La parte de DC se alimenta mediante un cable con un conector BNC y este se conecta a el circuito de alimentación en base a un émbolo, resorte y un BNC 158 hembra; este tipo de alimentación ya se estudio en una sección anterior debido a que fue usado para la alimentación DC de la guía de onda rectangular. 3.2.3.1.4 Construcción de alternativa 1 y medidas : Este circuito se observa en la figura 3.60; el material de construcción del circuito es BRONCE FOSFOROSO, se lo consigue en IMPORCOM o cualquier otro distribuidor de material para trabajos metalmecánico. La construcción del circuito la realizó un metalmecánico de precisión. Figura 3.60: Circuito 1 construido. Para poder medir como es la respuesta de este circuito se debe colocar entre las dos tapas el diodo Gunn y mediante los equipos del Laboratorio de Microondas de la Escuela Politécnica Nacional se realizaron las respectivas pruebas de medidas. Se obtuvo los siguientes valores utilizando los diodos Gunn P2 y P3. Lo obtenido se presenta en la tabla 3.26 Tabla 3.26. Diodo Gunn Potencia P2 12 µ W P3 70 µ W 159 Con el objetivo de mejorar la característica de operación referente a la potencia se construyo dos aberturas para conectar 2 tornillos para generar un efecto capacitivo en el circuito y se obtuvo los siguientes resultados. Tabla 3.27. Diodo Gunn Potencia Frecuencia P3 100 µ W 10,395 GHz 3.2.3.1.5 Construcción de alternativa 2 y medidas : Este circuito se observa en la figura 3.61; el material de construcción del circuito es BRONCE FOSFOROSO, se lo consigue en IMPORCOM o cualquier otro distribuidor de material para trabajos metalmecánico. Figura 3.61: Circuito 2 construido. La construcción del circuito la realizó conjuntamente con el otro circuito un metalmecánico de precisión. Para poder medir como es la respuesta de este circuito se debe colocar entre las dos piezas el diodo Gunn y de la misma forma que el anterior circuito, utilizando los equipos del Laboratorio de Microondas de la Escuela Politécnica Nacional se realizaron las respectivas pruebas de medidas. 160 Al momento de la construcción del circuito se quería utilizar el mismo embolo del circuito de la guía de onda rectangular. Lamentablemente el tipo de construcción del circuito presento problemas al momento de construir el bocin para la conexión de DC, debido a esto se construyo dos émbolo y dos bocines para realizar las respectivas pruebas. Iniciamos probando un bocin construido inicialmente, en el primer experimento se realiza mediciones con el embolo construido, se comprobó la ubicación en diferentes posiciones y se pudo obtener las siguientes medidas. Tabla 3.28 Diodo Gunn Voltaje Corriente Medida 1 Medida 2 P1 10,1 V 125 mA 6 µW 10 µW Se contaba con dos diodos para las pruebas P1 y P2 las pruebas que pudieron observarse fueron las realizadas con P1, la Medida 1 se obtuvo en un principio y modificando ligeramente la posición del LAZO de RF se pudo obtener la Medida 2. Para la siguiente prueba se cambio el émbolo y se coloca sobre el mismo circuito los valores obtenido fueron. Tabla 3.29 Diodo Gunn Voltaje Corriente Medida 1 Medida 2 P1 10,1 V 125 mA 24 µW 36 µW Estas medidas se pudieron obtener siguiendo el mismo procedimiento realizado para la medida con el primer émbolo. Se realizó la construcción de un bocin apropiada y se repitió las medidas, obteniendo una medida de 87 µW utilizando el diodo Gunn P2. 161 Se realiza la misma modificación añadiendo dos tornillos que como se explico presentan un efecto capacitivo en el circuito. Los diodos utilizados son P2 y P3 los valores obtenidos se presentan en la tabla 3.30. Tabla 3.30 Diodos Gunn Potencia Frecuencia P2 320 µW 11,143 GHz P3 320 µW 11,138 GHz Se puede observar que la potencia obtenida es bastante aceptable y la frecuencia de operación se encuentra muy elevada comparando la frecuencia que se utilizo para el diseño y la obtenida, esto se puede justificar debido a la ubicación del diodo Gunn dentro de la cavidad y en especial la distancia entre las tapas del circuito. 3.2.3.2 Circuito de Cavidad Re-entrante Radial: Este circuito presenta la estructura de la figura 1.34, mostrada a continuación, y resolviendo las ecuaciones que gobiernan esta estructura se obtuvo los valores de la tabla 2.13. Para fines experimentales en lugar de construir el circuito con las dimensiones descritas en la tabla 2.13, se utiliza el circuito modelo2 de la cavidad reentrante coaxial figura 3.57, la variación que se realizó fue roscar la cara inferior de la cavidad de tal forma que el circuito tenga una estructura similar a la estructura de la figura 1.34. 162 Se utilizo los diodos Gunn P2 y P3 el voltaje de alimentación es 10,1V y 125mA; el circuito tiene un tornillo para calibración. Los resultados se presentan en la tabla. Tabla 3.31 Diodos Gunn Potencia Frecuencia P2 85 µW 10,441 GHz P3 70 µW 10,219 GHz El acoplamiento de RF se lo realizo mediante un lazo y los conectores utilizados son los empleados en la cavidad reentrante coaxial pero con una pequeña modificación. Los conectores se los pueden encontrar en la página www.L-com.com y corresponden a los modelos BAC 0303A y BAC 986, estos conectores se consiguieron gracias al Ingeniero Mario Cevallos. 163 CAPÍTULO 4: CONCLUSIONES Y RECOMENDACIONES 4.1 CONCLUSIONES. Como conclusión general de este trabajo tenemos: - Se pudo conseguir que los circuitos implementados trabajen como Osciladores en el rango de las Microondas, en un rango de frecuencia que corresponde a la banda X, esta frecuencia fue escogida debido a los materiales que se utilizaron y también por los equipos de laboratorio de Microondas con que cuenta la Escuela Politécnica Nacional. - Los resultados obtenidos en lo referente a la potencia generada por los circuitos son comparables al gráfico del capítulo 1 (1.36), es decir la respuesta de potencia con mejores características fue la del circuito de Cavidad Resonante con Guía de onda Rectangular, el nivel de atenuación es menor al de los otros circuitos. Figura 1.36: Atenuación vs Frecuencia para Guías de Onda, Coaxial y Microstrip Line(9) 164 Para trabajar con los diodos Gunn se puede tener en cuenta lo siguiente: - El diodo Gunn al tener una estructura cristalina como parte central es sensible al ajuste, presión y ubicación en cada uno de los circuitos empleados. - En este trabajo se contó con diodos Gunn con un tipo de empaquetamiento, se analizó como acoplar la geometría de este diodo Gunn para cada uno de los circuitos que se presentan en este trabajo. - Para otro trabajo se puede analizar utilizar otro tipo de empaquetamiento del diodo Gunn que resulte más apropiado para un tipo de circuito en específico, cabe señalar que el tipo de empaquetamiento depende de la potencia de trabajo del diodo. - Se solucionó como se puede disipar el calor generado por el diodo debido a la generación de potencia, en cada uno de los circuitos utilizados en el trabajo. Para circuitos microstrip-line se debe concluir que: - La potencia que se puede obtener de este circuito es muy baja en el orden de las decenas hasta unas pocas centenas de micro Watts, refiriéndonos al gráfico 1.36, que se indica anteriormente, el nivel de atenuación en estos circuitos es muy superior al nivel de atenuación de la guía WR-90 en el orden de 400dB/100 pie a la frecuencia de 9GHz. - La ventaja de estos circuitos son las dimensiones que se puede alcanzar con esta tecnología son mucho menores que las dimensiones obtenidas con los otros circuitos. - La utilización de algún tipo de ajuste externo es complicado en este tipo de circuitos debido a que las sueldas realizadas y la propia estructura de los elementos de ajuste pueden variar las características del circuito. Trabajando con circuitos microondas de guía de onda rectangular: 165 -La potencia que se obtiene de estos circuitos es alta en comparación de la potencia obtenida por los otros tipos de circuitos, en el orden de mili Watts. - El método para poder sacar energía de la guía rectangular es mucho mejor que los utilizados en los otros circuitos. Con las Cavidades Reentrantes se toma en cuenta: - La potencia obtenida de estos circuitos es baja y dependen del método a través del cual se saca potencia del circuito de la cavidad. En este proyecto debido a las características del circuito se opto por utilizar un lazo de acoplamiento para este proceso. - Para mejorar las características de potencia en la Cavidad se agrego a la estructura de los circuitos dos tornillos para generar un efecto capacitivo al circuito, con lo que se consiguió medidas apreciables. - Para poder cuantizar el efecto capacitivo en el circuito puede resultar conveniente analizar la superficie efectiva del émbolo de polarización en lugar de la superficie de todo el pistón central de la cavidad. 4.2 RECOMENDACIONES Como recomendación general, al momento de trabajar con los diodos se puede tener en cuenta lo siguiente: - Medir la polarización de las fuentes GUNN, en el laboratorio de Microondas se cuenta con una fuente de diodo GUNN que tiene la polarización inversa. - Se debe trabajar con guantes antiestáticos, sino se cuenta con estos se debe manipular los diodos con todo el cuidado que se pueda o mas práctico se puede conseguir una pulsera antiestática que es mucho más cómodo y fácil de trabajar. 166 - Se pueden encontrar los capacitores chip en equipos celulares antiguos o en caso de no encontrarlos se puede utilizar capacitores cerámicos acortando los pines cuanto sea pasible. - El empaquetamiento del diodo puede variar dependiendo del nivel de potencia que maneje el mismo, puede ser mucho más práctico tener el empaquetamiento del diodo que es muy similar a un tornillo, pero este empaquetamiento incide en un precio mucho mayor del elemento. Para la construcción y trabajo de circuitos microstrip-line se debe considerar que: - Es útil al momento de trabajar con circuitos microondas microstrip-line se debe contar con cajas metálicas de blindaje para evitar interferencias, dispersión de radiación. Las cajas más convenientes pueden ser construidas con baquelitas doble lado. - Se debe ser lo más preciso al momento de soldar algún tipo de elemento o tira de conductor en el circuito debido a que estas sueldas cambian las características propias del circuito. - Al trabajar con frecuencias en el orden de las microondas se debe ser lo más exactos posible al momento de armar y construir los circuitos. - El uso del OROPEL es de gran ayuda para poder tener un buen contacto entre la placa de tierra que generalmente es la inferior y secciones de la parte superior de la placa que se desee aterrizar. - Ciertos materiales utilizados no se pueden encontrar fácilmente pero gracias al Internet se puede acceder a varias tiendas en el exterior que proveen de ciertos materiales como diodos Gunn y sustratos como el GML1000. Trabajando con circuitos microondas de guía de onda rectangular puede ser útil que: 167 - El acoplamiento de tornillos, placas metálicas y otros elementos en la guía rectangular; requieren de una gran precisión en su ubicación, se debe realizar correctamente los cálculos de estas dimensiones. - A más de los diferentes tipos de suelda que se utilizan en metalmecánica, se recomienda utilizar masilla epóxica, pega super borden extra, uhu, para poder acoplar algunas piezas externas a la guía de onda, claro esto siempre y cuando sea necesario. - Todas las partes que se aumentan al circuito de cavidad resonante de guía rectangular, deben preferiblemente estar construidas del mismo material, es decir: tornillos, émbolo de polarización DC, émbolo de corto circuito y guía rectangular deben ser como es el caso del proyecto de BRONCE FORFÓRICO. Con las Cavidades Reentrantes se toma en cuenta las siguientes recomendaciones: - Para la construcción de estos circuitos es necesario realizar unos planos bien desarrollados y acotadas sus medidas, para al momento de adquirir el material necesario para la construcción del circuito no se presenten problemas de que el material no es suficiente. - Es conveniente utilizar el mismo sistema de alimentación de DC empleado para la guía de onda rectangular. - Con el objetivo de mejorar las características del circuito es aconsejable utilizar lija de agua número 250 para corregir imperfecciones o reducir limallas del circuito. - El método para sacar energía del circuito debe ser escogido en base a las dimensiones y características mecánicas del circuito. 168 - Es de gran ayuda probar algunas alternativas para la construcción del circuito con el fin de optimizar y mejor las características del oscilador. - El uso de tornillos capacitivos puede ser conveniente para poder realizar ajustes al circuito del oscilador. 4.3 EJEMPLOS DE POSIBLES APLICACIONES Un oscilador local es el corazón de todos los sistemas de comunicaciones electrónicas, debido a esto existes varias alternativas de aplicaciones del diodo Gunn. 4.3.1 EJEMPLO 1 Vínculos de Microondas con Diodos Gunn en la Banda X (10GHz). ANEXO1 4.3.2 EJEMPLO 2 Sensores de Posición – Ultrasónicos y Radar. ANEXO 2 169 REFERENCIA BIBLIOGRÁFICAS, TABLAS E IMÁGENES (1) PALMA Álvaro, Receptores para Radio Astronomía (2) LIAO Samuel, Microwave Device and Circuits (3) Chang Kai, Rf and Microwave Wireless Systems (4) Circuitos Microondas, www.scibd.com i6906k40az69r7nmwg6.pdf (5) CANO Gomez Gabriel, Tecnologías de Circuitos Integrados de Microondas (6) Proyecto de Fin de Carrera Filtros Interdigitales Microondas, www.scribd.com, PROYECTO%20FINAL%20DE%20CARRERA.pdf (7) ANTENAS: FROM THEORY TO PRACTICE (8) CIRCUITOS OSCILADORES MICROONDAS; S. Pérez, D. Floriot, P.M. Gutiérrez, J. Obregón, S.L. Delage (9) ELECTRONIC WARFARE AND RADAR SYSTEM ENGINEERING HANDBOOK MODULE 11: MICROWAVE PRINCIPES, Navy electricity and electronics training series, NAVEDTRA 14183 (10) MICROWAVE CIRCUITS, L. Jerome, D. van Nostrand Company Inc. England. (11) ANTENNA ENGINEERING HANDBOOK, H. Jasik, McGraw-Hill. (12) WAVEGUIDE HANDBOOK, N. Marcuvitz, Peter Peregrinus Ltda. 1 GUNN, J.B. , Microwave oscillations of current in III-V semiconductors 2 K.KUROKAWA; ‘Some Basic Characteristic of Broadband Negative Resistance Oscillators Circuits’; The Bell System Technical Journal, July 1969. 3 CEVALLOS M.; Oscilador de Microondas con Diodo Gunn y Varactor; XXI JIEE Anales Noviembre 2007. ANEXOS ANEXO 1 Vínculos de Microondas con Diodos Gunn en la Banda X (10GHz). ANEXO 2 Sensores de Posición – Ultrasónicos y Radar